特點

結合用途配備豐富的功能！
以DUT特性的設定，支持高重現(xiàn)性且準確的測量。
準確的評價基于實際使用的操作條件。

電子零件、電子材料可能因測量頻率及施加的信號級別而表現(xiàn)出不同的特性。電容器和電感器存在因寄生成分引發(fā)的頻率依賴性，二極管等半導體器件由于 DC 偏置疊加而產(chǎn)生特性變化。
要評價真實的特性，重要的是頻率、AC 振幅和 DC 偏置的掃頻，在實際的操作條件下進行測量。

掃頻 頻率、AC 振幅、DC 偏置、零頻寬

AC 振幅掃描

掃頻

DC 偏置掃頻

零頻寬

不變更頻率、AC 振幅和 DC 偏置的參數(shù)，按恒定的條件進行測量，觀察不同時間的特性變化（橫軸：時間）

● 也能應對點測

按恒定的頻率 /AC 振幅 /DC偏置進行測量，以數(shù)值顯示測量結果。最多可以設定 6 個項目。
與比較器功能組合，可以進行篩選及判定是否合格。

生產(chǎn)線內的測量

測量條件等的設定

在 1 個界面內直觀地進行詳細設定

設定項目（SETTING VIEW）

設定圖表軸

設定頻率

量程

自動量程

監(jiān)視測量結果，同時自動設定最合適的量程進行測量。
檢測到超過量程的外部噪聲或直流分量時，重新設定為更大的量程并重新測量。測量數(shù)據(jù)的變化大時啟用。

固定量程

量程固定，因此不會產(chǎn)生因量程變化引發(fā)的測量值不連續(xù)（段差）。

延遲功能

如果在掃描過程中變更了頻率、AC 振幅等掃描參數(shù)，則瞬態(tài)響應將導致測量結果出現(xiàn)誤差。參數(shù)變更后，可以延遲開始測量的時間。延遲包括“延遲開始測量”和“延遲測量”，前者在開始測量時延遲，后者在掃描過程中每次變更參數(shù)時延遲。

自動高密度掃頻

在掃頻測量中，本功能限定在測量數(shù)據(jù)突變的區(qū)間自動提高頻率密度進行測量。
在壓電振蕩器、晶體振蕩器等的共振特性測量中，本功能在相位急劇變化的共振附近的測量中啟用。

誤差校正

為進行準確的評價，需根據(jù)測量誤差因子進行校正。

為進行準確的測量，需適當校正殘余阻抗、電纜長度等各種測量誤差因子。

開路校正

減少因殘余導納引起的誤差

短路校正

減少因殘余阻抗引起的誤差

負載校正

以具有已知值的試樣作為標準阻抗，校正與真值的偏差

端口延長

使用長電纜時，校正因傳輸延遲時間而產(chǎn)生的相位誤差

電位梯度消除

消除測量信號所含的電位波動波形的影響。在由于電池等的充放電會引起電位變化的試樣的測量中啟用

補償

預先測量連接到外部的傳感器、電纜等測量系統(tǒng)的頻率特性，校正測量系統(tǒng)的誤差成分

輸入加權碼

校正探頭的衰減量及前置放大器的增益

自行校準

校正自身誤差

標記操作

本功能用于讀取所顯示的圖表中 X、Y1、Y2 的測量值。
最多可使用 8 個標記。

Δ標記 顯示與基準標記（標記 1）的差異

ΔTRKG 標記

與Δ標記同樣顯示差異，移動到標記 1 時，保持恒定的掃描值差異，同時進行移動

標記搜索功能

可自動搜索與設定條件一致的點

順序測量

本功能預先設定多項所需的測量條件，按照該條件依次進行測量。最多可將掃描范圍分割成 32 部分，各范圍內按照不同的測量條件進行測量。
可高效地測量因電壓值而使特性發(fā)生變化的多層陶瓷電容器（MLCC）、電感器及變壓器等器件。

圖表顯示

SINGLE 顯示 /SPLIT 顯示

外觀尺寸