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leeb231渦流涂鍍層測(cè)厚儀便攜式非磁性金屬絕緣涂層電渦流厚度測(cè)量?jī)x

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具體成交價(jià)以合同協(xié)議為準(zhǔn)

公司名稱撫州金時(shí)速儀器設(shè)備有限公司
品牌
型號(hào)
所在地
廠商性質(zhì)其他
更新時(shí)間2023/1/22 10:26:08
訪問次數(shù)137

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撫州金時(shí)速儀器設(shè)備有限公司注冊(cè)地址位于江西省撫州市金溪縣秀谷中大道138號(hào)，注冊(cè)機(jī)關(guān)為金溪縣市場(chǎng)監(jiān)督管理局，法人代表為胡印根，經(jīng)營(yíng)范圍包括教學(xué)儀器、分析儀器、實(shí)驗(yàn)儀器、測(cè)繪儀器、玻璃儀器、水質(zhì)測(cè)試劑的加工和銷售；辦公設(shè)備及用品的銷售(依法須經(jīng)批準(zhǔn)的項(xiàng)目,經(jīng)相關(guān)部門批準(zhǔn)后方可開展經(jīng)營(yíng)活動(dòng))

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產(chǎn)品簡(jiǎn)介在線詢價(jià)

渦流涂鍍層測(cè)厚儀leeb231 【主要功能】采用電渦流測(cè)量方法，可檢測(cè)非磁性金屬基體上非導(dǎo)電的絕緣覆蓋層的厚度(如鋁、銅、鋅、錫上的橡膠、塑料、油漆、氧化膜等)

leeb231渦流涂鍍層測(cè)厚儀便攜式非磁性金屬絕緣涂層電渦流厚度測(cè)量?jī)x 產(chǎn)品信息

渦流涂鍍層測(cè)厚儀leeb231

【主要功能】

采用電渦流測(cè)量方法，可檢測(cè)非磁性金屬基體上非導(dǎo)電的絕緣覆蓋層的厚度(如鋁、銅、鋅、錫上的橡膠、塑料、油漆、氧化膜等)。

● 中文菜單；

● 兩種工作方式；

● 數(shù)據(jù)刪除功能；

● 對(duì)界限外的測(cè)量值能自動(dòng)報(bào)警；

● 電源欠壓指示；

● 手動(dòng)和自動(dòng)兩種關(guān)機(jī)方式

● 兩種測(cè)量方式；

● 可儲(chǔ)存500個(gè)測(cè)量值；

● 可設(shè)置界限；

【技術(shù)參數(shù)】

項(xiàng)目名稱		Leeb231
測(cè)頭類型		N1
測(cè)量原理		電渦流
測(cè)量范圍		0 ~ 1250um
分辨率		0.1um
示值誤差	一點(diǎn)校準(zhǔn)	±（3%H+1）um
	二點(diǎn)校準(zhǔn)	±[（1~3）%H+1]um
測(cè)試條件	最小曲率半徑	凸1.5mm 凹9mm
	最小面積直徑	φ7mm
	基本臨界厚度	0.5mm
工作環(huán)境	溫度	0 ~ 40℃
	濕度	20% ~ 90%
電源		AA堿性電池2節(jié)
電壓		3V
工作時(shí)間		100小時(shí)
外形尺寸		1307025 mm
重量		350g
外殼材質(zhì)		金屬外殼
標(biāo)準(zhǔn)配置		主機(jī)、標(biāo)準(zhǔn)試片、基體、N1探頭、堿性電池
可選配件		標(biāo)準(zhǔn)試片、探頭
PC通訊		有

儀器選用探頭的技術(shù)數(shù)據(jù)

探頭

F400

F1/90

F10

N400

CN02

測(cè)量原理

磁性

渦流

測(cè)量范圍（μm）

0～400

0～1250

0～10mm

0～400

0～12500

10～200

測(cè)量精度μm

一點(diǎn)校準(zhǔn)

±[(1～3)%H+0.7]

±（3%H+1）

±（3%H+10）

±（3%H+1）

±（3%H+1.5）

±(3%H+1)

二點(diǎn)校準(zhǔn)

±（1～3％H+0.7）

±[(1~3)%H+1]

±[(1～3)%H+10]

±[(1～3)%H+1]

±[(1～3)%H+1.5]

---

低限分辨率

0.1

最小曲率半徑(mm)

(凸)1

1.5

平直

1.5

僅為平面

最小面積直徑(mm)

￠3

￠7

￠40

￠4

￠5

￠7

基本臨界厚度(mm)

0.2

0.5

0.3

無限制

測(cè)頭選用參考表

覆蓋層基體		有機(jī)材料等非磁性覆蓋層（如：漆料、涂漆、琺瑯、搪瓷、塑料和陽極化處理等）		非磁性的有色金屬覆蓋層（如：鉻、鋅、鋁、銅、錫、銀等）
		覆蓋層厚度不超過100μm	覆蓋層厚度超過100μm	覆蓋層厚度不超過100μm	覆蓋層厚度超過100μm
如鐵、鋼等磁性金屬	被測(cè)面積直徑大于30mm	F400型測(cè)頭0～400μm F1型測(cè)頭 0～1250μm	F1型測(cè)頭 0～1250μm F10型測(cè)頭 0～10μm	F400型測(cè)頭0～400μm F1型測(cè)頭 0～1250μm	F1型測(cè)頭 0～1250μm F10型測(cè)頭 0～10μm
	被測(cè)面積直徑小于30mm	F400型測(cè)頭0～400μm	F400型測(cè)頭0～400μm F1型測(cè)頭 0～1250μm	F400型測(cè)頭0～400μm	F400型測(cè)頭0～400μm F1型測(cè)頭 0～1250μm
如銅、鋁、黃銅、鋅、錫等有色金屬	被測(cè)面積直徑大于10mm	N1型測(cè)頭0～1250μm N400測(cè)頭0～400μm		僅用于銅上鍍鉻N1型測(cè)頭0～40μm N400測(cè)頭0～40μm
	被測(cè)面積直徑大于10mm	N400測(cè)頭0～400μm		N400測(cè)頭0～40μm
塑料、印刷線路非金屬基體	被測(cè)面積直徑大于7mm	--	--	CN02型測(cè)頭10～200μm