AT
AT
內(nèi)建50Hz~100kHz 16點測試頻率,并且提供0.01V~2.00V任意測試電平,使其能滿足多數(shù)生產(chǎn)現(xiàn)場的使用。
使用安柏科技 AT-OS 2005 微型儀器操作系統(tǒng),使AT
內(nèi)置RS
內(nèi)置Handler接口,配合RS
AT
● 測試參數(shù):L,C,R,Z,D,Q,θ(deg),θ(rad),Vm,Im
● 測試頻率:50Hz,60Hz,100Hz,120Hz,200Hz,400Hz,500Hz,1kHz,
● 2kHz,4kHz,5kHz,10kHz,20kHz,40kHz,50kHz,100kHz
● 基本準確度:0.05%
● 測試電平:0.01V~2.00V 以10mV步進
● 測試速度:4次/秒,10次/秒,25次/秒
● 主參數(shù)5位,副參數(shù)6位顯示
● L: 0.01μH-99999H
● C: 0.01pF - 99999μF
● R,Z: 0.0001Ω -
● D,Q: 0.00001 - 999999
● θ(deg): -90.000°- 90.000°
● θ(rad): -3.1416 – 3.1416
● Δ%: -9999% - 9999%
● 輸出阻抗:30Ω, 5Ω和100Ω
● 等效電路:串聯(lián), 并聯(lián)
● 電平監(jiān)視和電流監(jiān)視。
● 9量程自動或手動測試。
● 可選電壓偏置功能。
AT
● 高亮度,超清晰四色VFD顯示。
● 校正功能:全量程程開路和短路掃頻清零。
● 第三窗口可同時顯示 Z, D, Q, θ, ΔABS, Δ%或分選結果。
● 20組文件管理,可存儲儀器狀態(tài)和比較器設置。
● 增強型比較器(分選)功能:可編程的P1~P9 九檔分選,主參數(shù)HI,IN,LO顯示和輸出,NG,AUX,SREJ,IDX,EOM 等顯示及輸出。
● 偏差(ABS)比較方式和相對偏差比較方式。
● 可開關的根據(jù)標稱值自動量程選擇。
● 可開關的附屬檔(AUX)分選。
● 可編程1~99次平均次數(shù),提供穩(wěn)定性。
● 可編程電容器開路狀態(tài)檢測。
● 可編程外部觸發(fā)下測試延時:0~60s。
● 可編程Handler接口測試完成后分選結果信號清除功能。
● 自定義分選結果訊響:NG, P1~P9, PHI, PIN, PLO, AUX, OFF。
● 內(nèi)置RS
● 顯示亮度可調(diào)。
● 1000V沖擊保護