電路成品高低溫測(cè)試箱/高低溫交變?cè)囼?yàn)箱哪家好？均是提供給充電座產(chǎn)品或者配件做高低溫復(fù)雜環(huán)境模擬實(shí)驗(yàn)或者試驗(yàn)用的。充電座是指：連帶充電設(shè)備和充電器為一體的充電系統(tǒng)。一般的充電座都會(huì)配一一個(gè)底座，外形有點(diǎn)像托盤型的，把手機(jī)或者電池放在上面，不用連接充電線，就可以為手機(jī)或者電池充電。有時(shí)候電子產(chǎn)品在充電的時(shí)候會(huì)有發(fā)熱發(fā)湯的現(xiàn)象，有時(shí)又可能會(huì)遇到冷空氣或者人工降溫如空調(diào)房下使用，充電座高低溫實(shí)驗(yàn)箱、充電座高低溫試驗(yàn)箱就是為了提前預(yù)知或者測(cè)試充電座有可能在不同高低溫環(huán)境下的使用或者陳放時(shí)是否會(huì)影響到它的壽命或者性能。

電路成品高低溫測(cè)試箱/高低溫交變?cè)囼?yàn)箱哪家好？選型資料如下：

高低溫實(shí)驗(yàn)箱型號(hào):AP-GD-80 /AP-GD-150 /AP-GD-225 /AP-GD-408 /AP-GD-800/AP-GD-1000（更多型號(hào)在愛佩）

內(nèi)箱尺寸（寬W×高H×深D）cm:80L:40×50×40, 150L:50×60×50, 225L:50×75×60,408L:60×85×80, 800L:100×100×80,1000L:100×100×100

外箱尺寸（寬W×高H×深D）cm:80L:93×131×81,150L:103×141×91, 225L:108×162×112,408L:117×172×132, 800L:160×187×132, 1000L:150×195×165

容積（升=L） :80L,150L,225L,408L,800L,1000L

溫度笵圍:0℃～150℃、-20℃～150℃、-40℃～150℃、-70℃～150℃

升溫速度 :RT～150℃約40min

降溫速度:20℃～0℃約25min,20℃～-20℃約40min,20℃～-40℃約60min,20℃～-70℃約100min

溫度分布均度 :±2℃

溫度波動(dòng)度:±0.5℃

程控 :120組1200段編程，999次循環(huán)設(shè)定，并附多組PID控制功能，附RS-232計(jì)算機(jī)接口控制。

執(zhí)行與滿足標(biāo)準(zhǔn)

GB/T5170.2-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備檢驗(yàn)方法 溫度試驗(yàn)設(shè)備

GB/T2423.1-2008電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程 試驗(yàn)A：低溫試驗(yàn)方法；

GB/T2423.2-2008電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程 試驗(yàn)B：高溫試驗(yàn)方法；

GB/T 2423.22-2002電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程  試驗(yàn)N 溫度變化試驗(yàn)方法；

GB/T10592-2008《高、低溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件》；

GB/T 10589-2008《低溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件》；。

MIL-STD810D方法502.2 美國標(biāo)準(zhǔn)；

IEC 68-2-1-1990 中文名稱: 基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程.第2部分:第1節(jié).試驗(yàn).試驗(yàn)A:低溫試驗(yàn)

EC68-2-14_試驗(yàn)方法N_溫度變化