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      普林斯頓VersaSCAN微區(qū)電化學(xué)測(cè)試系統(tǒng)

      參考價(jià)面議
      具體成交價(jià)以合同協(xié)議為準(zhǔn)
      • 公司名稱(chēng)陜西中科儀電子科技有限公司
      • 品       牌
      • 型       號(hào)
      • 所  在  地西安市
      • 廠商性質(zhì)其他
      • 更新時(shí)間2024/5/9 9:52:45
      • 訪問(wèn)次數(shù)173
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      陜西中科儀電子科技有限公司于2019年成立于陜西省西安市,是一家專(zhuān)業(yè)從事科學(xué)儀器、實(shí)驗(yàn)室設(shè)備、醫(yī)療設(shè)備銷(xiāo)售和技術(shù)支持的企業(yè),為生命科學(xué)、環(huán)境與地質(zhì)、冶金、食品藥品、、科研院所、航空航天等行業(yè)檢驗(yàn)檢測(cè)提供細(xì)致可靠的產(chǎn)品及解決方案。 我公司目前主要經(jīng)營(yíng)產(chǎn)品包括色譜類(lèi)、光譜類(lèi)、質(zhì)譜類(lèi)、電化學(xué)類(lèi)、表面分析類(lèi)、力學(xué)分析類(lèi)、熱分析類(lèi)、樣品前處理類(lèi)設(shè)備,及其儀器的各類(lèi)耗材、配件以及培訓(xùn)、應(yīng)用開(kāi)發(fā)等技術(shù)支持服務(wù),涵蓋有機(jī)化學(xué)分析、無(wú)機(jī)化學(xué)分析、熱力學(xué)分析、表面分析等各個(gè)領(lǐng)域,全面服務(wù)于對(duì)質(zhì)量檢驗(yàn)檢測(cè)有需求的各行業(yè)用戶(hù)。 基于對(duì)行業(yè)的深刻理解,我公司可以給用戶(hù)提供完整的質(zhì)量控制和分析檢測(cè)總體解決方案,一站式服務(wù),交鑰匙工程。公司在分析檢測(cè)行業(yè)深耕精作,服務(wù)于各大企業(yè)、和高??蒲袉挝?。公司秉承“可靠,便捷,高效,誠(chéng)信”的經(jīng)營(yíng)理念,在團(tuán)隊(duì)協(xié)作和以人為本的良好企業(yè)文化氛圍中不斷發(fā)展壯大。
      蛋白印跡儀
      VersaScan微區(qū)掃描電化學(xué)工作站是一個(gè)建立在電化學(xué)掃描探針的設(shè)計(jì)基礎(chǔ)上的,進(jìn)行超高測(cè)量分辨率及空間分辨率的非接觸式微區(qū)形貌及電化學(xué)微區(qū)測(cè)試系統(tǒng)。產(chǎn)品特點(diǎn):? (SECM) 掃描電化學(xué)顯微鏡? (SVET) 掃描振動(dòng)電極測(cè)試? (SKP) 掃描開(kāi)爾文探針測(cè)試? (LEIS) 微區(qū)電化學(xué)阻抗測(cè)試? (SDC) 掃描電解液微滴測(cè)試? (O
      普林斯頓VersaSCAN微區(qū)電化學(xué)測(cè)試系統(tǒng) 產(chǎn)品信息

      產(chǎn)品簡(jiǎn)介:

      VersaScan微區(qū)掃描電化學(xué)工作站是一個(gè)建立在電化學(xué)掃描探針的設(shè)計(jì)基礎(chǔ)上的,進(jìn)行超高測(cè)量分辨率及空間分辨率的非接觸式微區(qū)形貌及電化學(xué)微區(qū)測(cè)試系統(tǒng)。

      產(chǎn)品特點(diǎn):

      ? (SECM) 掃描電化學(xué)顯微鏡

      ? (SVET) 掃描振動(dòng)電極測(cè)試

      ? (SKP) 掃描開(kāi)爾文探針測(cè)試

      ? (LEIS) 微區(qū)電化學(xué)阻抗測(cè)試

      ? (SDC) 掃描電解液微滴測(cè)試

      ? (OSP) 非觸式光學(xué)微區(qū)形貌測(cè)試

      ? 兼容恒電位儀:  VersaSTAT 3F 和VersaSTAT 3/3F/4。

      ? 可進(jìn)行逼近曲線實(shí)驗(yàn)包含“反饋”模式和“發(fā)生-采集”模式兩種成像模式。

      ? 結(jié)合了表面形貌測(cè)量技術(shù),如典型的如非接觸式微區(qū)形貌掃描系統(tǒng)OSP,可進(jìn)行樣品表面定距離掃描,

      ? VersaSTATs 配置不同功能的操作軟件,能夠提供強(qiáng)大的成套的非掃描電化學(xué)測(cè)試,取決于其的軟件模式。


      產(chǎn)品簡(jiǎn)介:

      VersaScan微區(qū)掃描電化學(xué)工作站是一個(gè)建立在電化學(xué)掃描探針的設(shè)計(jì)基礎(chǔ)上的,進(jìn)行超高測(cè)量分辨率及空間分辨率的非接觸式微區(qū)形貌及電化學(xué)微區(qū)測(cè)試系統(tǒng)。

      產(chǎn)品特點(diǎn):

      ? (SECM) 掃描電化學(xué)顯微鏡

      ? (SVET) 掃描振動(dòng)電極測(cè)試

      ? (SKP) 掃描開(kāi)爾文探針測(cè)試

      ? (LEIS) 微區(qū)電化學(xué)阻抗測(cè)試

      ? (SDC) 掃描電解液微滴測(cè)試

      ? (OSP) 非觸式光學(xué)微區(qū)形貌測(cè)試

      ? 兼容恒電位儀:  VersaSTAT 3F 和VersaSTAT 3/3F/4。

      ? 可進(jìn)行逼近曲線實(shí)驗(yàn)包含“反饋”模式和“發(fā)生-采集”模式兩種成像模式。

      ? 結(jié)合了表面形貌測(cè)量技術(shù),如典型的如非接觸式微區(qū)形貌掃描系統(tǒng)OSP,可進(jìn)行樣品表面定距離掃描,

      ? VersaSTATs 配置不同功能的操作軟件,能夠提供強(qiáng)大的成套的非掃描電化學(xué)測(cè)試,取決于其的軟件模式。


      產(chǎn)品簡(jiǎn)介:

      VersaScan微區(qū)掃描電化學(xué)工作站是一個(gè)建立在電化學(xué)掃描探針的設(shè)計(jì)基礎(chǔ)上的,進(jìn)行超高測(cè)量分辨率及空間分辨率的非接觸式微區(qū)形貌及電化學(xué)微區(qū)測(cè)試系統(tǒng)。

      產(chǎn)品特點(diǎn):

      ? (SECM) 掃描電化學(xué)顯微鏡

      ? (SVET) 掃描振動(dòng)電極測(cè)試

      ? (SKP) 掃描開(kāi)爾文探針測(cè)試

      ? (LEIS) 微區(qū)電化學(xué)阻抗測(cè)試

      ? (SDC) 掃描電解液微滴測(cè)試

      ? (OSP) 非觸式光學(xué)微區(qū)形貌測(cè)試

      ? 兼容恒電位儀:  VersaSTAT 3F 和VersaSTAT 3/3F/4。

      ? 可進(jìn)行逼近曲線實(shí)驗(yàn)包含“反饋”模式和“發(fā)生-采集”模式兩種成像模式。

      ? 結(jié)合了表面形貌測(cè)量技術(shù),如典型的如非接觸式微區(qū)形貌掃描系統(tǒng)OSP,可進(jìn)行樣品表面定距離掃描,

      ? VersaSTATs 配置不同功能的操作軟件,能夠提供強(qiáng)大的成套的非掃描電化學(xué)測(cè)試,取決于其的軟件模式。


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