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FEI掃描電鏡Verios XHR SEM
Verios 是 FEI 的 XHR（*分辨率）SEM 系列的第二代產(chǎn)品。在半導體制造和材料科學應用中，
它可在 1 至 30 kV 范圍內(nèi)提供亞納米量級分辨率以及增強的對比度，
滿足材料精密測量所需，同時又不會削弱傳統(tǒng)掃描電子顯微鏡 (SEM) 所具有的高吞吐量、分析能力、樣本靈活性和易用性等優(yōu)勢。
Verios 的材料科學應用
對材料科學家來說，Verios 可以將亞納米表征拓展到當下正在開發(fā)的全新材料
（例如催化劑顆粒、納米管、孔隙、界面、生物對象和其他納米量級結(jié)構(gòu)），
從而讓他們獲得重要的新發(fā)現(xiàn)。無需轉(zhuǎn)而采用 TEM 或其他成像技術便可獲得高分辨率、高對比度圖像。
Verios 可靈活用于各類研究應用，能夠容納全尺寸晶圓或冶金樣本之類的大樣本。
您可以在高電流模式下執(zhí)行快速分析，也可以開展精確的原型設計應用，
例如電子束感應式材料直接沉積或光刻
