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詳細(xì)介紹
日立TM系列zhuan用能譜儀（EDS） Quantax75TM4000 系列根據(jù)應(yīng)用和預(yù)算提供多個(gè) EDS 系統(tǒng)供您選擇。 所有檢測(cè)器均采用緊湊型設(shè)計(jì)，不需要 LN2。 通過(guò)簡(jiǎn)單操作即可迅速獲取彩色X射線面分布 移動(dòng)到制定位置，可實(shí)時(shí)確認(rèn)其譜圖 雙屏顯示 僅*選擇圖像和模板，即可在生成Word®、Excel®、面分布信息的同時(shí)，實(shí)時(shí)顯示點(diǎn)分析、線分析結(jié)果等
日立TM系列zhuan用能譜儀（EDS） Quantax75TM4000 系列根據(jù)應(yīng)用和預(yù)算提供多個(gè) EDS 系統(tǒng)供您選擇。 所有檢測(cè)器均采用緊湊型設(shè)計(jì)，不需要 LN2。
通過(guò)簡(jiǎn)單操作即可迅速獲取彩色X射線面分布
移動(dòng)到制定位置，可實(shí)時(shí)確認(rèn)其譜圖
雙屏顯示
僅*選擇圖像和模板，即可在生成Word®、Excel®、面分布信息的同時(shí)，實(shí)時(shí)顯示點(diǎn)分析、線分析結(jié)果等多種分析。
可根據(jù)點(diǎn)位置移動(dòng)實(shí)時(shí)追蹤譜圖，輕松確認(rèn)目標(biāo)元素。
分離出常規(guī)面分布圖像中的譜峰重疊元素，并顯示正確結(jié)果。
日立TM系列zhuan用能譜儀（EDS） Quantax75TM4000 系列根據(jù)應(yīng)用和預(yù)算提供多個(gè) EDS 系統(tǒng)供您選擇。 所有檢測(cè)器均采用緊湊型設(shè)計(jì)，不需要 LN2。
通過(guò)簡(jiǎn)單操作即可迅速獲取彩色X射線面分布
移動(dòng)到制定位置，可實(shí)時(shí)確認(rèn)其譜圖
雙屏顯示
僅*選擇圖像和模板，即可在生成Word®、Excel®、面分布信息的同時(shí)，實(shí)時(shí)顯示點(diǎn)分析、線分析結(jié)果等多種分析。
高的性能（hyper map）成就了一次測(cè)試即可獲取點(diǎn)分析、線分析、面分布結(jié)果點(diǎn)分析
可根據(jù)點(diǎn)位置移動(dòng)實(shí)時(shí)追蹤譜圖，輕松確認(rèn)目標(biāo)元素。
實(shí)時(shí)在線譜峰剝離面分布
分離出常規(guī)面分布圖像中的譜峰重疊元素，并顯示正確結(jié)果。
| 項(xiàng)目 | 內(nèi)容 |
|---|---|
| 探測(cè)器類型 | 硅漂移探測(cè)器 |
| 探測(cè)器面積 | 30 mm2 |
| 能量分辨率 | 148 eV (Cu-Kα) (Mn-Kα時(shí)不高于129 eV) |
| 可檢測(cè)元素 | B5～Cf98 |
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