產(chǎn)品簡(jiǎn)介:
VersaScan微區(qū)掃描電化學(xué)工作站是一個(gè)建立在電化學(xué)掃描探針的設(shè)計(jì)基礎(chǔ)上的,進(jìn)行超高測(cè)量分辨率及空間分辨率的非接觸式微區(qū)形貌及電化學(xué)微區(qū)測(cè)試系統(tǒng)。
產(chǎn)品特點(diǎn):
? (SECM) 掃描電化學(xué)顯微鏡
? (SVET) 掃描振動(dòng)電極測(cè)試
? (SKP) 掃描開(kāi)爾文探針測(cè)試
? (LEIS) 微區(qū)電化學(xué)阻抗測(cè)試
? (SDC) 掃描電解液微滴測(cè)試
? (OSP) 非觸式光學(xué)微區(qū)形貌測(cè)試
? 兼容恒電位儀: VersaSTAT 3F 和VersaSTAT 3/3F/4。
? 可進(jìn)行逼近曲線實(shí)驗(yàn)包含“反饋”模式和“發(fā)生-采集”模式兩種成像模式。
? 結(jié)合了表面形貌測(cè)量技術(shù),如典型的如非接觸式微區(qū)形貌掃描系統(tǒng)OSP,可進(jìn)行樣品表面定距離掃描,
? VersaSTATs 配置不同功能的操作軟件,能夠提供強(qiáng)大的成套的非掃描電化學(xué)測(cè)試,取決于其的軟件模式。
產(chǎn)品簡(jiǎn)介:
VersaScan微區(qū)掃描電化學(xué)工作站是一個(gè)建立在電化學(xué)掃描探針的設(shè)計(jì)基礎(chǔ)上的,進(jìn)行超高測(cè)量分辨率及空間分辨率的非接觸式微區(qū)形貌及電化學(xué)微區(qū)測(cè)試系統(tǒng)。
產(chǎn)品特點(diǎn):
? (SECM) 掃描電化學(xué)顯微鏡
? (SVET) 掃描振動(dòng)電極測(cè)試
? (SKP) 掃描開(kāi)爾文探針測(cè)試
? (LEIS) 微區(qū)電化學(xué)阻抗測(cè)試
? (SDC) 掃描電解液微滴測(cè)試
? (OSP) 非觸式光學(xué)微區(qū)形貌測(cè)試
? 兼容恒電位儀: VersaSTAT 3F 和VersaSTAT 3/3F/4。
? 可進(jìn)行逼近曲線實(shí)驗(yàn)包含“反饋”模式和“發(fā)生-采集”模式兩種成像模式。
? 結(jié)合了表面形貌測(cè)量技術(shù),如典型的如非接觸式微區(qū)形貌掃描系統(tǒng)OSP,可進(jìn)行樣品表面定距離掃描,
? VersaSTATs 配置不同功能的操作軟件,能夠提供強(qiáng)大的成套的非掃描電化學(xué)測(cè)試,取決于其的軟件模式。
產(chǎn)品簡(jiǎn)介:
VersaScan微區(qū)掃描電化學(xué)工作站是一個(gè)建立在電化學(xué)掃描探針的設(shè)計(jì)基礎(chǔ)上的,進(jìn)行超高測(cè)量分辨率及空間分辨率的非接觸式微區(qū)形貌及電化學(xué)微區(qū)測(cè)試系統(tǒng)。
產(chǎn)品特點(diǎn):
? (SECM) 掃描電化學(xué)顯微鏡
? (SVET) 掃描振動(dòng)電極測(cè)試
? (SKP) 掃描開(kāi)爾文探針測(cè)試
? (LEIS) 微區(qū)電化學(xué)阻抗測(cè)試
? (SDC) 掃描電解液微滴測(cè)試
? (OSP) 非觸式光學(xué)微區(qū)形貌測(cè)試
? 兼容恒電位儀: VersaSTAT 3F 和VersaSTAT 3/3F/4。
? 可進(jìn)行逼近曲線實(shí)驗(yàn)包含“反饋”模式和“發(fā)生-采集”模式兩種成像模式。
? 結(jié)合了表面形貌測(cè)量技術(shù),如典型的如非接觸式微區(qū)形貌掃描系統(tǒng)OSP,可進(jìn)行樣品表面定距離掃描,
? VersaSTATs 配置不同功能的操作軟件,能夠提供強(qiáng)大的成套的非掃描電化學(xué)測(cè)試,取決于其的軟件模式。