產(chǎn)品特點(diǎn)(*為選配件)
低電壓
碳材料樣品,低電壓下,穿透深度較小,可以獲取樣品表面真實(shí)形貌,細(xì)節(jié)更豐富。
毛發(fā)樣品,在低電壓下,電子束輻照損傷減小,同時(shí)消除了荷電效應(yīng)。
低真空
過濾纖維管材料,導(dǎo)電性差,在高真空下荷電明顯,在低真空下,無(wú)需鍍膜即可實(shí)現(xiàn)對(duì)不導(dǎo)電樣品的直接觀察。
大視場(chǎng)
生物樣品,采用大視場(chǎng)觀察,能夠輕松獲得瓢蟲整體形貌及頭部結(jié)構(gòu)細(xì)節(jié),展現(xiàn)跨尺度分析。
導(dǎo)航&防碰撞
特色功能
豐富拓展性:
掃描電子顯微鏡不僅局限于表面形貌的觀察,更可以進(jìn)行樣品表面的微區(qū)成分分析。
SEM3200接口豐富,除支持常規(guī)的二次電子探測(cè)器(ETD)、背散射電子探測(cè)器(BSED)、X射線能譜儀(EDS)外,也預(yù)留了諸多接口,如電子背散射衍射(EBSD)、陰極射線(CL)等探測(cè)器都可以在SEM3200上進(jìn)行集成。
背散射電子探測(cè)器
二次電子成像和背散射電子成像對(duì)比
背散射電子成像模式下,荷電效應(yīng)明顯減弱,并且可以獲得樣品表面更多的成分信息。
應(yīng)用案例:
產(chǎn)品參數(shù):
型號(hào) | SEM3200A | SEM3200 | ||
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電子光學(xué)系統(tǒng) | 電子槍類型 | 預(yù)對(duì)中型發(fā)叉式鎢燈絲電子槍(燈絲電流3檔可調(diào),可顯示燈絲更換時(shí)間) | ||
分辨率 | 高真空 | 3 nm @ 30 kV(SE) | ||
4 nm @ 30 kV(BSE) | ||||
8 nm @ 3 kV(SE) | ||||
*低真空 | 3 nm @ 30 kV(SE) | |||
放大倍率 | 1-300,000x(底片倍率) | |||
1-1000,000x(屏幕倍率) | ||||
加速電壓 | 0.2 kV~30 kV | |||
探針電流 | ≥1.2μA,可實(shí)時(shí)顯示 | |||
成像系統(tǒng) | 探測(cè)器 | 二次電子探測(cè)器(ETD) | ||
*背散射電子探測(cè)器、*低真空二次電子探測(cè)器、*能譜儀EDS等 | ||||
圖像保存格式 | TIFF、JPG、BMP、PNG | |||
真空系統(tǒng) | 真空模式 | 高真空 | 優(yōu)于5×10-4 Pa | |
*低真空 | 5~1000 Pa | |||
控制方式 | 全自動(dòng)控制 | |||
樣品室 | 攝像頭 | 光學(xué)導(dǎo)航 | ||
樣品倉(cāng)內(nèi)監(jiān)控 | ||||
樣品臺(tái)配置 | 三軸自動(dòng) | *五軸自動(dòng) | ||
行程 | X: 120 mm | X: 120 mm | ||
Y: 115 mm | Y: 115 mm | |||
Z: 50 mm | Z: 50 mm | |||
/ | R: 360° | |||
/ | T: -10°~ +90° | |||
能譜儀 | 能譜儀探測(cè)器 | 分析型SDD硅漂移電制冷探測(cè)器,有效面積≥30 mm2,晶體面積≥50 mm2,高分子超薄窗設(shè)計(jì),無(wú)需液氮冷卻,僅消耗電能 | ||
能譜儀能量分辨率 | Mn Ka保證優(yōu)于129eV | |||
元素分析范圍 | B5~Cf98 | |||
軟件 | 語(yǔ)言 | 中文 | ||
操作系統(tǒng) | Windows | |||
導(dǎo)航 | 光學(xué)導(dǎo)航、手勢(shì)快捷導(dǎo)航、可自動(dòng)疊加電鏡圖片 | |||
自動(dòng)功能 | 自動(dòng)亮度對(duì)比度、自動(dòng)聚焦、自動(dòng)像散 | |||
特色功能 | 智能輔助消像散、*大圖拼接(選配軟件) | |||
安裝要求 | 房間 | 長(zhǎng) ≥ 3000 mm,寬 ≥ 4000 mm,高 ≥ 2300 mm | ||
溫度 | 20 ℃~25 ℃ | |||
濕度 | ≤ 50 % | |||
電氣參數(shù) | 電源AC 220 V(±10 %),50 Hz,2 kVA |