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      廣東宏展科技有限公司
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      當(dāng)前位置:廣東宏展科技有限公司>>冷熱沖擊試驗(yàn)箱>>四川冷熱沖擊試驗(yàn)箱>> 半導(dǎo)體溫度沖擊試驗(yàn)半導(dǎo)體溫度沖擊老化試驗(yàn)箱

      半導(dǎo)體溫度沖擊老化試驗(yàn)箱

      參  考  價(jià)面議
      具體成交價(jià)以合同協(xié)議為準(zhǔn)

      產(chǎn)品型號(hào)半導(dǎo)體溫度沖擊試驗(yàn)

      品       牌

      廠商性質(zhì)生產(chǎn)商

      所  在  地東莞市

      更新時(shí)間:2022-08-19 17:16:32瀏覽次數(shù):168次

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      半導(dǎo)體溫度沖擊老化試驗(yàn)箱用來(lái)測(cè)試材料結(jié)構(gòu)或復(fù)合材料,在瞬間下經(jīng)*溫及極低溫的連續(xù)環(huán)境下所能忍受的程度, 藉以在Z短時(shí)間內(nèi)試驗(yàn)其因熱脹冷縮所引起的化學(xué)變化或物理傷害.適用的對(duì)象包括金屬, 塑料, 橡膠, 電子....等材料,可作為其產(chǎn)品改進(jìn)的依據(jù)或參考。

      半導(dǎo)體溫度沖擊老化試驗(yàn)箱

      簡(jiǎn)介:冷熱沖擊試驗(yàn)機(jī),用來(lái)測(cè)試材料結(jié)構(gòu)或復(fù)合材料,在瞬間下經(jīng)*溫及極低溫的連續(xù)環(huán)境下所能忍受的程度,藉以在zui短時(shí)間內(nèi)試驗(yàn)其熱脹冷縮所引起的化學(xué)變化或物理傷害。適合電子、電器、車輛、金屬、化學(xué)、建材、通訊組件、國(guó)防工業(yè)、航天工業(yè)、電子芯片IC、IT等物理性變化的測(cè)試之用。我司生產(chǎn)的冷熱沖擊試驗(yàn)機(jī)質(zhì)量好,價(jià)格優(yōu),免費(fèi)保養(yǎng),歡迎采購(gòu)。

      設(shè)備規(guī)格系列齊全 –提籃式、三廂式、水平移動(dòng)三種沖擊模式可供用戶選擇,充分滿足不同用戶的各種要求;設(shè)備還可提供標(biāo)準(zhǔn)高低溫試驗(yàn)功能,實(shí)現(xiàn)了溫度沖擊和高低溫試驗(yàn)的共同兼容;高強(qiáng)度、高可靠性的結(jié)構(gòu)設(shè)計(jì)- 確保了設(shè)備的高可靠性;、

      半導(dǎo)體 溫度沖擊老化試驗(yàn)箱

      產(chǎn)品用途

      該產(chǎn)品適用于電子元?dú)饧陌踩阅軠y(cè)試提供可靠性試驗(yàn)、產(chǎn)品篩選試驗(yàn)等,同時(shí)通過(guò)此裝備試驗(yàn),可提高產(chǎn)品的可靠性和進(jìn)行產(chǎn)品的質(zhì)量控制。高低溫沖擊試驗(yàn)箱是航空、汽車、家電、科研等領(lǐng)域*的測(cè)試設(shè)備,考核和確定電工、電子、汽車電器、半導(dǎo)體、材料等產(chǎn)品,在進(jìn)行高低溫試驗(yàn)的溫度環(huán)境沖擊變化后的參數(shù)及性能,使用的適應(yīng)性,適用于學(xué)校,工廠,,研位,等單位.

      機(jī)械鈑金結(jié)構(gòu)

      全部功能采用計(jì)算機(jī)控制,系自主開發(fā)的軟件,有良好的操作界面,使用戶的操作和監(jiān)測(cè)都更加簡(jiǎn)單和直觀,保持功能可以使你正在運(yùn)行的程序保持在目前的狀態(tài)下,可以臨時(shí)更改此程序段的數(shù)值,可以在屏幕上設(shè)置時(shí)間和參數(shù),使制冷、加熱、提藍(lán)傳送切換,按設(shè)定值自動(dòng)進(jìn)行。

      冷箱、熱箱獨(dú)立控制,箱門互相獨(dú)立,擴(kuò)大試驗(yàn)箱的使用范圍(一箱三用)。

      產(chǎn)品保溫效果可以得到充分保證。

      試驗(yàn)箱門與循環(huán)風(fēng)機(jī),提藍(lán)傳動(dòng)等互鎖,保護(hù)操作者的安全,一旦打開箱門,循環(huán)風(fēng)機(jī)和提藍(lán)傳動(dòng)的電源會(huì)被自動(dòng)切斷。

      在箱頂有標(biāo)準(zhǔn)引線孔管,方便用戶向箱內(nèi)引入傳感器線,檢測(cè)電纜等類型引線。

      半導(dǎo)體溫度沖擊老化試驗(yàn)箱

      控制系統(tǒng)

      低溫區(qū)、高溫區(qū)轉(zhuǎn)換時(shí)間小于等于15秒。

      溫度恢復(fù)時(shí)間小于等于5分鐘。

      半導(dǎo)體 溫度沖擊老化試驗(yàn)箱

      規(guī)范要求:

      a.采用鋁片驗(yàn)證機(jī)臺(tái)負(fù)載能力(非塑料負(fù)載)
      b.傳感器放置測(cè)試區(qū)而非風(fēng)道口符合實(shí)驗(yàn)有效性
      a.進(jìn)行兩箱沖擊時(shí)測(cè)試區(qū)濕度符合規(guī)范要求
      b.可擴(kuò)充待測(cè)品表面溫度控制駐留時(shí)間來(lái)縮短試驗(yàn)時(shí)間
      c.可直接多項(xiàng)規(guī)范與試驗(yàn)條件

      *設(shè)備特點(diǎn)
      規(guī)格系列齊全 –提籃式、三廂式、水平移動(dòng)三種沖擊模式可供用戶選擇,充分滿足不同用戶的各種要求;
      設(shè)備還可提供標(biāo)準(zhǔn)高低溫試驗(yàn)功能,實(shí)現(xiàn)了溫度沖擊和高低溫試驗(yàn)的共同兼容;
      高強(qiáng)度、高可靠性的結(jié)構(gòu)設(shè)計(jì)- 確保了設(shè)備的高可靠性;
      工作室材料為SUS304不銹鋼 - 抗腐蝕、冷熱疲勞功能強(qiáng),使用壽命長(zhǎng);
      高密度聚氨酯發(fā)泡絕熱材料- 確保將熱量散失減到zui?。?/span>
      表面噴塑處理- 保證設(shè)備的持久防腐功能和外觀壽命;
      高強(qiáng)度耐溫硅橡膠密封條 – 確保了設(shè)備大門的高密封性;
      多種可選功能(測(cè)試孔、記錄儀、測(cè)試電纜等)保證了用戶多種功能和測(cè)試的需要;
      大面積電熱防霜觀察窗、內(nèi)藏式照明 –可以提供良好的觀察效果;
      環(huán)保型制冷劑 –確保設(shè)備更加符合您的環(huán)境保護(hù)要求;

      *可根據(jù)用戶要求定制尺寸/定制使用指標(biāo)/定制各種選配功能

      半導(dǎo)體 溫度沖擊老化試驗(yàn)箱

      型 號(hào)

      TSL-80-A
      TSU-80-W
      TSS-80-W

      TSL-150-A
      TSU-150-W
      TSS-150-W

      TSL-225-W
      TSU-225-W
      TSS-225-W

      TSL-408-W
      TSU-408-W
      TSS-408-W

      標(biāo)稱內(nèi)容積(升)

      80

      150

      200

      300

      試驗(yàn)方式

      氣動(dòng)風(fēng)門切換2溫室或3溫室方式

      性能

      高溫室

      預(yù)熱溫度范圍

      +60~+200℃

      升溫速率※1

      +60→+200℃≤20分鐘

      低溫室

      預(yù)冷溫度范圍

      -78-0℃

      降溫速率※1

      +20→-75℃≤80分鐘

      試驗(yàn)室

      溫度偏差

      ±2℃

      溫度范圍

      TSL:(+60→+125)℃→(-40--10)℃;
      TSU:(+60~+150)℃~(-55~-10)℃;
      TSS:(+60~+150)℃~(-65~-10)℃

      溫度恢復(fù)時(shí)間※2

      5分鐘以內(nèi)

      試樣擱架承載能力

      30kg

      試樣重量

      7.5kg

      10kg

      10kg

      內(nèi)部尺寸(mm)

      W

      500

      600

      750

      850

      H

      400

      500

      500

      600

      D

      400

      500

      600

      800

      外形尺寸(mm)

      W

      1460

      1560

      1710

      1880

      H

      1840

      1940

      1940

      2040

      D

      1500

      1600

      1700

      1900

      ※1溫度上升和溫度下降均為各恒溫試驗(yàn)箱單獨(dú)運(yùn)轉(zhuǎn)時(shí)的性能。

      ※2恢復(fù)條件:室溫為+25℃和循環(huán)水溫為+25℃,試樣是塑料封裝集成電路。(均布)

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