奧智品光學(xué)儀器(上海)有限公司
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訪問次數(shù):261更新時(shí)間:2022-08-19 17:17:20
三維影像測(cè)量儀的精度使用我們可溯源到NIST的QVI標(biāo)準(zhǔn)器來校準(zhǔn)和驗(yàn)證您的OGP測(cè)量系統(tǒng)性能。除了影像測(cè)量儀平面精度和Z軸光學(xué)測(cè)量精度之外,空間精度的校準(zhǔn)需要特殊的標(biāo)準(zhǔn)器。
下面的標(biāo)準(zhǔn)器用于三坐標(biāo)測(cè)量儀及三維影像測(cè)量儀的空間精度的校準(zhǔn)和臨時(shí)精度徹查和誤差圖生成。常規(guī)的三坐標(biāo)測(cè)量儀用該立方體臨時(shí)校準(zhǔn)一般約需45分鐘,可對(duì)超過200個(gè)空間和探針測(cè)量位置的不同集合長度測(cè)量誤差進(jìn)行驗(yàn)證。在大多數(shù)情況下比ISO 10360-2的檢驗(yàn)更為詳盡*。更大的空間需要在更多不同的位置測(cè)量立方體。其他三維空間方向的校準(zhǔn)量具可按需定制。