TL-200 推力測(cè)試機(jī)是針對(duì)物聯(lián)網(wǎng)RFID電子標(biāo)簽進(jìn)行芯片推力測(cè)試而開(kāi)發(fā)的一款設(shè)備，測(cè)試的數(shù)據(jù)能與帶電腦控制的推拉力測(cè)試機(jī)相當(dāng)，經(jīng)濟(jì)實(shí)惠，用于實(shí)驗(yàn)室和自動(dòng)化生產(chǎn)線上非常適合。

 TL-200 推力測(cè)試機(jī)

特點(diǎn)：

1》采用連續(xù)變倍顯微鏡；

2》定制化的推刀；

3》采用進(jìn)口推拉力測(cè)試儀；

4》天線的固定方便快捷，天線吸附帶有真空吸附功能；

5》整體加工零件表面采用硬質(zhì)化處理，大方美觀。

操作流程：

1》固定天線到預(yù)定位置，打開(kāi)真空；

2》調(diào)整顯微鏡，能很清晰看到芯片位置；

3》微調(diào)推力測(cè)試儀至芯片正前方，確定推刀高度；

4》前移推力測(cè)試儀，推芯片；

5》察看推力測(cè)試儀記錄的大推力值，記錄下來(lái)作為終測(cè)試數(shù)值；

6》如此循環(huán)上面的操作。