一、產(chǎn)品特點(diǎn)

1、主要核心配件均采用*，如法國(guó)泰康/德國(guó)谷輪，日本路宮/和泉/三菱，

施耐德，美國(guó)快達(dá)/杜邦冷媒，丹麥(DANFOSS)，瑞典（AlfaLaval）等配件。

2、蓄熱式冷熱溫度沖擊測(cè)試機(jī)采用大屏進(jìn)口控制器，控制器模式相比其他國(guó)產(chǎn)控制更為精準(zhǔn)；

3、自動(dòng)分析負(fù)載，自動(dòng)調(diào)節(jié)功率，相比其他同行至少節(jié)能20%。

4、內(nèi)置多項(xiàng)安全保護(hù)措施，自動(dòng)診斷故障

5、內(nèi)膽采用SUS不銹鋼，延長(zhǎng)使用壽命。

6、采用三箱控制，儲(chǔ)冷區(qū)、儲(chǔ)熱區(qū)、試驗(yàn)區(qū)為獨(dú)立空間

二、簡(jiǎn)單介紹

蓄熱式冷熱溫度沖擊測(cè)試機(jī)用于電子電器零組件、自動(dòng)化零部件、LED光電、LED顯示器、LED燈珠、通訊組件、汽車配件、金屬、塑膠等行業(yè)，國(guó)防工業(yè)、航天、兵工業(yè)、電子芯片IC、 半導(dǎo)體陶瓷及高分子材料之物理性變化,測(cè)試其材料對(duì)高、低溫的反復(fù)抵拉力及產(chǎn)品于熱脹冷縮產(chǎn)出的化學(xué)變化或物理傷害，可確認(rèn)產(chǎn)品的品質(zhì),從精密的IC到重機(jī)械的組件，無一不需要它的理想測(cè)試工具。

三、滿足標(biāo)準(zhǔn)

GB/T2423.1-1989 電工電子產(chǎn)品基本試驗(yàn)規(guī)程試驗(yàn)A：低溫試驗(yàn)方法

GB/T2423.2-1989電工電子產(chǎn)品基本試驗(yàn)規(guī)程試驗(yàn)B：高溫試驗(yàn)方法

GJB360.7-87 溫度沖擊試驗(yàn)

SJ/T10187-91Y73 系列溫度變化試驗(yàn)箱—箱式

GJB150.3-86     GJB150.5-86 

GJB150.4-86 電子冷熱沖擊試驗(yàn)箱，電子產(chǎn)品冷熱沖擊試驗(yàn)箱，電子產(chǎn)品冷熱沖擊試驗(yàn)機(jī)

四、產(chǎn)品型號(hào)及技術(shù)參數(shù)：（W×H×D mm）

JR-WD-50 內(nèi)箱尺寸：350×350×400 外箱尺寸：1560×1750×1440

JR-WD-80 內(nèi)箱尺寸：500×400×400 外箱尺寸：1700×1800×1440

JR-WD-100 內(nèi)箱尺寸：600×400×400 外箱尺寸：1800×1800×1440

JR-WD-150 內(nèi)箱尺寸：600×500×500 外箱尺寸：1800×1900×1540

JR-WD-252 內(nèi)箱尺寸：700×600×600 外箱尺寸：1900×2000×1640

JR-WD-480 內(nèi)箱尺寸：800×800×750 外箱尺寸：2020×2250×2150

高溫箱： +60℃～180℃

低溫箱： 0℃～-70℃

溫度波動(dòng)度：±0.5℃

溫度均勻：±2℃;

升溫速率：≤5℃/min

降溫速率：≤5℃/min

預(yù)冷下限溫度：≤-70℃;

溫度范圍：B:-40~+150℃、C:-55~+150℃、D:-60~+150℃

電源：380V±10﹪50Hz