當前位置:東莞市愛佩試驗設備有限公司>>大型恒溫恒濕試驗箱>>可程式恒溫恒濕試驗箱>> AP-HX恒溫恒濕冷凍試驗箱
參 考 價 | 面議 |
主要性能:
溫度測試范圍可選擇: A:0℃~150℃;B:-20℃~150℃;C:-40℃~150℃;D:-70℃~150℃
濕度測試行業(yè)標準范圍:20~98%RH
波動/均勻度 ≤±0.5 ℃/±2℃,±2.5 %RH/+2~3%RH
降溫時間 20℃~-20℃約35min 20℃~-40℃約55min 20℃~-70℃約80min
升溫時間 -20℃~100℃約35min 20℃~100℃約35min 20℃~100℃約35min
恒溫恒濕冷凍試驗箱常用于測試和試驗確定電工、電子、電器及其它工業(yè)產品、材料進行恒溫、恒濕、高低溫交變濕熱或恒定濕熱試驗各種樣品在人為的溫度環(huán)境下使用、擺設、貯存的參數(shù)及性能。適合LED、光電、電器、通訊、電子、儀表、化學、車輛、塑膠制品、金屬、建材、醫(yī)療、食品、航天等制品檢測質量或研發(fā)之用。
東莞市愛佩試驗設備有限公司是專業(yè)生產恒溫恒濕冷凍試驗箱的直銷廠家,本公司生產的恒溫恒濕設備適合任何實驗室使用。愛佩品牌恒溫恒濕設備滿足GB/T 2423.34-2012 環(huán)境試驗 第2部分:試驗方法 試驗ZAD:溫度濕度組合循環(huán)試驗;GB/T5170.2-2008 電工電子產品環(huán)境試驗設備檢驗方法 溫度試驗設備;GB/T2423.2-2008電工電子產品基本環(huán)境試驗規(guī)程 試驗B:高溫試驗方法;GB/T 5170.5-2008 電工電子產品環(huán)境試驗設備檢驗方法 濕熱試驗設備;GB/T2423.1-2008電工電子產品基本環(huán)境試驗規(guī)程 試驗A:低溫試驗方法;GB/T 2423.3-2008電工電子產品基本環(huán)境試驗規(guī)程 試驗Ca:恒定濕熱試驗方法;GB/T 2423.22-2002電工電子產品基本環(huán)境試驗規(guī)程 試驗N 溫度變化試驗方法;GB/T 2423.4-2008 電工電子產品環(huán)境試驗 第2部分:試驗方法 試驗Db: 交變濕熱(12h+12h循環(huán));GB/T 10589-2008《低溫試驗箱技術條件》;GB/T10592-2008《高、低溫試驗箱技術條件》;GB/T 10586-2006《濕熱試驗箱技術條件》。
請輸入賬號
請輸入密碼
請輸驗證碼
以上信息由企業(yè)自行提供,信息內容的真實性、準確性和合法性由相關企業(yè)負責,智能制造網(wǎng)對此不承擔任何保證責任。
溫馨提示:為規(guī)避購買風險,建議您在購買產品前務必確認供應商資質及產品質量。