儀器既可手持1-2秒對(duì)樣品進(jìn)行測(cè)試,也能使用座式對(duì)樣品進(jìn)行較長時(shí)間的精細(xì)測(cè)試,10秒即可進(jìn)行接近實(shí)驗(yàn)室精度的測(cè)量。 數(shù)據(jù)傳輸更加高速 采用嵌入式Windows CE系統(tǒng),高顯示分辨率(640*480)液晶顯示觸摸屏,結(jié)合數(shù)字多道技術(shù),采用SPI數(shù)據(jù)傳輸,有效提升數(shù)據(jù)傳輸能力與數(shù)據(jù)運(yùn)算能力。在任何環(huán)境中,測(cè)試數(shù)據(jù)都盡在掌中。 防護(hù)、關(guān)愛健康 三重防護(hù)功能,自動(dòng)感應(yīng),具有無樣品空測(cè),2秒自動(dòng)關(guān)X光管功能;工作時(shí)的水平遠(yuǎn)低于國際標(biāo)準(zhǔn),無射線泄漏;加厚防護(hù)測(cè)試壁;配送測(cè)試防護(hù)罩。 電量強(qiáng)勁、充電方便。
手持式光譜儀在使用的時(shí)候,對(duì)于環(huán)境也是有一定的要求,不要在潮濕的環(huán)境下工作的,環(huán)境濕度0-95%之間為好,不能在太高溫下操作工作,這樣的理由是避免各類磁場(chǎng)的干擾,如此儀器分析的時(shí)候才能檢測(cè)出更的精度。所以,大家在工作的時(shí)候要注意環(huán)境的適合度,很多時(shí)候儀器檢測(cè)不標(biāo)準(zhǔn)跟環(huán)境還是有很大程度上的關(guān)系。
手持式分析儀 探測(cè)器:13mm2 電致冷Si-PIN探測(cè)器 激發(fā)源:40KV/50uA-銀端窗一體化微型X光管 檢測(cè)時(shí)間:10-200秒(可手持式或座立式測(cè)試) 檢測(cè)對(duì)象:固體、液體、粉末 檢測(cè)范圍:硫(S)到鈾(U)之間所有元素 可同時(shí)分析元素:多至26個(gè)元素 元素檢出限:0.001%~0.01% 校正方式: 銀(Ag) 性:自帶模式,非人員無法使用 Data使用性:可在PDA內(nèi)進(jìn)行編輯,可導(dǎo)入PC機(jī)進(jìn)行 保存打印,配備海量存儲(chǔ)卡 電 源: 兩塊鋰電池滿電可連續(xù)工作8小時(shí)
手持式光譜儀設(shè)備維護(hù)與保養(yǎng):
1.手持式光譜儀使用過程中應(yīng)輕拿輕放,防止內(nèi)部零件受損。
2.保持檢測(cè)口薄膜的清潔,檢測(cè)口薄膜被污染可能引起檢測(cè)誤差。檢測(cè)口薄膜破損繼續(xù)使用可能會(huì)造成手持式光譜儀的損壞。應(yīng)及時(shí)清潔或更換。
3.被檢測(cè)物表面的氧化層和污染物等要用砂輪機(jī)或金剛砂去除,以免造成測(cè)量結(jié)果不準(zhǔn)確,被檢測(cè)物表面凹凸不平、有毛刺時(shí)應(yīng)在檢測(cè)時(shí)注意,防止手持式光譜儀檢測(cè)口薄膜損壞。檢測(cè)鍍件時(shí),要將電鍍層去除。
4.手持式光譜儀電池使用至10%時(shí),應(yīng)更換電池,充電。
手持式光譜儀系統(tǒng)誤差的來源有: (1)標(biāo)樣和試樣中的含量和化學(xué)組成不相同時(shí),可能引起基體線和分析線的強(qiáng)度改變,從而引入誤差。 (2)標(biāo)樣和試樣的物理性能不相同時(shí),激發(fā)的特征譜線會(huì)有差別從而產(chǎn)生系統(tǒng)誤差。 (3)澆注狀態(tài)的鋼樣與經(jīng)過退火、淬火、回火、熱軋、鍛壓狀態(tài)的鋼樣金屬組織結(jié)構(gòu)不相同時(shí),測(cè)出的數(shù)據(jù)會(huì)有所差別。 (4)未知元素譜線的重疊干擾。如熔煉過程中加入脫氧劑、除硫磷劑時(shí),混入未知合金元素而引入系統(tǒng)誤差。 (5)要系統(tǒng)誤差,必須嚴(yán)格按照標(biāo)準(zhǔn)樣品制備規(guī)定要求。為了檢查系統(tǒng)誤差,需要采用化學(xué)分析方法分析多次校對(duì)結(jié)果。