德國斯派克偏振X射線熒光光譜儀-SPECTRO XEPOS
德國斯派克分析儀器公司開發(fā)出了一種極其成功的技術,把偏振X射線應用于熒光分析。正
如現今在拍攝高質量圖片時偏振濾光片是不可替代的工具一樣,這種*的分析技術已成為
實驗室測定主量、次量和痕量元素不可替代的手段。
斯派克分析儀器公司不斷發(fā)展這一技術,并推出了新一代的儀器—SPECTRO XEPOS臺式偏
振X射線熒光光譜儀。
SPECTRO XEPOS內部采用高性能部件,可獲得的靈敏度和準確性。采用偏振次級靶以
確保激發(fā),12位樣品自動交換器,預先安裝好的應用軟件包和智能軟件模塊,使
SPECTRO XEPOS成為真正的多功能元素分析儀。
XEPOS型X射線熒光光譜儀可廣泛應用于各種電子材料及塑料中鉛、鎘、(汞)等元素分
析,檢出下限低,靈敏度高、穩(wěn)定性好,可應對歐洲WEEE、RoHS指令。