可程式冷熱循環(huán)試驗(yàn)箱

用途：
該設(shè)備主要是測(cè)試產(chǎn)品在高溫、低溫瞬間變化的氣候環(huán)境下的貯存、運(yùn)輸和使用時(shí)的性能試驗(yàn)，主要用于對(duì)電工、電子產(chǎn)品、元器件、零部件、金屬材料及其在模擬高溫、低溫時(shí)溫度瞬間變化的氣候條件下的適應(yīng)性試驗(yàn)，對(duì)產(chǎn)品的物理以及其它相關(guān)性能進(jìn)行測(cè)試：
1.在研制階段用以暴露試制產(chǎn)品各方面的缺陷，評(píng)價(jià)產(chǎn)品可靠性達(dá)到預(yù)定指標(biāo)的情況；
2.生產(chǎn)階段為監(jiān)控生產(chǎn)過(guò)程提供信息；
3.對(duì)定型產(chǎn)品進(jìn)行可靠性鑒定或驗(yàn)收；
4.暴露和分析產(chǎn)品在不同環(huán)境和應(yīng)力條件下的失效規(guī)律及有關(guān)的失效模式和失效機(jī)理；
5.為改進(jìn)產(chǎn)品可靠性，制定和改進(jìn)可靠性試驗(yàn)方案，為用戶選用產(chǎn)品提供依據(jù)。

技術(shù)參數(shù)

皓天冷熱沖擊試驗(yàn)箱圖片：

可程式冷熱循環(huán)試驗(yàn)箱

樣品隔層架對(duì)試驗(yàn)物的承重量：2.5kg以內(nèi)，如有超重的測(cè)試物請(qǐng)下單時(shí)注明。
高溫上升時(shí)間約：40min
低溫下降時(shí)間約：80min
高溫槽溫度zui高可儲(chǔ)存至：60℃~200℃
低溫槽溫度zui低可儲(chǔ)存至：-70℃~-10℃
溫度移動(dòng)沖擊時(shí)間在：10秒鐘內(nèi)
溫度沖擊恢復(fù)穩(wěn)定時(shí)間在：3~5分鐘內(nèi)

此設(shè)備分為高溫區(qū)、低溫區(qū)、測(cè)試區(qū)三部分，測(cè)試樣品*靜止。采用*之蓄熱、蓄冷結(jié)構(gòu)，

強(qiáng)制冷熱風(fēng)路切換方式導(dǎo)入測(cè)試區(qū)，完成冷熱溫度沖擊測(cè)試。