快速溫變試驗箱
產(chǎn)品用途:快速溫變試驗箱適用于***工業(yè),航空工業(yè)、自動化零組件,汽車部件,電子電器儀表零組件、電工產(chǎn)品,塑膠,化工業(yè),食品業(yè),制藥工業(yè)及相關(guān)產(chǎn)品等設(shè)備在周圍大氣溫度急劇變化條件下的適應(yīng)性試驗。
產(chǎn)品執(zhí)行及符合部分標準:
1、電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程 試驗A:低溫試驗方法GB 2423.1-2006 (IEC68-2-1)
2、電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程 試驗B:高溫試驗方法GB 2423.2-2006(IEC68-2-2)
3、GJB150.3(ML-STD-810D)高溫試驗方法
4、GJB150.4(MIL-STD-810D)低溫試驗方法
5、GB/T5170.2-96《溫度試驗設(shè)備》
6、GB/T10592-2008《高低溫試驗箱技術(shù)條件》
7、GB/T10589-2008《低溫試驗箱技術(shù)條件》
8、GB/T11158-2008《高溫試驗箱技術(shù)條件》
快速溫變試驗箱,又稱快速溫變化試驗箱、應(yīng)力篩選試驗箱,適用于電工、電子、儀器儀表及其它產(chǎn)品、零部件及材料在快速高低溫交變濕熱環(huán)境下貯存、運輸、使用時的環(huán)境適應(yīng)性試驗,以及溫度變化試驗。
產(chǎn)品用途:
TEB系列快速溫變試驗箱主要用于考察產(chǎn)品熱機械性能引起的失效,溫度變化率一般小于20℃/分,實現(xiàn)以快的速度真實再現(xiàn)所測樣件應(yīng)用環(huán)境條件。當構(gòu)成產(chǎn)品各部件的材料熱匹配較差,或部件內(nèi)應(yīng)力較大時,溫度循環(huán)試驗可引發(fā)產(chǎn)品由機械結(jié)構(gòu)缺陷劣化產(chǎn)生的失效。一般應(yīng)用于光電器件、互連電路、組件單元及電子設(shè)備的篩選試驗和失效模式評估。是發(fā)現(xiàn)產(chǎn)品設(shè)計缺陷和工藝問題的有效方法。