一體兩用涂層測厚儀型號:RR644-leeb252C庫號:M65217
鍵測量一體兩用涂層測厚儀磁性渦流快-速、無損-傷、地進(jìn)行涂、鍍層厚度的測量
涂層測厚儀符合以下標(biāo)準(zhǔn)
GB/T 4956--1985磁性金屬基體上非磁性覆蓋層厚度測量磁性方法
GB/T4957-1985非磁性金屬基體上非導(dǎo)電覆蓋層厚度測量渦流方法
JB/T 8393--1996磁性和渦流式覆層厚度測量儀
JJG 889--95《磁阻法測厚儀》
JJG818-93《電渦流式測厚儀》
體測厚儀裝箱配置
主機(jī)1臺
電池2節(jié)
校準(zhǔn)試片1套
合格證1份
鐵基試片1塊
保修卡1份
鋁基試片1塊
說明書1份
測頭類型F N
工作原理磁感應(yīng)渦流
測量范圍(um)0-2000 0-2000
低限分辨力(um)0.1 0.1
示值
零點校準(zhǔn)(μm)士(3%H+1)土(3%H+1)
兩點校準(zhǔn)(μm)士[(1~3)%H+1]士[(1~3)%H+1]
ZUI小曲率半徑(mm)凸1.5凸3
測試條件ZUI小面積的直徑(mm)中7中5
基體臨界厚度(mm)0.5 0.3
電源二節(jié)7號堿性電池(1.5V)
外形尺寸11 2mmx 70mmx 23mm
重量約80g(不含電池)