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深圳市譜賽斯科技有限公司
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產(chǎn)品型號(hào)CMI165 CMI760 CMI500
品 牌
廠商性質(zhì)代理商
所 在 地深圳市
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更新時(shí)間:2022-08-19 17:16:58瀏覽次數(shù):573次
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表面銅鍍層測(cè)厚儀 牛津儀器CMI165系列用于測(cè)試高低溫的PCB銅箔,蝕刻或整平后的銅厚定量測(cè)試,電鍍銅后的面銅厚度測(cè)量,在PCB鉆孔,剪裁,電鍍等工序前進(jìn)行相關(guān)銅箔來(lái)料檢驗(yàn)
CMI760采用微電阻和電渦流方式用于測(cè)量表面銅和孔內(nèi)鍍銅厚度,具有多功能性,高擴(kuò)展性和*的統(tǒng)計(jì)功能
CNI500是電磁供電,手持式孔銅厚測(cè)量?jī)x,用于線路板蝕刻前.后工序
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表面銅鍍層測(cè)厚儀 牛津儀器
一、測(cè)量孔銅
1、可測(cè)試zui小孔直徑:35 mils (899 μm/0.85mm)
2、測(cè)量范圍:0.04~4.0mils (1.0~100um)
3、準(zhǔn)確度:±0.01 mil參考標(biāo)準(zhǔn)片
4、解析度:0.01mils (0.25um) 1~6位
5、PCB 板厚限制:zui小 30mils (0.75mm)
二、測(cè)量面銅
1、測(cè)量范圍:0.001~20.0mils (0.02 μm – 500 μm)
2、準(zhǔn)確度:±1% 參考標(biāo)準(zhǔn)片
3、解析度:0.001mils (<1mil) / 0.02mils (>1mil) 1~6位
4、PCB 板厚限制:無(wú)限制
表面銅鍍層測(cè)厚儀 牛津儀器可用于測(cè)量表面銅和穿孔內(nèi)銅厚度。這款高擴(kuò)展性的臺(tái)式測(cè)厚儀系統(tǒng)能采用微電阻和電渦流兩種方法來(lái)達(dá)到對(duì)表面銅和穿孔內(nèi)銅厚度準(zhǔn)確和精確的測(cè)量。CMI 700臺(tái)式測(cè)量系統(tǒng)具有非常高的多功能性和可擴(kuò)展性,對(duì)多種探頭的兼容使其滿足了包括表面銅、穿孔內(nèi)銅和微孔內(nèi)銅厚度的測(cè)量、以及孔內(nèi)銅質(zhì)量測(cè)試的多種應(yīng)用需求。同時(shí)CMI 760具有*的統(tǒng)計(jì)功能用于測(cè)試數(shù)據(jù)的整理分析
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