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      x-ray 鍍層測厚儀M1 ORA

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      更新時間:2022-08-19 17:17:13瀏覽次數(shù):464

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      產(chǎn)品簡介

      M1 ORA能準確測定珠寶類合金的元素組成,分析元素范圍:原子序數(shù)22號(鈦)以上的所有元素。

      詳細介紹

      x-ray 鍍層測厚儀M1 ORA


      M1 ORA能準確測定珠寶類合金的元素組成,分析元素范圍:原子序數(shù)22號(鈦)以上的所有元素。
      上照式光管,光板尺寸小至0.3mm,可以對復雜式樣的樣品進行非接觸、非破壞性的分析,數(shù)分鐘內(nèi)就可以得到結果。

      樣品尺寸zui大可達100×100×100mm,無需任何處理,直接放在樣品臺上檢測,采用光學顯微鏡進行準確定位。

      采用大感應面積的正比計數(shù)器接收樣品發(fā)出的熒光信號。采集的信號越多,分析結果越精確。可以檢測含量在0.5%以上的元素

      基于標樣模型或無標樣模型,可以鑒別和定量分析樣品中的所有元素。準確度高,精度達到0.2wt%對于沒有預想到的元素也能夠進行分析。

      黃金成色分析可以用K(開)或質(zhì)量百分比(%)表示

      珠寶、黃金、貴金屬分析

      珠寶與貴金屬飾品的貨幣兼一職不是主要由設計和制作人工決定、而是zui主要由合金中貴金屬成分及寶石的種類和品質(zhì)所決定。已知的集中合金分析方法,zui古老精確的為火練法,首先采用高精度高密度天秤秤重一塊原始金屬,然后通過不同步奏(氧化和溶解)去除非金屬物質(zhì),zui后秤重余量。但是這方法很好使,而且需破壞樣品,同時也產(chǎn)生很多有毒污染物和氣體。

      X射線熒光光譜儀是非基礎和非破壞性分析,同時能夠得到高精確度測試結果的分析方法

      由于珠寶首飾件通常都非常的小,又有些是采用不同貴金屬組合,X射線熒光光譜儀分析過程能采用儀器內(nèi)的準直器將激發(fā)的X射線集中于一小點,精確閆策樣品成分。

      X射線熒光光譜儀測量可廣泛適用于大量的黃金合金系列,可測量材料包括金、銀、銅、鈀、鉑、銠等貴金屬元素

      黃金成分范圍35%8克拉/K~*24克拉/K

      適用于:白金、黃金、鉑合金、銀合金,分析精度優(yōu)于0.2%

      M1ORA是專門適用于珠寶行業(yè)的臺式微區(qū)X射線熒光光譜儀(μ-XRF),結構緊湊、占用空間小。

      技術規(guī)格:

      光源高性能微焦斑光管,鎢靶,玻璃窗

      電壓、功率40KV、40W

      探測器大面積正比計數(shù)器1100mm2感應面積

      光斑尺寸0.3-1.0mm準直管(出廠時設定)

      樣品觀察高分辨彩色攝像系統(tǒng),放大倍數(shù)20-40

      樣品臺手動剪式樣品升降臺

      定量分析基于標準樣品的經(jīng)驗模型

      基于基本參數(shù)法的無標準模型

      電源:230V/500Hz,100W

      尺寸:355×330×330mm

      重量:26公斤

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