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      Sigma 500 場(chǎng)發(fā)射掃描電子顯微鏡

      參考價(jià)面議
      具體成交價(jià)以合同協(xié)議為準(zhǔn)
      • 公司名稱上海拓普思科技有限公司
      • 品       牌
      • 型       號(hào)Sigma500
      • 所  在  地
      • 廠商性質(zhì)其他
      • 更新時(shí)間2022/11/23 11:04:33
      • 訪問(wèn)次數(shù)334
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      上海拓普思科技有限公司(The TOPS Lab System)是以材料檢測(cè)方案解決為宗旨,集材料檢測(cè)儀器的銷售、實(shí)驗(yàn)室建設(shè)和技術(shù)咨詢服務(wù)為一體的實(shí)驗(yàn)室檢測(cè)專業(yè)服務(wù)機(jī)構(gòu)。TOPS提供專業(yè)的材料檢測(cè)實(shí)驗(yàn)室建設(shè)和技術(shù)咨詢服務(wù),在汽車、航天航空、電子電器、電力、鋼鐵、機(jī)械、能源、交通等行業(yè),在金屬材料、塑膠材料、涂裝、汽車零部件、汽車曲軸、新能源電池、PCB板、半導(dǎo)體、石油管道、壓力容器、電站管道、緊固件、鑄造件、熱處理件、軸承等生產(chǎn)和檢測(cè)領(lǐng)域中提供專業(yè)的實(shí)驗(yàn)室設(shè)計(jì)及建設(shè)服務(wù)、實(shí)驗(yàn)室質(zhì)量管理咨詢服務(wù)、國(guó)家實(shí)驗(yàn)室認(rèn)可咨詢服務(wù)、實(shí)驗(yàn)室管理系統(tǒng)的建立和改進(jìn)服務(wù)以及材料檢測(cè)技術(shù)培訓(xùn)服務(wù)等,并為廣大實(shí)驗(yàn)室工作者提供一個(gè)良好的管理和技術(shù)溝通平臺(tái)。TOPS是專業(yè)的材料檢測(cè)儀器代理商,是德國(guó)Spectro光譜儀、美國(guó)BUEHLER金相設(shè)備、美國(guó)WILSON硬度計(jì)、瑞士ERNST硬度計(jì)、美國(guó)G&R硬度計(jì)、美國(guó)INSTRON試驗(yàn)機(jī)、德國(guó)Leica材料顯微鏡、德國(guó)ELTRA氣體分析儀、德國(guó)SPECTRUMA輝光光譜儀、美國(guó)Q-LAB耐候老化設(shè)備、美國(guó)TA熱分析儀等眾多品牌產(chǎn)品的代理商,并是其中多數(shù)品牌的區(qū)域或行業(yè)總代理。TOPS也是專業(yè)的材料檢測(cè)儀器集成商,有著超過(guò)二十年的專業(yè)材料檢測(cè)技術(shù)背境,可為金屬材料和高分子材料在化學(xué)性能、物理性能和耐候老化性能檢測(cè)上提供全套的檢測(cè)儀器和解決方案。公司還可以提相關(guān)配套檢測(cè)儀器和試樣加工設(shè)備,為客戶提供一站式的專業(yè)便捷服務(wù)。公司一直以專業(yè)的技術(shù)服務(wù)和優(yōu)質(zhì)的售后服務(wù)為理念,并贏得了廣大客戶的信賴。TOPS期待與您共創(chuàng)實(shí)驗(yàn)室美好明天!
      輝光放電光譜儀
      Sigma 500 場(chǎng)發(fā)射掃描電子顯微鏡
      Sigma 500 場(chǎng)發(fā)射掃描電子顯微鏡 產(chǎn)品信息

      Sigma 500 場(chǎng)發(fā)射掃描電子顯微鏡

      用于高品質(zhì)成像與高級(jí)分析的場(chǎng)發(fā)射掃描電子顯微鏡

      靈活的探測(cè),4步工作流程,高級(jí)的分析性能

      將高級(jí)的分析性能與場(chǎng)發(fā)射掃描技術(shù)相結(jié)合,利用成熟的 Gemini 電子光學(xué)元件。多種探測(cè)器可選:用于顆粒、表面或者納米結(jié)構(gòu)成像。Sigma 半自動(dòng)的4步工作流程節(jié)省大量的時(shí)間:設(shè)置成像與分析步驟,提高效率。 Sigma 300 性價(jià)比高。Sigma 500 裝配有的背散射幾何探測(cè)器,可快速方便地實(shí)現(xiàn)基礎(chǔ)分析。任何時(shí)間,任何樣品均可獲得精準(zhǔn)可重復(fù)的分析結(jié)果。

      用于清晰成像的靈活探測(cè)

      • 利用*探測(cè)術(shù)為您的需求定制 Sigma,表征所有樣品。
      • 利用 in-lens 雙探測(cè)器獲取形貌和成份信息。
      • 利用新一代的二次探測(cè)器,獲取高達(dá)50%的信號(hào)圖像。在可變壓力模式下利用 Sigma 創(chuàng)新的 C2D 和 可變壓力探測(cè)器,在低真空環(huán)境下獲取高達(dá)85%對(duì)比度的銳利的圖像。
      纖維,在傷口護(hù)理中敷的抗菌藥

      自動(dòng)化加速工作流程

      • 4步工作流程讓您控制 Sigma 的所有功能。在多用戶環(huán)境中,從快速成像和節(jié)省培訓(xùn)首先,先對(duì)樣品進(jìn)行導(dǎo)航,然后設(shè)置成像條件。
      • 首先,先對(duì)樣品進(jìn)行導(dǎo)航,然后設(shè)置成像條件。
      • 接下來(lái)對(duì)樣品感興趣的區(qū)域進(jìn)行優(yōu)化并自動(dòng)采集圖像。最后使用工作流程的步,將結(jié)果可視化。
      Sigma 的 4 步工作流程節(jié)省大量的時(shí)間

      高級(jí)分析型顯微鏡

      • 將掃描電子顯微鏡與基本分析相結(jié)合:Sigma 的背散射幾何探測(cè)器大大提升了分析性能,特別是對(duì)電子束敏感的樣品。
      • 在一半的檢測(cè)束流和兩倍的速度條件下獲取分析數(shù)據(jù)。
      • 獲益于8.5 mm 短的分析工作距離和35°夾角,獲取完整且無(wú)陰影的分析結(jié)果。
      使用頂級(jí)的 EDS 幾何探測(cè)器加速 X 射線分析

      基于成熟的 Gemini 技術(shù)

      • Gemini 鏡頭的設(shè)計(jì)結(jié)合考慮了電場(chǎng)與磁場(chǎng)對(duì)光學(xué)性能的影響,并將場(chǎng)對(duì)樣品的影響降至更低。這使得即使對(duì)磁性樣品成像也能獲得出色的效果。
      • Gemini in-lens 的探測(cè)確保了信號(hào)探測(cè)的效率,通過(guò)二次檢測(cè)(SE)和背散射(BSE)元件同時(shí)減少成像時(shí)間。
      • Gemini 電子束加速器技術(shù)確保了小的探測(cè)器尺寸和高的信噪比。
      Gemini 鏡筒的橫截面示意圖  

      用于清晰成像的靈活探測(cè)

      • 利用新的探測(cè)技術(shù)表征所有的樣品。
      • 在高真空模式下利用創(chuàng)新的 ETSE 和 in-lens 探測(cè)器獲取形貌和高分辨率的信息。
      • 在可變壓力模式下利用可變壓力二次電子和 C2D 探測(cè)器獲取銳利的圖像。
      • 利用 aSTEM 探測(cè)器生成高分率透射圖像。
      • 利用 BSD 或者 YAG 探測(cè)器進(jìn)行成份分析。
      Gemini 鏡筒和探測(cè)器的橫截面示意圖

      配件

      SmartEDX
      為您帶來(lái)一體化能譜分析解決方案
      如果單采用SEM成像技術(shù)無(wú)法全面了解部件或樣品,研究人員就需要在SEM中采用能譜儀(EDS)來(lái)進(jìn)行顯微分析。通過(guò)針對(duì)低電壓應(yīng)用而優(yōu)化的能譜解決方案,您可以獲得元素化學(xué)成分的空間分布信息。得益于:
      • 優(yōu)化了常規(guī)的顯微分析應(yīng)用,并且由于氮化硅窗口優(yōu)秀的透過(guò)率,可以探測(cè)輕元素的低能X射線。
      • 工作流程引導(dǎo)的圖形用戶界面極大地改善了易用性,以及多用戶環(huán)境中的重復(fù)性。
      • 完整的服務(wù)和系統(tǒng)支持,由蔡司工程師為您的安裝、預(yù)防性維護(hù)及保修提供一站式服務(wù)。
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