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詳細(xì)介紹
| 有很多用戶購(gòu)買了E5071C 網(wǎng)絡(luò)分析儀 以后，有很多應(yīng)用工程師不熟悉測(cè)試方法，深圳市廣凱訊通信技術(shù)有限公司針對(duì)這類客戶，列出了下列的一些測(cè)試方案，希望能幫到大家。 以下是E5071C的操作方法和E5071C的一些配件選件！ 一．面板上常使用按鍵功能大概介紹如下： Meas 打開(kāi)后顯示有：S11 S21 S12 S22 （S11 S22為反射，S21 S12 為傳輸）注意：駐波比和回波損耗在反射功能測(cè)試，也就是說(shuō)在S11或者S22里面測(cè)試。 Format 打開(kāi)后顯示有：Log Mag------SWR-------里面有很多測(cè)試功能，如上這兩種是我們常用到的，Log Mag為回波損耗測(cè)試，SWR 為駐波比測(cè)試。 Display打開(kāi)后顯示有:Num of Traces (此功能可以打開(kāi)多條測(cè)試線進(jìn)行同時(shí)測(cè)試多項(xiàng)指標(biāo)，每一條測(cè)試線可以跟據(jù)自己的需求選擇相對(duì)應(yīng)的指標(biāo)，也就是說(shuō)一個(gè)產(chǎn)品我們可以同時(shí)測(cè)試駐波比和插入損耗或者更多的指標(biāo)） Allocate Traces (打開(kāi)此功能里面有窗口顯示選擇，我們可以 跟據(jù)自己的需求選擇兩個(gè)窗口以上的顯示方式） Cal 此功能為儀器校準(zhǔn)功能：我們常用到的是打開(kāi)后在顯示選擇：Calibrate（校準(zhǔn)端口選擇，我們可以選擇單端口校準(zhǔn)，也可以選擇雙端口校準(zhǔn)） Trace Prev 此功能為測(cè)試線的更換設(shè)置 Scale 此功能為測(cè)試放大的功能，打開(kāi)后常用到的有：Scale/Div 10DB/Div 為每格 測(cè)試10DB，我們可以跟據(jù)自己的產(chǎn)品更改每格測(cè)量的大小，方便我們看測(cè)試結(jié)果 Reference Value 這項(xiàng)功能可以改變測(cè)試線的高低，也是方便我們測(cè)試時(shí)能清楚的看到產(chǎn)品測(cè)試出來(lái)的波型。 Save/Recall 此功能為保存功能，（深圳市廣凱訊通信技術(shù)有限公司）我們可以把產(chǎn)品設(shè)置好的測(cè)試結(jié)果保存在這個(gè)里面 進(jìn)去以后按下此菜單Save State 我們可以保存到自己想保存的地方，如：保存在儀器里面請(qǐng)按 Recall State 里面會(huì)有相對(duì)應(yīng)的01到08，我們也可以按SaveTrace Data 保存在外接的U盤里面，方便的把我們產(chǎn)品的測(cè)試結(jié)果給客戶看。 二．儀器測(cè)試的設(shè)置方法 1.頻率設(shè)置：在儀器面板按鍵打開(kāi) Start 為開(kāi)始頻率，Stop 為終止頻率。如我們要測(cè)量2.4G到5.8G，我們先按 Start 設(shè)置為2.4G，再按 Stop 設(shè)置為5.8G 2.傳輸與反射測(cè)試功能設(shè)置：在儀器面板按鍵打開(kāi)Meas 打開(kāi)后顯示菜單里面會(huì)有 S11 S21 S12 S22 （S11 S22為反射，S21 S12 為傳輸）注意：駐波比和回波損耗在反射功能測(cè)試，也就是說(shuō)在S11或者S22 里面測(cè)試，S11和S21為*個(gè)測(cè)試端口測(cè)試，S22和S12為第二個(gè)端口測(cè)試。 3.駐波比和插入損耗測(cè)試設(shè)置：面板選擇按鍵 Format 打開(kāi)后顯示屏菜 單里面有好多個(gè)測(cè)試產(chǎn)品的指標(biāo)，我們可以跟據(jù)自己產(chǎn)品所需要的測(cè)試指標(biāo)選擇，如比較常用的SWR(駐波比），Log mag(插入損耗（深圳市廣凱訊通信技術(shù)有限公司） 4.多窗口和多條測(cè)試線設(shè)置：面板選擇按鍵 Display 打開(kāi)后顯示屏菜單里面會(huì)有很多功能，我們用到的是 Num of Traces 設(shè)置為2，此時(shí)顯示屏里面會(huì)出現(xiàn)兩條測(cè)試線，一條為黃色，另一條為藍(lán)色，但是現(xiàn)在兩條測(cè)試線都在一個(gè)測(cè)試窗口，我們也可以把兩條測(cè)試線分開(kāi)在兩個(gè)測(cè)試窗口進(jìn)行測(cè)試；我們可以在Allocate 里面進(jìn)行選擇窗口的顯示方式。 Traces 5.改變兩條測(cè)試設(shè)置：在面板上用 Trace 鍵來(lái)切換黃線與藍(lán)線的設(shè)置。 Prev 如：看顯示屏 Tr1 S11黃線設(shè)置，在面板上選擇，F(xiàn)ormat 里面選擇SWR（駐波比測(cè)試）此時(shí)黃線就是測(cè)試駐波比，我們按一下Trace 鍵來(lái)設(shè)置藍(lán)線測(cè)試 Tr2 S21 Prev 按下Format 選擇 Log mag (插入損耗測(cè)試)此時(shí)我們現(xiàn)在就可以同時(shí)測(cè)量出我們產(chǎn)品的駐波比和插入損耗啦。 6.儀器校準(zhǔn)方法：面板按鍵選擇Cal 顯示屏里面選擇；Calibrate 下一步按 2-Port Cal（雙端口校準(zhǔn)）；下一步按 Reflection 進(jìn)去后接 上相對(duì)應(yīng)的校準(zhǔn)件，如 Open（開(kāi)路）Short (短路）Load （負(fù)載）注意PORT1一口和PORT2二口要確認(rèn)校完，如果校完顯示會(huì)有打勾；下一步按再按顯示屏菜單Return下一 步按Transmission下一步接上測(cè)試線把PORT1一口和PORT2二口連接起來(lái)；下一步按Thru；下一步按Return：下一步按Isolation ；把PORT1一口和PORT2二口 (optional) 的連接線斷開(kāi)；下一步按Port1-2Isol；下一步按Return；下一步按Done；校準(zhǔn)完成！此時(shí)把PORT1一口和PORT2二口連接起來(lái)，黃線應(yīng)該在顯示的zui低下，藍(lán)線應(yīng)該在中間，把光標(biāo)打開(kāi)測(cè)試出來(lái)指標(biāo)黃線應(yīng)該為1.0020左右，藍(lán)線指標(biāo)應(yīng)該為—0.0005左右。 7.光標(biāo)打開(kāi)方法：面板上選擇按鍵 Marker 打開(kāi)后顯示屏?xí)卸鄠€(gè)選擇由 01-08，我們可以選擇一個(gè)或者多個(gè)測(cè)試光標(biāo)來(lái)把我們產(chǎn)品指標(biāo)讀了來(lái)。（深圳市廣凱訊通信技術(shù)有限公司） E5071C-008 Frequency offset mode E5071C-010 Time domain analysis E5071C-017 Removable Data Storage E5071C-019 Standard Data Storage E5071C-1A7 Calibration + Uncertainties + Guardbanding E5071C-1CM Rack mount kit E5071C-1CN Front handle kit E5071C-1CP Rack mount and front handle kit E5071C-1E5 High stability timebase E5071C-240 2-port Test Set, 9 kHz to 4.5 GHz without Bias Tees E5071C-245 2-port Test Set, 100 kHz to 4.5 GHz with Bias Tees E5071C-260 2-port Test Set, 9 kHz to 6.5 GHz without Bias Tees E5071C-265 2-port Test Set, 100 kHz to 6.5 GHz with Bias Tees E5071C-280 2-port Test Set, 9 kHz to 8.5 GHz without Bias Tees E5071C-285 2-port Test Set, 100 kHz to 8.5 GHz with Bias Tees E5071C-2D5 2-port Test Set, 300 kHz to 14 GHz with Bias Tees E5071C-2K5 2-port Test Set, 300 kHz to 20 GHz with Bias Tees E5071C-440 4-port Test Set, 9 kHz to 4.5 GHz without Bias Tees E5071C-445 4-port Test Set, 100 kHz to 4.5 GHz with Bias Tees E5071C-460 4-port Test Set, 9 kHz to 6.5 GHz without Bias Tees E5071C-465 4-port Test Set, 100 kHz to 6.5 GHz with Bias Tees E5071C-480 4-port Test Set, 9 kHz to 8.5 GHz without Bias Tees E5071C-485 4-port Test Set, 100 kHz to 8.5 GHz with Bias Tees E5071C-4D5 4-port Test Set, 300 kHz to 14 GHz with Bias Tees E5071C-4K5 4-port Test Set, 300 kHz to 20 GHz with Bias Tees E5071C-790 Measurement wizard assistant software E5071C-810 Add keyboard E5071C-820 Add mouse E5071C-A6J ANSI Z540-1-1994 Calibration E5071C-TDR Enhanced Time Domain Analysis E5071C-UNQ Standard stability timebase |
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