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熒光光譜測試儀又稱分光儀，廣泛為認(rèn)知的為直讀光譜儀。以光電倍增管等光探測器測量譜線不同波長位置強度的裝置。它由一個入射狹縫，一個色散系統(tǒng)，一個成像系統(tǒng)和一個或多個出射狹縫組成。以色散元件將輻射源的電磁輻射分離出所需要的波長或波長區(qū)域，并在選定的波長上（或掃描某一波段）進(jìn)行強度測定。分為單色儀和多色儀兩種。
標(biāo)準(zhǔn)配置：
1. 原裝電致冷Si-PINtanceqi
2. X射線光管模塊
3. 高低壓電源模塊
4. 多道分析模塊
5. 信噪比增強模塊
6. 集成IPAD觸摸屏
7. RoHS鹵素軟件系統(tǒng)
一臺典型的光譜儀主要由一個光學(xué)平臺和一個檢測系統(tǒng)組成。包括以下幾個主要部分：
1. 入射狹縫: 在入射光的照射下形成光譜儀成像系統(tǒng)的物點。
2. 準(zhǔn)直元件: 使狹縫發(fā)出的光線變?yōu)槠叫泄狻Ｔ摐?zhǔn)直元件可以是一獨立的透鏡、反射鏡、或直接集成在色散元件上，如凹面光柵光譜儀中的凹面光柵。
3. 色散元件: 通常采用光柵，使光信號在空間上按波長分散成為多條光束。
4. 聚焦元件: 聚焦色散后的光束，使其在焦平面上形成一系列入射狹縫的像，其中每一像點對應(yīng)于一特定波長。
5. 探測器陣列：放置于焦平面，用于測量各波長像點的光強度。該探測器陣列可以是CCD陣列或其它種類的光探測器陣列。
熒光光譜測試儀技術(shù)參數(shù)：
| 測試范圍 | RoHS, 鹵素（硫S-鈾U之間的元素） |
| 可測試樣品的種類 | 固體，液體，粉末 |
| 檢出限 | ≤2ppm；精度：±0.05% |
| 測試時間 | 30-300s（可以任意調(diào)節(jié)） |
| 攝像定位系統(tǒng) | 800萬真像素高清定位系統(tǒng) |
| X射線光管使用壽命 | ＞20000小時 |
| 探測器 | Amptek公司原裝電致冷Si-PIN探測器； 分辨率 145ev±5ev |
| 高壓電源 | 0-50kev,0-2mA 50w |
| 準(zhǔn)直濾光系統(tǒng) | X射線光斑大小直徑：φ1mm,φ3mm,φ5mm； 9種復(fù)合濾光系統(tǒng) |
| 工作環(huán)境溫/濕度 | 溫度15-30℃ 濕度 ≤75%（不結(jié)露） |
| 輸入電源 | AC220V±15% 50Hz |
| 額定功率 | 150W 重量 33kg |
| 儀器尺寸 | 670*400*330mm |
| 測試樣品腔尺寸 | 200*260*80mm |
專業(yè)RoHS指令有害元素和鹵素快速，無損檢測；一體機(jī)設(shè)計，內(nèi)置工業(yè)計算機(jī)和IPAD觸摸屏，無需另配電腦和顯示器。
產(chǎn)品圖片
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