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      ImageMaster® Lab VR 雜散光測試儀

      參考價面議
      具體成交價以合同協(xié)議為準(zhǔn)
      • 公司名稱聯(lián)景光電科技(北京)有限公司
      • 品       牌
      • 型       號
      • 所  在  地北京市
      • 廠商性質(zhì)其他
      • 更新時間2024/3/24 17:34:25
      • 訪問次數(shù)82
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      聯(lián)系我們時請說明是 智能制造網(wǎng) 上看到的信息,謝謝!

      聯(lián)景光電科技(北京)有限公司(下稱“聯(lián)景光電”)主營業(yè)務(wù)涵蓋光學(xué)儀器和電子測試儀器。 光學(xué)儀器包含光學(xué)測試系統(tǒng)、光學(xué)鏡片制造設(shè)備,同時也為用戶提供光學(xué)設(shè)計,定制配件。 光學(xué)測試系統(tǒng)對鏡片、鏡頭、平面光學(xué)元件的測量項目:有效焦距測量、球面鏡的曲率半徑測量、單鏡片與鏡頭組的中心偏差測量、鏡片厚度與鏡面間隔測量、角度測量、表面疵病檢測、面型測量、折射率測量、成像質(zhì)量測量和波前測量。 光學(xué)測試系統(tǒng)可以檢測的光學(xué)設(shè)備:熱像儀、可見光-近紅外相機(jī)、短波紅外相機(jī)、紫外相機(jī)、多光譜成像儀、多傳感器、夜視設(shè)備和激光設(shè)備等。 光學(xué)配件包含:透鏡、反射鏡、棱鏡、分光元件、光學(xué)窗口等光學(xué)元件;光源、光譜、光學(xué)平臺、精密位移臺、黑體、平行光管、靶標(biāo)等。 聯(lián)景光電在電子測量領(lǐng)域主要為客戶提供示波器,信號源,半導(dǎo)體測試設(shè)備,頻譜儀、矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀、電流探頭和環(huán)路分析儀。
      產(chǎn)品詳情更多ImageMaster®LabVR雜散光測試儀主要應(yīng)用于菲涅爾透鏡及VR相關(guān)透鏡的雜散性測試,及成像質(zhì)量的檢測等
      ImageMaster® Lab VR 雜散光測試儀 產(chǎn)品信息
      產(chǎn)品詳情
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      ImageMaster® Lab VR 雜散光測試儀主要應(yīng)用于菲涅爾透鏡及VR相關(guān)

      透鏡的雜散性測試,及成像質(zhì)量的檢測等。


      產(chǎn)品特點(diǎn)

      立式結(jié)構(gòu)

      可以測量VR鏡片/模組/可集成

      整機(jī)結(jié)構(gòu)緊湊一體化、維護(hù)保養(yǎng)方便

      OLED照明、冷光源及靶標(biāo)/新增分劃板

      測量精度可溯源至國際標(biāo)準(zhǔn)

      軟件模塊化、使用簡單易懂

      可編輯腳本、實現(xiàn)用戶自定義測量

      直接以報告形式輸出結(jié)果

       

      測量參數(shù)

      軸上光學(xué)傳遞函數(shù)MTF

      軸外光學(xué)傳遞函數(shù)MTF

      離焦光學(xué)傳遞函數(shù)MTF

      雜散光(VGI)

      有效焦距EFL

      畸變

      ebox

       

      產(chǎn)品技術(shù)規(guī)格

      系統(tǒng)配置

      有限-無限共軛系統(tǒng)

      光譜范圍

      VIS(450nm...750nm)

      被測樣品焦距范圍

      30mm...50mm

      樣品外徑

      <70mm

      樣品長度

      <10mm

      被測樣品重量

      <2kg

      法蘭焦距

      50mm

      離軸角度

      ±70°

      ±35mm

      空間頻率

      200lp/mm

      雜散光測量

      ±5%

      雜散光測量重復(fù)性

      ±3%

      MTF測量精度

      ±0.03

      MTF測量重復(fù)性

      ±0.01

      有效焦距測量精度

      ±0.2%

      有效焦距測量重復(fù)性

      優(yōu)于±0.2%

      畸變測量精度

      ±0.7%

      畸變測量重復(fù)性

      ±0.3%

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