葉面積指數(shù)測(cè)定儀通過(guò)檢測(cè)整個(gè)植株與占地面積的一個(gè)比值，檢測(cè)植物的生長(zhǎng)情況，它不像單株植物葉片，通過(guò)檢測(cè)葉面積指數(shù)，我們可以預(yù)報(bào)他們的狀況，而葉面積指數(shù)測(cè)定儀又是如何使用的，以下可以來(lái)探討一下。

如何直接測(cè)量植物葉片的葉面積指數(shù)直接測(cè)量法是指收集植株葉片，直接測(cè)量其面積或測(cè)量葉片質(zhì)量、形狀、長(zhǎng)寬等參數(shù)，再轉(zhuǎn)換為面積。這是經(jīng)典的、成熟的LAI測(cè)量方法，具有zui高的測(cè)量精度。其測(cè)量值通常被稱為真實(shí)葉面積指數(shù)，是間接測(cè)定的重要對(duì)比方法。該方法包括葉片采集和測(cè)量2個(gè)步驟。葉片采集方法有落葉箱法、代表植株法、區(qū)域采樣法等；測(cè)量方法有格點(diǎn)法、方格法、描形稱重法以及掃描和攝影等儀器測(cè)定法。由于直接測(cè)量對(duì)植物本身具有一定的破壞性，且必須人工采集葉片樣品，費(fèi)時(shí)耗力，采樣不一定具有代表性，一般只用作科研，故實(shí)際測(cè)量和研究中常采用間接測(cè)量法。

間接測(cè)量法與直接測(cè)量法相比，間接測(cè)量法能夠更快、更大范圍地對(duì)LAI進(jìn)行測(cè)量，并且不對(duì)植物產(chǎn)生傷害，因此得到迅速發(fā)展和廣泛應(yīng)用。但是，采用這種方法得到的LAI往往偏低，不同類型的冠層低估范圍通常在25%～50%。雖然目前有許多方案能克服由于間接測(cè)量帶來(lái)的偏差，但并沒(méi)有根本地解決此類問(wèn)題的產(chǎn)生。

葉面積指數(shù)測(cè)定儀http://www.ny-17.com/product/42.html

更多儀器訪問(wèn)http://www.ny-17.com/