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詳細(xì)介紹
Sphere-3000 光學(xué)元件反射率測量儀
Sphere3000是一套全波長顯微球面光學(xué)元件光譜分析儀，能快速準(zhǔn)確地測量各類球面/非球面器件的相對(duì)/反射率。適用于凸透鏡、凹透鏡、鏡片等的鍍膜反射率測量。還可進(jìn)行有干涉條紋的單層膜厚或折射率測量。
Sphere3000光學(xué)元件反射率測量儀-特點(diǎn)：
Ø 顯微測定微小領(lǐng)域的反射率 物鏡對(duì)焦于被測物微小區(qū)域（φ60μm）
Ø CIE顏色測定 X Y色度圖，x, y, L, a, b, 飽和度，主波長等
Ø 檢測速度快 高性能探測器，能在幾秒內(nèi)實(shí)現(xiàn)重現(xiàn)性高的測定
Ø 消除背面反射光 無需進(jìn)行背面防反射處理即可快速準(zhǔn)確地測定表面反射率
Sphere3000光學(xué)元件反射率測量儀-技術(shù)參數(shù)
| 型號(hào) | Sphere-3000（I型） | Sphere-3000（III型） |
| 檢測范圍 | 380~800nm | 360~1100nm |
| 波長分辨率 | 1nm | 1nm |
| 相對(duì)檢測誤差 | ﹤1% | ﹤0.5% |
| 測定方法 | 與標(biāo)準(zhǔn)物比較測定 | |
| 被測物再現(xiàn)性 | ±0.1%以下(2σ) （380nm~410nm） ±0.05%以下(2σ) (410nm~800nm) | ±0.1%以下(2σ) (380nm~410nm) ±0.05%以下(2σ) (410nm~1100nm) |
| 單次測量時(shí)間 | ﹤1s | |
| 精度 | 0.3nm | |
| 被測物N.A. | 0.12(使用10×對(duì)物鏡時(shí)) 0.24(使用20×對(duì)物鏡時(shí)) | |
| 被測物尺寸 | 直徑> 厚度> 厚度> | |
| 被測物 測定范圍 | 約φ60μm(使用10×對(duì)物鏡時(shí)) 約φ30μm(使用20×對(duì)物鏡時(shí)) | |
| 設(shè)備重量 | 約 | |
| 設(shè)備尺寸 | 300(W)×550(D)×570(H)mm | |
| 使用環(huán)境 | 水平且無振動(dòng)的場所 溫度：23± 濕度：60％以下、無結(jié)露； | |
| 操作系統(tǒng) | Windows XP, Windows Vista，Win7 | |
| 軟件 | 分光反射率、物體顏色、單層膜厚（有干涉條紋）和鍍膜（有干涉條紋）折射率測定 | |
| 尺寸 | 480*400* | |
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