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相關(guān)設(shè)備顎式破碎機(jī)

零位穩(wěn)定：
所有涂層測(cè)厚儀測(cè)量前都要求校準(zhǔn)零位，可以在隨儀器的校零板或未涂覆的工件上校零。儀器零位的穩(wěn)定是保證測(cè)量準(zhǔn)確的前提。一臺(tái)好的測(cè)厚儀校零后，可以長(zhǎng)時(shí)間保持零位不漂移，確保準(zhǔn)確測(cè)量。

無(wú)需校準(zhǔn)：
多數(shù)測(cè)厚儀除了校零外，還需要用標(biāo)準(zhǔn)片進(jìn)行調(diào)校。測(cè)量某一范圍厚度，要用某一范圍的標(biāo)準(zhǔn)片調(diào)校。主要是不能滿(mǎn)足全范圍內(nèi)的線(xiàn)性精度。不僅操作煩瑣，而且也會(huì)因標(biāo)準(zhǔn)片表面粗糙失效，增大系統(tǒng)誤差。

溫度補(bǔ)償：
涂覆層厚度的測(cè)量受溫度影響非常大。同一工件在不同溫度下測(cè)量會(huì)得出很大的誤差。所以好的測(cè)厚儀應(yīng)該具備理想的溫度補(bǔ)償技術(shù)，以保證不同溫度下的測(cè)量精度。

用途：
該產(chǎn)品測(cè)量鋼鐵等磁性金屬基體上的非磁性涂層、鍍層、氧化層，如油漆、粉末、塑料、橡膠、鋅、鉻、鋁、錫等。

參數(shù)：
■用于QNIX4200涂鍍層測(cè)厚儀型。
■測(cè)量范圍: 0-3000um。
■測(cè)量精度:0-50um≤±1um,50-1000um≤±1.5/100,1000-3000um≤±2/100。
■小測(cè)量面積: 10x10mm。
■小曲率: 凸半徑 5mm。
■凹半徑 25mm。
■小基材厚度:0.2mm。
■溫度范圍: 0-60度。
■顯示: LCD。
■供電形式: 2個(gè)1.5V電池。
■體積: 100X60X27mm。
■重量: 約110克。

紅寶石探頭：
探頭接觸點(diǎn)的耐磨性直接影響測(cè)量的精度。普通金屬接觸探頭，其表面磨損后會(huì)帶來(lái)很大的誤差。

采樣技術(shù)：
使得測(cè)量重復(fù)性較傳統(tǒng)交流技術(shù)有的*和提高。