恒溫設(shè)備冷熱沖擊試驗(yàn)箱/沖擊試驗(yàn)低溫箱主要技術(shù)指標(biāo)：
溫度范圍：高溫箱： 60℃～200℃；
低溫箱： 0℃～-70℃；
溫度波動(dòng)度：±0.5℃;
溫度均勻：±2℃;
升溫速率：≤5℃/min； (全程平均)
降溫速率：≤5℃/min；； (全程平均)
預(yù)冷下限溫度：≤-70℃;
沖擊溫度： 150～-60℃;
樣品架尺寸:150×150mm;
溫度恢復(fù)時(shí)間： 5min;
樣品架轉(zhuǎn)換時(shí)間：≤10s;
沖擊方式：上下移動(dòng)提籃式或翻板式
電源：380V±10﹪ 50Hz

恒溫設(shè)備冷熱沖擊試驗(yàn)箱/沖擊試驗(yàn)低溫箱有以下特點(diǎn)：
1.采用原裝日制或者韓制的微電腦大型液晶LCD觸摸屏中英文可隨意切換顯示的控制器作為主要系統(tǒng)。 
2.此試驗(yàn)設(shè)備的箱體結(jié)婚分為三部分，分別為低溫儲(chǔ)蓄冷量區(qū)（冷沖擊時(shí)用），高溫儲(chǔ)蓄熱量區(qū)（熱沖擊時(shí)用），產(chǎn)品測(cè)試擺放區(qū)（冷熱沖擊試驗(yàn)時(shí)用），測(cè)試產(chǎn)品*靜止的擺放在產(chǎn)品測(cè)試擺放區(qū)的隔層架上，通過控制器指令把冷溫或者熱溫通過氣體找開閥門快速灌進(jìn)來(lái)從而達(dá)到?jīng)_擊的目的。
3.此試驗(yàn)設(shè)備還可獨(dú)立設(shè)定高溫、低溫及高低溫沖擊三種不同試驗(yàn)條件的功能做測(cè)試，執(zhí)行高低溫沖擊或才冷熱沖擊條件時(shí)，可選擇兩箱式或三箱式的結(jié)構(gòu)，除了可以做快速?zèng)_擊試驗(yàn)效果外還并具有高低溫試驗(yàn)箱的普通功能。
4.高程序記憶容量，可設(shè)定儲(chǔ)存 100 組程序，zui大循環(huán)設(shè)定 9999 Cycles，每段時(shí)間zui大設(shè)定 999 Hrs    59Mins。 
5.具有RS-232C通信接口裝置，還可以加配USB直接用U盤導(dǎo)出測(cè)試數(shù)據(jù)，可與計(jì)算機(jī)聯(lián)機(jī)操控／編輯／記錄及二組動(dòng)態(tài)接點(diǎn)（Time Signal  Relay），使用便捷。  
6.冷熱沖擊試驗(yàn)設(shè)備故障時(shí)，配有自動(dòng)機(jī)回路及警示訊號(hào)。發(fā)現(xiàn)輸入電力不穩(wěn)定時(shí)，具有緊急停機(jī)裝置。
7.具備全自動(dòng)，高精度系統(tǒng)回路，任一機(jī)件動(dòng)作，*由P.L.C. 鎖定處理。 
產(chǎn)品名稱:冷箱式冷熱沖擊機(jī) 冷熱沖擊試驗(yàn)設(shè)備
產(chǎn)品型號(hào):3AP-CJ-27
工作室尺寸： 300×300×300mm; （深×寬×高）
冷熱沖擊試驗(yàn)箱適用于電子、汽車配件、塑膠等行業(yè)，測(cè)試各種材料對(duì)高、低溫的反復(fù)沖擊能力。檢測(cè)產(chǎn)品于熱脹冷縮所產(chǎn)生的化學(xué)變化或物理傷害，確保產(chǎn)品的品質(zhì)。
滿足標(biāo)準(zhǔn)：產(chǎn)品滿足CNSMIL、IEC、JIS、等標(biāo)準(zhǔn)

愛佩科技的售后服務(wù):
用戶的滿意是我們服務(wù)的宗旨，完善的售后服務(wù)使您解除一切后顧之憂，我們堅(jiān)信一個(gè)好的企業(yè)賣出去的不僅僅是一臺(tái)好的產(chǎn)品，更重要的是良好的服務(wù)。東莞市愛佩試驗(yàn)設(shè)備有限公司負(fù)責(zé)對(duì)本公司產(chǎn)品提供以下售后服務(wù)：
1.技術(shù)培訓(xùn)：操作使用、日常維護(hù)保養(yǎng)、常見故障檢測(cè)和排除
2.定期回訪：設(shè)備巡檢，排除故障隱患，傳遞消息
3.備品、備件專項(xiàng)儲(chǔ)備支持
4.售后服務(wù)部提供維修服務(wù)的快速響應(yīng)
5.專職維修人員確保及時(shí)、有效地排除故障

滿足以下標(biāo)準(zhǔn)
GB/T 10592 -2008 高低溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件
GB/T 2423.1-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分：試驗(yàn)方法試驗(yàn)A：低溫
GB/T 2423.2-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分：試驗(yàn)方法試驗(yàn)B：高溫
GB/T 5170.1-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備檢驗(yàn)方法 總則