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      上海百賀儀器科技有限公司

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      日本電子JSM-IT510 InTouchScope™ 掃描電子顯微鏡
      參考價: 面議
      具體成交價以合同協(xié)議為準(zhǔn)
      • 產(chǎn)品型號
      • 品牌
      • 經(jīng)銷商 廠商性質(zhì)
      • 上海市 所在地

      訪問次數(shù):477更新時間:2022-04-23 09:58:04

      聯(lián)系我們時請說明是智能制造網(wǎng)上看到的信息,謝謝!
      產(chǎn)品簡介
      日本電子JSM-IT510 InTouchScope™ 掃描電子顯微鏡
      產(chǎn)品介紹

      產(chǎn)品參數(shù)

      產(chǎn)品編號: 所屬品牌: 日本電子
      產(chǎn)品型號: JSM-IT510 InTouchScope™ 額定功率:按實(shí)際方案提供
      所屬類別: 掃描電鏡所屬用途: 顯微觀察
      應(yīng)用領(lǐng)域: 所有工業(yè)領(lǐng)域
      產(chǎn)品特性:
      下載相關(guān)資料

      日本電子JSM-IT510 InTouchScope™ 掃描電子顯微鏡

      掃描電子顯微鏡 (SEM) 不僅是開展科研工作所的工具,對于需要品控的制造工廠也是*的。 在這些場景中,用戶需要重復(fù)執(zhí)行相同的觀察操作,因此快速完成這些操作有助于提高工作效率。 JSM-IT510 新增的“簡單 SEM”功能,用戶可將 SEM 觀察所需的“手動重復(fù)操作交給它”,從而更高效、更輕松地完成 SEM 觀察。

      NEW 簡單 SEM

      只需選擇目標(biāo)視野

      “簡單 SEM”支持日常工作

      樣品:電子元件
      加速電壓:15 kV,放大倍數(shù):×50(上部) ×1,000(下部),信號: BE


      樣品交換導(dǎo)航

      從樣品交換引導(dǎo)至自動觀察 安全簡單!

      1. 按照導(dǎo)航指南設(shè)置樣品

      測量樣品高度

      2. 準(zhǔn)備抽真空觀察

      *1樣品臺導(dǎo)航系統(tǒng)(SNS)是選配件

      *2大區(qū)域樣品臺導(dǎo)航系統(tǒng)(SNSLS)是選配件

      *3樣品室相機(jī)(CS)是選配件

      3. 自動開始觀察

      真空完成后自動成像

      Zeromag

      輕松實(shí)現(xiàn)光學(xué)圖像與SEM圖像之間的無縫轉(zhuǎn)換

      Zeromag 功能簡化了導(dǎo)航,提供從光學(xué)圖像到 SEM 圖像的無縫過渡。

      SEM、光學(xué)圖像和樣品臺示意圖全部鏈接在一起,以獲得分析位置的全局視圖。

      樣品:菊石化石 加速電壓:7kV 信號:BE

      實(shí)時分析/實(shí)時引導(dǎo)圖*2

      1. SEM觀察的同時掌握該區(qū)域的元素組成

      實(shí)時分析是一項在圖像觀察期間實(shí)時顯示 EDS 光譜或元素圖的功能。此功能支持搜索目標(biāo)元素并提供警示。

      2. 簡單分析

      最多點(diǎn)擊3次即可開始EDS分析

      多種高級選項

      1. NEW 低真空混合二次電子探測器(LHSED)*

      該新型探測器可以收集電子和光子信號,并提供具有高信噪比和增強(qiáng)形貌信息的圖像

      2. NEW 實(shí)時3D*

      新多向分割BE探測器*獲得的圖像可以顯示為實(shí)時3D圖像。

      即使樣品具有細(xì)微的表面起伏,實(shí)時3D也可以直觀的將其清晰的表現(xiàn)出來,并獲取其深度信息。

      樣品:螺釘 加速電壓:15kV 放大倍數(shù):x100 信號:BE

      3. 蒙太奇

      蒙太奇功能可以自動獲取多個小視野的圖像并將這些圖像拼接成一張更大視野的圖像。

      樣品:菊石化石

      加速電壓:15kV 放大倍數(shù):x150 信號:BE 視野數(shù):13 x 13

      4. 顯示信號深度

      此功能實(shí)時顯示被測樣品的分析深度(近似數(shù)值),對元素分析非常有用。

      SEM規(guī)格

      分辨率高真空模式:3.0nm(30kV),15.0nm(1.0kV);低真空模式:4.0nm(30kV、BED)
      放大倍數(shù) x5 至 x300,000
      電子槍鎢燈絲,全自動電子槍調(diào)準(zhǔn)
      加速電壓0.3kV~ 30kV
      探針電流1pA~1uA
      LV壓力調(diào)節(jié)10~650Pa
      物鏡光闌4檔,帶XY微調(diào)功能
      自動功能燈絲飽和點(diǎn)調(diào)整、電子槍合軸調(diào)整、電子束對中調(diào)整、聚焦/散光/亮度/襯度調(diào)整
      樣品尺寸200mm直徑 x 75mm高
      樣品臺大型全對中樣品臺 X: 125mm Y:100mm Z:80mm 傾斜:-10~90° 旋轉(zhuǎn):360°
      圖像模式二次電子像、REF像、成分像、形貌像、陰影像
      圖像尺寸640 x 640、1280 x 960、 2560 x 1920、 5120 x 3840
      照片輔助功能蒙太奇、簡單SEM、Zeromag、實(shí)時3D
      操作支持功能菜單(標(biāo)準(zhǔn)菜單/自定義菜單),測量、樣品交換導(dǎo)航、信號深度功能、3D測量*
      操作系統(tǒng)Win10 64位
      顯示器23.8英寸觸控面板
      語言切換日語、英語、中文(可在用戶界面上操作)
      真空系統(tǒng)全自動、TMP、RP



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