PCT加速老化試驗(yàn)箱是用于測(cè)試產(chǎn)品抗?jié)駳饽芰?，待測(cè)產(chǎn)品被置于嚴(yán)苛之溫度、濕度及壓力下測(cè)試，濕氣會(huì)沿者膠體或膠體與導(dǎo)線(xiàn)架之接口滲入封裝體，多層線(xiàn)路板、光伏組件、EVA、IC、LED、LCD、磁性材料、高分子材料等產(chǎn)品之密封性能的檢測(cè),測(cè)試其制品的耐壓性,氣密性。

    PCT加速老化試驗(yàn)箱是由一個(gè)壓力容器組成，壓力容器包括一個(gè)能產(chǎn)生*（潤(rùn)濕）環(huán)境的水加熱器，待測(cè)品經(jīng)過(guò)PCT試驗(yàn)所出現(xiàn)的不同失效可能是大量水氣凝結(jié)滲透所造成的。加速老化試驗(yàn)箱的老化試驗(yàn)zui主要是將待測(cè)品置于嚴(yán)苛之溫度、飽和濕度(*R.H.)[飽和水蒸氣]及壓力環(huán)境下測(cè)試，測(cè)試代測(cè)品耐高濕能力，針對(duì)印刷線(xiàn)路板(PCB&FPC)，用來(lái)進(jìn)行材料吸濕率試驗(yàn)、高壓蒸煮試驗(yàn)..等試驗(yàn)?zāi)康?，如果待測(cè)品是半導(dǎo)體的話(huà)，則用來(lái)測(cè)試半導(dǎo)體封裝之抗?jié)駳饽芰?，待測(cè)品被放置嚴(yán)苛的溫濕度以及壓力環(huán)境下測(cè)試，如果半導(dǎo)體封裝的不好，濕氣會(huì)沿者膠體或膠體與導(dǎo)線(xiàn)架之接口滲入封裝體之中。

   

PCT加速老化試驗(yàn)箱使用注意事項(xiàng)：

    1、電源設(shè)備:應(yīng)在供電線(xiàn)路中裝有超負(fù)荷的保險(xiǎn)絲裝置，供此箱特種，并具有良好接地裝置。

    2、試料準(zhǔn)備:將試品逐一編號(hào)后，將試品放置于試品轉(zhuǎn)盤(pán)上，彼此以不相互接觸和碰撞為宜。

    3、待一切準(zhǔn)備就緒，即關(guān)上箱門(mén)。

    關(guān)閉控制系統(tǒng)各個(gè)開(kāi)關(guān)，將電源插撲插上打開(kāi)電源開(kāi)關(guān)轉(zhuǎn)盤(pán)即自動(dòng)轉(zhuǎn)動(dòng)，同時(shí)控制系統(tǒng)的電源指示燈即亮，若須升溫必須打開(kāi)開(kāi)關(guān)(即高溫開(kāi)關(guān)和低溫開(kāi)關(guān))，然后調(diào)節(jié)全自動(dòng)控制系統(tǒng)

    5、儀器外殼必須有效接地，以保證使用安全。

    6、儀器應(yīng)放在通風(fēng)良好的室內(nèi)水平位置，在其周?chē)豢煞胖靡兹家妆锲贰?/div>