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S4 TStar — TXRF 1300000元 10000000 件 可售
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更新時(shí)間:2025-03-26 15:37:24瀏覽次數(shù):397次
聯(lián)系我時(shí),請(qǐng)告知來自 智能制造網(wǎng)離子體發(fā)射光譜法(ICP-OES)或質(zhì)譜法(ICP-MS)的理想的替代性方法°現(xiàn)在,S4TStar在臺(tái)式TXRF光譜儀的性能、自控和質(zhì)量 方面開創(chuàng)了新的標(biāo)準(zhǔn)。數(shù)十年來,X射線熒光(XRF)光譜法在多個(gè)行業(yè)中被廣泛用于對(duì)固體和石油化工樣品進(jìn)行元素分析,檢測(cè)限值低于PPb量級(jí)。TXRF 擴(kuò)展ZXRF的應(yīng)用范圍,可以分析液體樣品、懸浮液和膜片中的超微量元素。
元素范圍 | Mo靶:鋁到鈾(Nb-Ru除外) W靶:鉀到鈾. |
濃度 | ppb 到 |
檢測(cè)限值 | Ni< 1 pg |
樣品類型 | 液體、懸浮液、粉末、顆粒物、金屬、薄層、組織、晶片、 濾片等 |
樣品量 | 液體和懸浮液,從1微升到50微升 顆粒物,直徑100微米以下;粉末,10微克以下 |
樣品更換器 | 自動(dòng)樣品更換器,10個(gè)托盤 自動(dòng)托盤檢測(cè),用于鑒別樣品類型 |
容量 | 樣品托盤1: 30毫米盤片,*多90個(gè)盤片 樣品托盤2:顯微鏡載玻片,*多30個(gè)載玻片 樣品托盤3: 2英寸晶片,*多50個(gè)晶片 樣品托盤4:矩形,小于54毫米,多50個(gè)樣品 樣品托盤5:用戶定義 |
X射線管 | *高50W,金屬陶瓷,*高50 Kv, 1mA,空氣冷卻 |
X射線光學(xué)件 | 多層膜單色儀 |
激發(fā)模式 | Mo-K, 17.5 Kev W■可致輻射,35 Kev; W-L, 8.4 Kev Cu-K, 8.0 Kev Cr-K, 5.4 Kev |
檢測(cè)器 | 珀?duì)柼鋮sXFIash®硅漂移檢測(cè)器 不需要液氮 探測(cè)器有效面積:60 mm2,選配:100 mn? 能量分辨率<149ev (在1 OOKcps (錠Ka),) |
接口 | 通過TCP/IP進(jìn)行數(shù)據(jù)交換(RJ45電纜) |
電源 | 100/240 V, 50/60 HZ |
尺寸 | 528mmx693mmx512mm (高x寬x深) |
重量 | 80 Kg |
附件 | 清洗盒,用于樣品載體、存放盒 TXRF起動(dòng)器套件(移液管、尖頭、試管、研缽、藥匙) |
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