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南京蘇量檢測儀器設備有限公司
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更新時間:2025-03-16 08:46:37瀏覽次數(shù):24次
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平面平晶是以光波干涉原理為基礎,利用平晶的測量面與試件的被測量面之間所出現(xiàn)的干涉條紋來測量被測量面的平面度
平面平晶是以光波干涉原理為基礎,利用平晶的測量面與試件的被測量面之間所出現(xiàn)的干涉條紋來測量被測量面的平面度。
平面平晶用于檢定量塊的研合性和平面度以儀器和量具的測量面、工作面的平面度。亦可用于檢定高精度的平面零件,例如,平面光學零件、高級平臺、平板、導軌、密封件等。平面平晶特別適用于計量單位、實驗室作為標準平面和樣板。
平面平晶的技術參數(shù)(備注:特殊規(guī)格可根據(jù)客戶要求定做)
平面直徑d(mm) 基本參數(shù) 1級 d范圍內(nèi) 2/3d范圍內(nèi) 30
45
60 0.03 ---- 80
100
150 0.05 0.03 200
250
300 0.08
0.1
0.15 0.05
0.05
0.09
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