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      廣東宏展科技有限公司
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      高低溫沖擊循環(huán)試驗(yàn)箱,鍵盤冷熱沖擊測試箱

      參  考  價面議
      具體成交價以合同協(xié)議為準(zhǔn)

      產(chǎn)品型號TSL

      品       牌

      廠商性質(zhì)生產(chǎn)商

      所  在  地東莞市

      更新時間:2022-04-26 10:41:27瀏覽次數(shù):154次

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      高低溫沖擊循環(huán)試驗(yàn)箱,鍵盤冷熱沖擊測試箱用于電子、電工產(chǎn)品和其他設(shè)備在周圍大氣溫度急劇變化條件下的適應(yīng)性試驗(yàn),也是篩選電子元器件初期故障的助手,規(guī)格系列齊全 –提籃式、三廂式、水平移動三種沖擊模式可供用戶選擇,充分滿足不同用戶的各種要求;設(shè)備還可提供標(biāo)準(zhǔn)高低溫試驗(yàn)功能,實(shí)現(xiàn)了溫度沖擊和高低溫試驗(yàn)的共同兼容;高強(qiáng)度、高可靠性的結(jié)構(gòu)設(shè)計- 確保了設(shè)備的高可靠性;

      高低溫沖擊循環(huán)試驗(yàn)箱,鍵盤冷熱沖擊測試箱

      用途:冷熱沖擊試驗(yàn)箱是金屬、塑料、橡膠、電子等材料行業(yè)*的測試設(shè)備,用于測試材料結(jié)構(gòu)或復(fù)合材料,在瞬間下經(jīng)*溫及極低溫的連續(xù)環(huán)境下忍受的程度,得以在zui短時間內(nèi)檢測試樣因熱脹冷縮所引起的化學(xué)變化或物理傷害。

      鍵盤溫度沖擊試驗(yàn)方案

      a) 測試方案:將裝配好的整機(jī)放置在將溫度沖擊試驗(yàn)箱中:先在-40℃±2℃的低溫環(huán)境下保持1 h,在1min內(nèi)將溫度切換到80℃±2℃的高溫環(huán)境下并保持1h ,共做10個循環(huán)(20h),樣品取出后在室溫下面放置2 h以上。拆開整機(jī)將拱形薄膜從PCB板上撕掉后檢查Dome有無從薄膜上脫落、測試Dome及EMI層的電阻值、并測試Dome彈片的回彈曲線。

      b) 通過準(zhǔn)則:Dome沒有從拱形薄膜上脫落;Dome的阻值小于 1.0 Ω(測試方法見15.3條)、EMI層的阻值小于 2.5 Ω;按鍵行程(Stroke)、接觸力(P1)、回彈比率(Cc)符合15.4節(jié)的要求。

      高低溫沖擊循環(huán)試驗(yàn)箱,鍵盤冷熱沖擊測試箱

      型 號

      TSL-80-A

      TSU-80-W

      TSS-80-W

      TSL-150-A

      TSU-150-W

      TSS-150-W

      TSL-225-W

      TSU-225-W

      TSS-225-W

      TSL-408-W

      TSU-408-W

      TSS-408-W

      標(biāo)稱內(nèi)容積(升)

      80

      150

      200

      300

      試驗(yàn)方式

      氣動風(fēng)門切換2溫室或3溫室方式

      性能

      高溫室

      預(yù)熱溫度范圍

      +60~+200℃

      升溫速率※1

      +60→+200℃≤20分鐘

      低溫室

      預(yù)冷溫度范圍

      -78-0℃

      降溫速率※1

      +20→-75℃≤80分鐘

      試驗(yàn)室

      溫度偏差

      ±2℃

      溫度范圍

      TSL:(+60→+125)℃→(-40--10)℃;

      TSU:(+60~+150)℃~(-55~-10)℃;

      TSS:(+60~+150)℃~(-65~-10)℃

      溫度恢復(fù)時間※2

      5分鐘以內(nèi)

      試樣擱架承載能力

      30kg

      試樣重量

      7.5kg

      7.5kg

      10kg

      10kg

      內(nèi)部尺寸(mm)

      W

      500

      600

      750

      850

      H

      400

      500

      500

      600

      D

      400

      500

      600

      800

      外形尺寸(mm)※4

      W

      1460

      1560

      1710

      1880

      H

      1840

      1940

      1940

      2040

      D

      1500

      1600

      1700

      1900

      ※1溫度上升和溫度下降均為各恒溫試驗(yàn)箱單獨(dú)運(yùn)轉(zhuǎn)時的性能。

      ※2恢復(fù)條件:室溫為+25℃和循環(huán)水溫為+25℃,試樣是塑料封裝集成電路。(均布)

      滿足標(biāo)準(zhǔn)
      1、GB/T2423.1-1989低溫試驗(yàn)方法;
      2、GB/T2423.2-1989高溫試驗(yàn)方法;
      3、GB/T2423.22-1989溫度變化試驗(yàn);
      4、GJB150.5-86溫度沖擊試驗(yàn);
      5、GJB360.7-87溫度沖擊試驗(yàn);
      6、GJB367.2-87 405溫度沖擊試驗(yàn)。
      7、SJ/T10187-91Y73系列溫度變化試驗(yàn)箱——一箱式
      8、SJ/T10186-91Y73系列溫度變化試驗(yàn)箱——二箱式
      9、滿足標(biāo)準(zhǔn)IEC68-2-14_試驗(yàn)方法N_溫度變化
      10、GB/T 2424.13-2002試驗(yàn)方法溫度變化試驗(yàn)導(dǎo)則
      11、GB/T 2423.22-2002溫度變化
      12、QC/T17-92汽車零部件耐候性試驗(yàn)一般規(guī)則
      13、EIA 364-32熱沖擊(溫度循環(huán))測試程序的電連接器和插座的環(huán)境影響評估

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