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上海智與懋檢測(cè)儀器設(shè)備有限公司
閱讀:70發(fā)布時(shí)間:2024-2-29
新一代晶圓測(cè)溫技術(shù)——TC wafer系統(tǒng)
TC-WAFER晶圓測(cè)溫系統(tǒng)應(yīng)用于高低溫晶圓探針臺(tái),測(cè)量精度可達(dá)mk級(jí)別,可以多區(qū)測(cè)量晶圓特定位置的溫度真實(shí)值,也可以精準(zhǔn)描繪晶圓整體的溫度分布情況,還可以監(jiān)控半導(dǎo)體設(shè)備控溫過程中晶圓發(fā)生的溫度變化,了解升溫、降溫以及恒溫過程中設(shè)備的有效性。
智測(cè)電子還提供整個(gè)實(shí)驗(yàn)室過程的有線溫度計(jì)量,保證溫度傳感器的長(zhǎng)期測(cè)量精度。
合肥智測(cè)電子致力于高精度溫測(cè)、溫控設(shè)備的生產(chǎn)和研發(fā)定制,為半導(dǎo)體設(shè)備提供可靠的國(guó)產(chǎn)解決方案
TC為熱電偶(Thermocouple)的簡(jiǎn)稱。Tc Wafer熱電偶則是直接鑲嵌于晶圓表面的溫度傳感器,可以實(shí)現(xiàn)晶圓表面溫度的實(shí)時(shí)測(cè)量。借助于放置在晶圓表面特定位置之溫度傳感器,可獲得這些特定位置的真實(shí)溫度測(cè)量值以及整天晶圓溫度分布;同時(shí),也可利用此傳感器來持續(xù)監(jiān)控在熱處理工程中晶圓暫態(tài)溫度變化,例如:升溫,降溫過程及延遲周期等。(溫度的均勻與否,良率)
TC Wafer主要應(yīng)用于PVD設(shè)備,CVD設(shè)備,RTA設(shè)備等半導(dǎo)體設(shè)備工藝溫度均一性檢測(cè),用于判定半導(dǎo)體制程工藝是否存在溫度工藝缺陷的重要手段。
如有其他問題,請(qǐng)隨時(shí)提問,我將竭誠(chéng)為您提供幫助。
* 測(cè)量范圍和精度可以根據(jù)您的要求進(jìn)行調(diào)整;
* 溫度響應(yīng)時(shí)間可以控制在微秒級(jí)別;
* 傳感器的材料和工藝可以滿足特定的應(yīng)用需求;
* 可以提供即插即用的安裝方式和數(shù)據(jù)采集系統(tǒng)。
我們可以根據(jù)您的具體需求,提供最合適的TC wafer傳感器解決方案,以確保生產(chǎn)過程的穩(wěn)定性和產(chǎn)品質(zhì)量。如有需要,請(qǐng)聯(lián)系我們獲取更多信息或定制服務(wù)。
TC-Wafer晶圓測(cè)溫系統(tǒng) |
高低溫探針臺(tái)晶圓測(cè)溫系統(tǒng) |
商鋪:http://towegas.com/st170442/
主營(yíng)產(chǎn)品:溫度驗(yàn)證儀,無線溫度驗(yàn)證儀,蒸汽品質(zhì)測(cè)試儀,熱電偶檢定爐,恒溫槽,冰點(diǎn)器
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