產品簡介
產品介紹
CT-A標準型電腦智能測厚儀特點:配合各種與IBM兼容并安裝微軟的WINDOWS操作系統(tǒng)(WIN98/Me/Nt/WIN2000/WINXP)的個人電腦。靈活方便,單機也可使用,測量常用鍍層。
1)測量范圍和精度: 0.01(0.0025)μm~50μm, ≤ ±10% ,符合ISO2177-2003、GB/T 4955—1997、ASTM B764-94(2003)(STEP試驗)和國家標準。
2)測量對象:所有導電性覆蓋層
① 單金屬鍍層(如Cu、Zn、Ni、Au、Ag、Cr、Sn、Cd、Ms);
② 合金鍍層(如Pb-Sn 、Cu-Zn 、Zn-Ni 、Ni-P 等合金);
③ 復合鍍層(如 Cu+Ni+Cr/Fe等);
④ 多鎳鍍層(STEP試驗)。