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      產(chǎn)品|公司|采購|資訊

      里博磁性涂層測(cè)厚儀 涂鍍層測(cè)厚儀 leeb232鍍鋅層測(cè)厚儀

      參考價(jià)面議
      具體成交價(jià)以合同協(xié)議為準(zhǔn)
      • 公司名稱亞測(cè)(上海)儀器科技有限公司
      • 品       牌
      • 型       號(hào)
      • 所  在  地
      • 廠商性質(zhì)其他
      • 更新時(shí)間2023/3/17 17:23:46
      • 訪問次數(shù)196
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      亞測(cè)(上海)儀器科技有限公司是一家集研制、開發(fā)、生產(chǎn)和銷售為一體專業(yè)化儀器設(shè)備公司,總部位于中國(guó)經(jīng)濟(jì)中心上海,作為一家以科技為本的技術(shù)公司,擁有國(guó)內(nèi)外行業(yè)內(nèi)研發(fā)人員10多人,其中具有博士學(xué)位的1人,研究生5人,具有中級(jí)以上職稱8人。公司集合了國(guó)內(nèi)外(包括美國(guó)GE等)的檢測(cè)技術(shù),擁有進(jìn)的探傷檢測(cè)技術(shù)及設(shè)備,以德國(guó)檢測(cè)技術(shù)為基礎(chǔ)研發(fā)出多款功能強(qiáng)大、性能穩(wěn)定的高性能探傷儀、測(cè)厚儀、硬度計(jì)等一批專業(yè)性的檢測(cè)設(shè)備。 公司自成立之初,就本著“科技為本,立足市場(chǎng)”的指導(dǎo)方針,與清華大學(xué)、南京航空航天大學(xué)、南京理工大學(xué)等國(guó)內(nèi)多所名校的實(shí)驗(yàn)室保持長(zhǎng)期的合作關(guān)系,從而使公司的產(chǎn)品一直保持的技術(shù)水平;并在生產(chǎn)技術(shù)、應(yīng)用軟件、數(shù)據(jù)通信、應(yīng)用領(lǐng)域以及產(chǎn)品定型等方面狠下功夫,公司擁有的CUT系列全數(shù)字超聲波探傷儀、TT系列超聲波測(cè)厚儀、TT系列涂層測(cè)厚儀以及TH系列里氏硬度計(jì)為代表的高精度功能型檢測(cè)儀器先后通過國(guó)家、省、市質(zhì)量技術(shù)監(jiān)督部門組織的專家鑒定,在同行業(yè)里趕超了世界水平,并躋身于國(guó)內(nèi)外無損檢測(cè)界前列。并取得了自主知識(shí)產(chǎn)權(quán)。 專業(yè)的技術(shù)生產(chǎn),高科技的設(shè)備,高素質(zhì)的人才,開啟了亞測(cè)(上海)儀器科技有限公司銷售業(yè)績(jī)一次次的增長(zhǎng)。在經(jīng)營(yíng)過程中以優(yōu)良的職業(yè)道德、良好的商業(yè)信譽(yù)、高質(zhì)量的產(chǎn)品、完善的售后服務(wù)贏得了廣大用戶的信賴和支持。經(jīng)過多年的努力,已占據(jù)了很大的。年產(chǎn)值三千多萬,為企業(yè)及市場(chǎng)帶來了良好經(jīng)濟(jì)效益。已成為國(guó)內(nèi)的全數(shù)字智能超聲波探傷儀等檢測(cè)儀器的研究、制造和經(jīng)銷實(shí)體。 公司更注重用戶個(gè)性化的需求,力求以高質(zhì)量、高性價(jià)比和完善的售后服務(wù)參與有序的市場(chǎng)競(jìng)爭(zhēng),愿與無損檢測(cè)界的同仁進(jìn)行廣泛的交流與合作,從而達(dá)到與時(shí)俱進(jìn)、共同發(fā)展的宏偉目標(biāo)。感謝新老客戶的惠顧與垂詢,讓亞測(cè)科技為您架起一道彩虹,使我們之間永恒的誠(chéng)信、友誼與進(jìn)步更加絢麗,攜手共創(chuàng)無損檢測(cè)事業(yè)美好的明天。
      【主要功能】采用磁性和電渦流兩種測(cè)量方法,可無損地檢測(cè)磁性金屬基體上非磁性覆蓋層的厚度(如鋼鐵合金和硬磁性鋼上的鋁、鉻、銅、鋅、錫、橡膠、油漆等),以及非磁性金屬基體上非導(dǎo)電的絕緣覆蓋層的厚度(如鋁、銅、鋅、錫上的橡膠、塑料、油漆、氧化膜等)
      里博磁性涂層測(cè)厚儀 涂鍍層測(cè)厚儀 leeb232鍍鋅層測(cè)厚儀 產(chǎn)品信息

      【主要功能

      采用磁性和電渦流兩種測(cè)量方法,可無損地檢測(cè)磁性金屬基體上非磁性覆蓋層的厚度(如鋼鐵合金和硬磁性鋼上的鋁、鉻、銅、鋅、錫、橡膠、油漆等),以及非磁性金屬基體上非導(dǎo)電的絕緣覆蓋層的厚度(如鋁、銅、鋅、錫上的橡膠、塑料、油漆、氧化膜等)。

      ● 全中文菜單;

      ● 兩種工作方式;

      ● 數(shù)據(jù)刪除功能;

      ● 對(duì)界限外的測(cè)量值能自動(dòng)報(bào)警;

      ● 電源欠壓指示;

      ● 手動(dòng)和自動(dòng)兩種關(guān)機(jī)方式

      ● 兩種測(cè)量方式;

      ● 可儲(chǔ)存500個(gè)測(cè)量值;

      ● 可設(shè)置界限;


      【技術(shù)參數(shù)

      項(xiàng)目名稱

      Leeb232

      測(cè)頭類型

      F1和N1

      測(cè)量原理

      磁感應(yīng)和電渦流

      測(cè)量范圍

      0 ~ 1250um

      分辨率

      0.1um

      示值誤差

      一點(diǎn)校準(zhǔn)

      ±(3%H+1)um

      二點(diǎn)校準(zhǔn)

      ±[(1~3)%H+1]um

      測(cè)試條件

      小曲率半徑

      凸1.5mm 凹9mm

      小面積直徑

      φ7mm

      基本臨界厚度

      0.5mm

      工作環(huán)境

      溫度

      0 ~ 40℃

      濕度

      20% ~ 90%

      電源

      AA堿性電池2節(jié)

      電壓

      3V

      工作時(shí)間

      100小時(shí)

      外形尺寸

      130*70*25 mm

      重量

      350g

      外殼材質(zhì)

      金屬外殼

      標(biāo)準(zhǔn)配置

      主機(jī)、標(biāo)準(zhǔn)試片、基體、F1和N1探頭、堿性電池

      可選配件

      標(biāo)準(zhǔn)試片、探頭

      PC通訊



      儀器選用探頭的技術(shù)數(shù)據(jù)

      探頭

      F400

      F1

      F1/90

      F10

      N400

      N1

      CN02

      測(cè)量原理

      磁性

      渦流


      測(cè)量范圍(μm)

      0~400

      0~1250

      0~10mm

      0~400

      0~12500

      10~200

      測(cè)量精度μm

      一點(diǎn)校準(zhǔn)

      ±[(1~3)%H+0.7]

      ±(3%H+1)

      ±(3%H+10)

      ±(3%H+1)

      ±(3%H+1.5)

      H+1)

      二點(diǎn)校準(zhǔn)

      ±(1~3%H+0.7)

      H+1]

      ±[(1~3)%H+10]

      ±[(1~3)%H+1]

      ±[(1~3)%H+1.5]

      ---

      低限分辨率

      0.1

      0.1

      1

      0.1

      0.1

      1

      小曲率半徑(mm)

      (凸)1

      1.5

      平直

      10

      1.5

      3

      僅為平面

      小面積直徑(mm)

      ¢3

      ¢7

      ¢40

      ¢4

      ¢5

      ¢7

      基本臨界厚度(mm)

      0.2

      0.5

      2

      0.3

      0.3

      無限制















      測(cè)頭選用參考表

      覆蓋層基體

      有機(jī)材料等非磁性覆蓋層(如:漆料、涂漆、琺瑯、搪瓷、塑料和陽極化處理等)

      非磁性的有色金屬覆蓋層(如:鉻、鋅、鋁、銅、錫、銀等)

      覆蓋層厚度不超過100μm

      覆蓋層厚度超過100μm

      覆蓋層厚度不超過100μm

      覆蓋層厚度超過100μm

      如鐵、鋼等磁性金屬

      被測(cè)面積直徑大于30mm

      F400型測(cè)頭0~400μm
      F1型測(cè)頭

      0~1250μm

      F1型測(cè)頭
      0~1250μm
      F10型測(cè)頭

      0~10μm

      F400型測(cè)頭0~400μm
      F1型測(cè)頭

      0~1250μm

      F1型測(cè)頭
      0~1250μm
      F10型測(cè)頭

      0~10μm

      被測(cè)面積直徑小于30mm

      F400型測(cè)頭0~400μm

      F400型測(cè)頭0~400μm
      F1型測(cè)頭

      0~1250μm

      F400型測(cè)頭0~400μm

      F400型測(cè)頭0~400μm
      F1型測(cè)頭

      0~1250μm

      如銅、鋁、黃銅、鋅、錫等有色金屬

      被測(cè)面積直徑大于10mm

      N1型測(cè)頭0~1250μm
      N400測(cè)頭0~400μm

      僅用于銅上鍍鉻N1型測(cè)頭0~40μm N400測(cè)頭0~40μm

      被測(cè)面積直徑大于10mm

      N400測(cè)頭0~400μm

      N400測(cè)頭0~40μm

      塑料、印刷線路非金屬基體

      被測(cè)面積直徑大于7mm

      --

      --

      CN02型測(cè)頭10~200μm


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