詳細介紹
X-射線金屬鍍層測厚儀 世界*光學(xué)準直器,光束zui少可達0。025mm 集中X-射線光束,強度加強5-8倍適合較薄鍍層測量,測量時間為正常的1/5 配有ZOOM功能,圖像可放大到zui高200倍更新FP方法,適合多層厚度測量
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丁成峰
丁成峰
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