儀器名稱: | 場發(fā)射超高分辨率掃描電鏡(FESEM) | 型號(hào): | SEM(Tescan mira3 Zeiss sigma500) EDS(OxfordX-MAX) |
檢測項(xiàng)目: | 表面形貌觀察(磁性、非磁樣品、生物樣均可), EDS能譜(點(diǎn)掃、線掃、面掃),elements Mapping,EBSD | ||
應(yīng)用范圍: | 固體樣品的微觀形貌、結(jié)構(gòu),樣品的微區(qū)元素成分、線分布、面分布,廣泛應(yīng)用于納米技術(shù)、材料、物理、化學(xué)、環(huán)境科學(xué)等領(lǐng)域。 塊體、粉末、磁性、生物樣品都適用。 適合導(dǎo)電性不佳的樣品形貌觀察。 | ||
制樣要求: | 樣品尺寸要求:塊狀樣和生物樣,直徑小于26mm,高度小于15mm(樣品中不得含有水分) 粉末樣>0.02g 生物樣品需要提前制好樣,否則不予測試。 |
PS:送樣請附帶“委托測試單”。SEM測試要求模板(附件)
測試提示:
1.可開正規(guī)測試發(fā)票,附帶測試清單。
2.有腐蝕性,毒性,或其他有危害性等特殊樣品要事先告知測試人員,測試人員也要告知樣品方哪些樣品不能測或會(huì)對儀器產(chǎn)生損傷,測試后會(huì)對樣品產(chǎn)生哪些變化;
3.客戶需提供詳細(xì)的樣品資料,包括元素,主要成分和詳細(xì)測試參數(shù)及條件。和測試人員充分討論,商定最終測試條件;
4.測試人員與顧客通過或郵件溝通,出現(xiàn)測試糾紛,郵件或記錄將作為重要的仲裁依據(jù);請加和技術(shù)人員交流:。
5.杜絕測試、解析和合成違反國家相關(guān)法律法規(guī)的樣品,一經(jīng)發(fā)現(xiàn)將追究其法律責(zé)任。