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      行業(yè)產(chǎn)品

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      似空科學(xué)儀器(上海)有限公司


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      Hitachi離子研磨儀 IM4000 Plus

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      參   考   價: 16

      訂  貨  量: ≥1 

      具體成交價以合同協(xié)議為準

      產(chǎn)品型號IM4000 Plus

      品       牌HITACHI/日立

      廠商性質(zhì)代理商

      所  在  地上海市

      聯(lián)系方式:似空科學(xué)查看聯(lián)系方式

      更新時間:2019-07-15 13:10:24瀏覽次數(shù):697次

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      經(jīng)營模式:代理商

      商鋪產(chǎn)品:74條

      所在地區(qū):上海上海市

      聯(lián)系人:似空科學(xué) (經(jīng)理)

      產(chǎn)品簡介

      日立IM4000Plus離子研磨儀利用氬離子對樣品即可以進行平面研磨,也可以進行截面切割,是對樣品進行無應(yīng)力加工的理想工具,不會產(chǎn)生傳統(tǒng)的切割或機械拋光帶來的變形錯位、機械應(yīng)力或劃痕污染等對樣品的形貌觀察和結(jié)構(gòu)分析帶來的不利影響,通過制冷功能可以對受熱易損傷的樣品進行加工。

      詳細介紹

      Hitachi離子研磨儀 IM4000 Plus
      截面研磨/ 平面研磨的兩用前處理裝置
      一臺儀器同時具備“截面研磨(Cross Section Milling)”和“平面研磨(Flat Milling)”兩種功能。
      通過更換樣品座、可以滿足廣泛的應(yīng)用需求。

       

      主要特點:

      1. 即可進行截面切割,也可進行平面研磨;

      2. 加工效率更高,截面約500μm/h;

      3. 程序控制間歇式加工;

      4. 通過制冷功能可以對受熱易損傷的樣品進行加工。


      截面研磨
      為了對樣品內(nèi)部結(jié)構(gòu)進行觀察、分析,必須讓樣品內(nèi)部結(jié)構(gòu)顯露出來。
      而通過切割或機械研磨的截面,不可避免因應(yīng)力而產(chǎn)生變形和損傷,因此很難得到SEM分析所需要的平滑表面。
      日立離子研磨裝置使用大面積低能量的Ar離子束,加工出無應(yīng)力損傷的截面,為SEM觀察樣品的內(nèi)部多層結(jié)構(gòu)、結(jié)晶狀態(tài)、
      異物解析、層厚測量等提供有效的前處理方法。


      原理
      樣品和離子槍之間放置了遮擋板(Mask),樣品的上端略突出遮擋板,離子束從遮擋板上方照射到樣品上、沿著遮擋板的邊緣,加工出平坦的截面。

      特點·應(yīng)用
      ■制成的低損傷的截面便于表層以下內(nèi)部結(jié)構(gòu)分析。
      ■適用樣品:電子元件如IC芯片、PCB、LED等(多層、裂
      痕、孔洞分析)、金屬(EBSD晶體結(jié)構(gòu)、EDS元素分析、鍍
      層)、高分子材料、紙、陶瓷、玻璃、粉末等。
      ■可移動的樣品座可精確定位、實現(xiàn)對特定位置的研磨(詳見說
      明書)。
      ■大樣品: 寬20 mm× 長12 mm× 厚7 mm
      ■聯(lián)用樣品臺在機械研磨、離子研磨、SEM觀察(Hitachi
      機型)之間不用更換樣品臺。


      樣品: 熱敏紙

         

      平面研磨
      SEM在觀察金相組織和材料缺陷時需要經(jīng)過特殊的樣品制備方法。傳統(tǒng)的機械研磨拋光會使表面產(chǎn)生變形、損傷或劃痕,
      無法獲得樣品的真實結(jié)構(gòu)。通過日立IM4000可對樣品進行無應(yīng)力加工,用于去除樣品的表層、加工出低損傷平面,也可用
      于機械研磨的后續(xù)加工工序。


      原理
      如果離子束中心軸和樣品臺旋轉(zhuǎn)中心軸是*的,則加工出的輪廓反映了離子束流密度分布,即中心部分較深的形狀。
      平面研磨法是利用離子束中心軸和樣品臺旋轉(zhuǎn)中心軸之間有一定的偏心量,從而獲得均一的大范圍加工面。


      特點·應(yīng)用
      ■均勻加工范圍直徑約5 mm
      ■能除去用機械研磨難以除去的細微損傷和變形
      ■可用于多種分析目的的大面積研磨
      結(jié)晶晶界的觀察、多層膜的觀察:
      離子束照射角小的時候,離子束的加工速率與樣品的結(jié)晶取向、組成相關(guān)性大,利用這個加工速率的差別可以加工出形如浮雕的平面。
      界面的觀察、元素分析、EBSD*分析:
      離子束照射角大的時候,離子束的加工速率與樣品的結(jié)晶取向、組成相關(guān)性不大,可以加工出平坦的樣品表面。
      ■大樣品尺寸: 直徑50 mm× 高25 mm
      ■ 有旋轉(zhuǎn)加工和擺動加工兩種方式可選:
      除了旋轉(zhuǎn)加工方式,還增加了擺動加工方式,擺動角度為±60°或±90°。可選擇多種加工方式(速度、轉(zhuǎn)動方式可調(diào)),從而加工出比較平坦的表面。


      樣品: 鋼材


      功能
      IM4000PLUS加工速率更高

      IM4000PLUS提高了離子束流的密度使得研磨速率大幅度的提高。
      (研磨速率:500 μm/hr,相對于IM4000增大了50%*1 @加速電壓6 kV,Si材料)

      *1 相對于Mask截面樣品伸出100 μm,加速電壓: 6 kV


      樣品: Si片
          


      應(yīng)用實例
      應(yīng)用(截面研磨)

      應(yīng)用(平面研磨)

      主要參數(shù)

      *4 Si片突出遮擋板(Mask)邊緣100 μm
      *5 冷卻時擺動角度為±15°和±30°
      *6 Mask的移動精度有所提高,其移動步長變?yōu)槟壳暗?/5

       

      應(yīng)用領(lǐng)域:

      1. LED、PCB等半導(dǎo)體行業(yè);

      2. 頁巖氣;

      3. 高分子材料

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