高低溫儲(chǔ)存試驗(yàn)箱/超低溫冷凍箱型號(hào)規(guī)格參數(shù)如下:
型號(hào)AP-GD-150  內(nèi)箱尺寸:W×H×D 400×500×400㎜   外箱尺寸：970×1360×970㎜
型號(hào)AP-GD-150  內(nèi)箱尺寸:W×H×D 500×600×500 ㎜   外箱尺寸：1070×1460×1070㎜
型號(hào)AP-GD-225  內(nèi)箱尺寸:W×H×D 500×750×600 ㎜   外箱尺寸：1070×1610×1170㎜
型號(hào)AP-GD-408  內(nèi)箱尺寸:W×H×D 600×850×800 ㎜   外箱尺寸：1170×1710×1270㎜
型號(hào)AP-GD-800  內(nèi)箱尺寸:W×H×D 1000×1000×800 ㎜ 外箱尺寸：1550×1840×1290㎜
型號(hào)AP-GD-1000 內(nèi)箱尺寸:W×H×D 1000×1000×1000㎜ 外箱尺寸：1550×1840×1470 ㎜ 
溫度范圍： －70℃～+150℃(可只選擇-40℃～+150℃；-20℃～+150℃；0℃～+150℃；)  
溫度波動(dòng)度：±0.5℃
溫度解析精度：0.01℃
溫度控制精度：±0.2℃
升溫/降溫時(shí)間：3.0℃/分鐘；1.0℃/分鐘

高低溫儲(chǔ)存試驗(yàn)箱/超低溫冷凍箱執(zhí)行與滿足標(biāo)準(zhǔn)
GB/T5170.2-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備檢驗(yàn)方法 溫度試驗(yàn)設(shè)備
GB/T2423.1-2008電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程 試驗(yàn)A：低溫試驗(yàn)方法；
GB/T2423.2-2008電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程 試驗(yàn)B：高溫試驗(yàn)方法；
GB/T 2423.22-2002電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程  試驗(yàn)N 溫度變化試驗(yàn)方法；
GB/T10592-2008《高、低溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件》；
GB/T 10589-2008《低溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件》；。
MIL-STD810D方法502.2 美國(guó)標(biāo)準(zhǔn)；
IEC 68-2-1-1990 中文名稱: 基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程.第2部分:第1節(jié).試驗(yàn).試驗(yàn)A:低溫試驗(yàn)
EC68-2-14_試驗(yàn)方法N_溫度變化

的安裝、售后服務(wù)
1 保證：充分保證滿足客戶的需求，達(dá)到客戶滿意的目的。
2.責(zé)任：愛佩科技負(fù)責(zé)為顧客提供試驗(yàn)機(jī)的備品、備件及技術(shù)培訓(xùn)工作。負(fù)責(zé)安裝和組織對(duì)操作人員的技術(shù)培訓(xùn)。及售后服務(wù)處理工作
3關(guān)于培訓(xùn)：
A. 可安排使用人員在設(shè)備出廠調(diào)試時(shí)來工廠進(jìn)行現(xiàn)場(chǎng)技術(shù)培訓(xùn)，使顧客了解試驗(yàn)機(jī)的性能，教會(huì)操作人員正確使用，減少試驗(yàn)機(jī)因使用不當(dāng)造成故障；
B.也可根據(jù)合約的條件要求，在為客戶安裝調(diào)試設(shè)備并投入使用時(shí)，進(jìn)行現(xiàn)場(chǎng)集體培訓(xùn)；