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      鎢燈絲掃描電子顯微鏡SEM3200

      參考價(jià)面議
      具體成交價(jià)以合同協(xié)議為準(zhǔn)
      • 公司名稱富泰微科學(xué)儀器(上海)有限公司
      • 品       牌
      • 型       號(hào)
      • 所  在  地
      • 廠商性質(zhì)其他
      • 更新時(shí)間2023/6/7 8:32:13
      • 訪問次數(shù)426
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      富泰微科學(xué)儀器(上海)有限公司總部坐落于上海,在江蘇設(shè)立辦事處。富泰微專注納米級(jí)微觀光學(xué)儀器研發(fā),銷售以及售后服務(wù)。主要產(chǎn)品包括:SEM掃描電子顯微鏡、AFM原子力顯微鏡、TEM透射電子顯微鏡、FIB聚焦離子束顯微鏡、共聚焦顯微鏡、浩視3D顯微鏡、ZYGO白光干涉儀、ZYGO激光干涉儀、臺(tái)階膜厚儀等納米級(jí)光學(xué)測(cè)量?jī)x器。 公司擁有專業(yè)化的管理團(tuán)隊(duì)和完善的管理體系,內(nèi)部建立了完善的服務(wù)平臺(tái)。從產(chǎn)品售前到售后服務(wù)都能進(jìn)行全程的跟蹤與管控。公司擁有多年行業(yè)管理和銷售經(jīng)驗(yàn),在細(xì)分行業(yè)中,得到行業(yè)中客戶及同行業(yè)的高度認(rèn)可。 我司產(chǎn)品被廣泛應(yīng)用于化工、電子、半導(dǎo)體、材料、生物技術(shù)、食品以及政府單位和高校科研院所等領(lǐng)域。
      離子研磨儀
      產(chǎn)品介紹 SEM3200是一款高性能、應(yīng)用廣泛的通用型鎢燈絲掃描電子顯微鏡。擁有出色的成像質(zhì)量、可兼容低真空模式、在不同的視場(chǎng)范圍下均可得到高分辨率圖像。 大景深,成像富有立體感。豐富的擴(kuò)展性,助您在顯微成像的世界中盡情探索。
      鎢燈絲掃描電子顯微鏡SEM3200 產(chǎn)品信息

      鎢燈絲掃描電子顯微鏡SEM3200.png




      產(chǎn)品特點(diǎn)(*為選配件)


      低電壓

      碳材料樣品,低電壓下,穿透深度較小,可以獲取樣品表面真實(shí)形貌,細(xì)節(jié)更豐富。



      毛發(fā)樣品,在低電壓下,電子束輻照損傷減小,同時(shí)消除了荷電效應(yīng)。



      低真空

      過濾纖維管材料,導(dǎo)電性差,在高真空下荷電明顯,在低真空下,無(wú)需鍍膜即可實(shí)現(xiàn)對(duì)不導(dǎo)電樣品的直接觀察。



      大視場(chǎng)

      生物樣品,采用大視場(chǎng)觀察,能夠輕松獲得瓢蟲整體形貌及頭部結(jié)構(gòu)細(xì)節(jié),展現(xiàn)跨尺度分析。



      導(dǎo)航&防碰撞



      特色功能


      豐富拓展性:


      掃描電子顯微鏡不僅局限于表面形貌的觀察,更可以進(jìn)行樣品表面的微區(qū)成分分析。
      SEM3200接口豐富,除支持常規(guī)的二次電子探測(cè)器(ETD)、背散射電子探測(cè)器(BSED)、X射線能譜儀(EDS)外,也預(yù)留了諸多接口,如電子背散射衍射(EBSD)、陰極射線(CL)等探測(cè)器都可以在SEM3200上進(jìn)行集成。


      背散射電子探測(cè)器


      二次電子成像和背散射電子成像對(duì)比


      背散射電子成像模式下,荷電效應(yīng)明顯減弱,并且可以獲得樣品表面更多的成分信息。



      應(yīng)用案例:



      產(chǎn)品參數(shù):




      型號(hào)SEM3200ASEM3200
      電子光學(xué)系統(tǒng)電子槍類型預(yù)對(duì)中型發(fā)叉式鎢燈絲電子槍(燈絲電流3檔可調(diào),可顯示燈絲更換時(shí)間)
      分辨率高真空3 nm @ 30 kV(SE)
      4 nm @ 30 kV(BSE)
      8 nm @ 3 kV(SE)
      *低真空3 nm @ 30 kV(SE)
      放大倍率1-300,000x(底片倍率)
      1-1000,000x(屏幕倍率)
      加速電壓0.2 kV~30 kV
      探針電流≥1.2μA,可實(shí)時(shí)顯示
      成像系統(tǒng)探測(cè)器二次電子探測(cè)器(ETD)
      *背散射電子探測(cè)器、*低真空二次電子探測(cè)器、*能譜儀EDS等
      圖像保存格式TIFF、JPG、BMP、PNG
      真空系統(tǒng)真空模式高真空優(yōu)于5×10-4 Pa
      *低真空5~1000 Pa
      控制方式全自動(dòng)控制
      樣品室攝像頭光學(xué)導(dǎo)航
      樣品倉(cāng)內(nèi)監(jiān)控
      樣品臺(tái)配置三軸自動(dòng)*五軸自動(dòng)
      行程X: 120 mmX: 120 mm
      Y: 115 mmY: 115 mm
      Z: 50 mmZ: 50 mm
      /R: 360°
      /T: -10°~ +90°
      能譜儀能譜儀探測(cè)器分析型SDD硅漂移電制冷探測(cè)器,有效面積≥30 mm2,晶體面積≥50 mm2,高分子超薄窗設(shè)計(jì),無(wú)需液氮冷卻,僅消耗電能
      能譜儀能量分辨率Mn Ka保證優(yōu)于129eV
      元素分析范圍B5~Cf98
      軟件語(yǔ)言中文
      操作系統(tǒng)Windows
      導(dǎo)航光學(xué)導(dǎo)航、手勢(shì)快捷導(dǎo)航、可自動(dòng)疊加電鏡圖片
      自動(dòng)功能自動(dòng)亮度對(duì)比度、自動(dòng)聚焦、自動(dòng)像散
      特色功能智能輔助消像散、*大圖拼接(選配軟件)
      安裝要求房間長(zhǎng) ≥ 3000 mm,寬 ≥ 4000 mm,高 ≥ 2300 mm
      溫度20 ℃~25 ℃
      濕度≤ 50 %
      電氣參數(shù)電源AC 220 V(±10 %),50 Hz,2 kVA




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