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產(chǎn)品描述

FISCHERSCOPE X-RAY XDL XDLM系列與XULXUUM的比較：

FISCHERSCOPE X-RAY XDL XDLM系列與XULXUUM系列密切相關(guān):兩者都使用相同的接收器，準直器和濾片組合。配備了標準X射線管和固定準直器的XDL儀器非常適合大工件的測量。XDLM型號的X射線源采用微聚焦管，可以測量細小的部件，對低輻射組分有較好的激勵作用。此外，XDLM配備了可自動切換的準直器和多種濾片可以靈活地為不同的測量應(yīng)用創(chuàng)造良好的激勵條件。兩種型號的儀器都配備了比例接收器探測器。即使對于很小的測量點，由于接收器的接收面積很大，仍然可以獲得足夠高的計數(shù)率，確保良好的重復(fù)精度。

比較XUL和XUM儀器而言，XDL和XDLM系列儀器測量測量方向從.上到下。它們被設(shè)計為用戶友好的臺式機，使用模塊化結(jié)構(gòu)，也就是說它們可以配備簡單支板，各種XY工作臺和Z軸以適應(yīng)不同的需求。配備了可編程XY工作臺的版本的XDL系列儀器可用于自動化系列測試。它可以很方便地掃描表面，這樣就可以檢查其均勻性。為了簡單快速定位樣品，當測量門開啟時，XY工作臺自動移動到加載位置，同時激光點指示測量點位置。對于大而平整的樣品，例如線路板，殼體在側(cè)面有開口(C形槽)。由于測量室空間很大，樣品放置方便，儀器不僅可以測量平面平整的物體，也可以測量形狀復(fù)雜的大樣品(樣品高度可達140mm)。Z軸可電動調(diào)整的儀器，測量距離還可以在0 - 80 mm的范圍內(nèi)自由選擇，這樣就可以測量腔體內(nèi)部或表面不平整的物體(DCM方法)。

產(chǎn)品型號：

? FISCHERSCOPEX-RAY XDL M231 熒光鍍層測厚儀
? FISCHERSCOPE X-RAY XDLM 232 x射線熒光鍍層測厚儀
? FISCHERSCOPE X-RAY XDLM237 x射線熒光鍍層測厚和材料分析儀

應(yīng)用實例:

XDLM測量系統(tǒng)經(jīng)常用來測量接插件和觸點的各種底材上的Au/Ni, Au/PdNi/Ni, Ag/Ni或Sn/Ni鍍層的厚度。通常功能區(qū)都是很小的結(jié)構(gòu)如*或突起，測量這些區(qū)域必須使用很小的準直器或適合樣品形狀的準直器。例如測量橢圓形樣品時，就要使用開槽的準直器以獲得*大的信號強度。

電鍍液成分分析：Cu, Ni, Au (g/l

電鍍液成分分析：Cu, Ni, Au (g/l)

PCB測量: Au/Ni/Cu/PCB

特征:

。帶玻璃窗口和鎢靶的X射線管或帶鈹窗和鎢靶的微聚焦X射線管。*高工作條件:50KV,50W
。X射線探測器采用比例接收器
。準直器:固定或4個自動切換，0.05 x0.05 mm到00.3 mm
。基本濾片:固定或3個自動切換
。測量距離可在0-80 mm范圍內(nèi)調(diào)整
。固定樣品支撐臺，手動XY工作臺
。攝像頭用來查看基本射線軸向方向的測量位置?？潭染€經(jīng)過校準，顯示實際測量點大小。
。設(shè)計獲得許可，防護全面，符合德國X射線條例第4章第3節(jié)