什么是潛在誘導退化(PID)測試?
PID測試是對制造的模塊進行的質(zhì)量保證測試,以預測它們在不同條件下長時間的性能。對于太陽能組件的PID測試,將組件置于85°C的溫度下,濕度約為85%,并在1000v負載下持續(xù)96小時。PID測試模擬組件暴露在的次電壓和溫度條件下的功率損耗。
如何進行潛在誘導退化(PID)試驗?
為了進行測試,在兩個金屬電極之間放置了一組像模塊一樣的太陽能電池、聚合物箔和玻璃層堆棧。在加熱底部(接地)電極的同時,在模塊的上部電極上施加高正電壓(電壓相當于PID)。
項目 | 內(nèi)容 |
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電源 | 電壓范圍:-2000~2000V 電壓精度:0.5%FS 電壓分辨率:1V 電流能力:1mA |
電流傳感器 | 測試范圍:-1~1mA 測試精度:0.5%FS 分辨率:0.001mA |
數(shù)據(jù)采集卡 | 支持RS485通訊,支持0-5V、0-10V、4-20mA信號輸入 14位分辨率 20路模擬量輸入 T/C軟件組態(tài),低電壓電流輸入 隔離電壓:3000 Vdc 支持Modbus/RTU控制 DC24V供電 |
工控機 | 電源:300W 內(nèi)存:4G DDR 硬盤:1T 顯示器:DELL-IN1940MW |
測試線 | 材質(zhì):硅膠 耐壓等級:25KV 芯徑:0.5mm2,多股銅絲 工作溫度:-60-250℃ 外徑:5.8mm 長度:標配6m/套 |
溫濕度傳感器 | 溫度范圍:-40-120℃ 精度:±1℃ 濕度范圍:0-99%RH 精度:±3%RH |