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      EVO 掃描電子顯微鏡

      參考價(jià)面議
      具體成交價(jià)以合同協(xié)議為準(zhǔn)
      • 公司名稱(chēng)鈦洛科學(xué)器材(上海)有限公司
      • 品       牌
      • 型       號(hào)
      • 所  在  地
      • 廠商性質(zhì)其他
      • 更新時(shí)間2022/10/29 10:47:25
      • 訪問(wèn)次數(shù)148
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      鈦洛科學(xué)器材(上海)有限公司注冊(cè)地址位于上海市松江區(qū)松閔路258號(hào)6幢602A室,注冊(cè)機(jī)關(guān)為松江區(qū)市場(chǎng)監(jiān)管局,法人代表為王文瑩,經(jīng)營(yíng)范圍包括儀器儀表、實(shí)驗(yàn)室設(shè)備及耗材、機(jī)電設(shè)備、電子產(chǎn)品、計(jì)算機(jī)、軟件及輔助設(shè)備、通訊設(shè)備、教學(xué)儀器與設(shè)備的銷(xiāo)售;儀器儀表、實(shí)驗(yàn)室設(shè)備的研發(fā)及維修;設(shè)計(jì)、制作、發(fā)布各類(lèi)廣告,電子商務(wù)(不得從事增值電信、金融業(yè)務(wù))。 【依法須經(jīng)批準(zhǔn)的項(xiàng)目,經(jīng)相關(guān)部門(mén)批準(zhǔn)后方可開(kāi)展經(jīng)營(yíng)活動(dòng)】
      模塊化的 SEM 平臺(tái)適用于直觀操作、例行檢測(cè)和研究應(yīng)用
      EVO 掃描電子顯微鏡 產(chǎn)品信息
      • 產(chǎn)品詳細(xì)
      • 蔡司 EVO 系列

        模塊化的 SEM 平臺(tái)適用于直觀操作、例行檢測(cè)和研究應(yīng)用

        EVO系列將高性能的掃描電鏡和直觀的、友好的用戶界面體驗(yàn)結(jié)合在一起, 同時(shí)能夠吸引經(jīng)驗(yàn)豐富的用戶以及新用戶。無(wú)論是在生命科學(xué),材料科學(xué), 或例行的工業(yè)質(zhì)量保證和失效分析領(lǐng)域,憑借廣泛的可選配置, EVO 都可以根據(jù)您的要求量身定制。

        • 顯微鏡中心或工業(yè)質(zhì)量保證實(shí)驗(yàn)室的多功能解決方案

        • 不同的真空室大小和可滿足所有應(yīng)用要求的載物臺(tái)選項(xiàng)-甚至是大型工業(yè)零部件樣品

        • 使用LaB6燈絲,能夠得到優(yōu)異的圖像質(zhì)量

        • 對(duì)不導(dǎo)電和無(wú)導(dǎo)電涂層的樣品的成像和分析性能出色

        • 可以配置多種分析探測(cè)器用于滿足各種顯微分析應(yīng)用的需求

         

        優(yōu)勢(shì)

        便捷的可用性

        SmartSEM Touch可以通過(guò)使用您的指尖與其進(jìn)行交互式工作流程控制。它簡(jiǎn)單易學(xué),大大減少了培訓(xùn)所付出的努力和成本,甚至新用戶在幾分鐘內(nèi)也能夠捕捉令人驚嘆的圖像。此用戶界面還支持需要自動(dòng)化工作流程以執(zhí)行可重復(fù)檢查任務(wù)的工業(yè)操作員。


        優(yōu)異的圖像質(zhì)量

        EVO 擅長(zhǎng)于對(duì)未經(jīng)處理和沒(méi)有導(dǎo)電涂層的樣品獲取高質(zhì)量的數(shù)據(jù)。EVO 還允許樣品保留其原始狀態(tài), 維持含水和重污染樣品的數(shù)據(jù)質(zhì)量。此外當(dāng)成像和微量分析面臨挑戰(zhàn)時(shí),選用LaB6燈絲則能夠給予更好的分辨率、 對(duì)比度和信噪比。


        EVO 能夠與其它設(shè)備相關(guān)聯(lián)

        EVO可以作為半自動(dòng)、多模式工作流程的一部分,通過(guò)重新定位感興趣區(qū)域,并以多種方式收集數(shù)據(jù),形成信息的完整性。將光學(xué)和電子顯微鏡圖像合并起來(lái)進(jìn)行材料表征或零件檢驗(yàn),或者將 EVO 與蔡司光學(xué)顯微鏡相關(guān)聯(lián),進(jìn)行關(guān)聯(lián)顆粒度分析。

         

        適合更多用戶操作

        對(duì)于經(jīng)驗(yàn)豐富的以及新手用戶操作都很方便

        在實(shí)際的實(shí)驗(yàn)室環(huán)境中,SEM 的操作通常是顯微鏡專(zhuān)家的專(zhuān)屬領(lǐng)域。但是對(duì)于非專(zhuān)家級(jí)用戶來(lái)說(shuō),操作SEM就變得具有挑戰(zhàn),比如學(xué)生、受訓(xùn)者或質(zhì)量工程師,他們往往也需要從 SEM獲取數(shù)據(jù)。 EVO 則同時(shí)考慮了這兩類(lèi)用戶的需求,用戶界面選項(xiàng)既能滿足有經(jīng)驗(yàn)的顯微鏡專(zhuān)家也能滿足非專(zhuān)業(yè)用戶的操作需要。

        專(zhuān)家用戶

        優(yōu)選用戶界面: SmartSEM

        專(zhuān)家用戶可以獲取以及設(shè)定gao級(jí)的成像參數(shù)和分析功能。

         

        新手用戶

        優(yōu)選用戶界面: SmartSEM Touch

        新手用戶可以使用預(yù)定義的工作流程和常用的一些參數(shù)-非常適合初學(xué)者。

         

        智能導(dǎo)航與成像

        大大提高樣品的測(cè)試效率,以及更多的數(shù)據(jù)產(chǎn)出

        蔡司導(dǎo)航相機(jī)

        相機(jī)可以安裝在倉(cāng)室前方, 以監(jiān)測(cè)樣品與背散射探測(cè)器以及物鏡底端之間的相對(duì)位置(倉(cāng)室相機(jī));或安裝在真空室倉(cāng)門(mén)上方 (導(dǎo)航相機(jī)),利用俯視圖查看樣品臺(tái)上樣品的擺放位置。此視圖可用于設(shè)置從光學(xué)顯微鏡圖像中識(shí)別出的預(yù)定義位置, 并在整個(gè)樣品測(cè)試過(guò)程中輕松導(dǎo)航。


        自動(dòng)化智能成像

        EVO實(shí)現(xiàn)了對(duì)樣品批量自動(dòng)、無(wú)人值守的圖像采集。蔡司自動(dòng)化智能成像非常適合例行檢測(cè)。它使用戶能夠自定義邊界區(qū)域,自動(dòng)生成所需的視圖或放大倍數(shù)確定的感興趣區(qū)域,并開(kāi)始自動(dòng)獲取圖像。自動(dòng)化智能成像將大大提高樣品的測(cè)試效率,以及更多的數(shù)據(jù)產(chǎn)出。

         

        將您的研究提升一個(gè)層次

        使用六硼化鑭電子發(fā)射器能夠獲得更好的圖像

        六硼化鑭陰極相較于傳統(tǒng)的鎢發(fā)夾燈絲所發(fā)射的電子能夠保證您額外所需要的圖像質(zhì)量。這種優(yōu)勢(shì)體現(xiàn)在以下兩個(gè)方面:

        • 在相等電子探針尺寸 (即分辨率) 下,有更多探針電流可供使用, 從而使圖像導(dǎo)航和優(yōu)化更容易

        • 在相等的探針電流 (信噪比) 下,光斑直徑要小得多, 從而提高了圖像分辨率

         

        EVO 能夠與其它設(shè)備相關(guān)聯(lián)

        工作流程自動(dòng)化和關(guān)聯(lián)顯微鏡的好處

        由于蔡司是各種類(lèi)型顯微鏡和計(jì)量系統(tǒng)的供應(yīng)商, 所以您還可以將EVO 與蔡司其它解決方案相結(jié)合,使其功能能夠發(fā)揮得更好。

        通過(guò)使用Shuttle & Find(蔡司關(guān)聯(lián)顯微鏡的軟硬件部分),您可以在(數(shù)碼)光學(xué)顯微鏡和 EVO 之間建立一個(gè)高效的多模式聯(lián)用的工作流程。將光學(xué)顯微鏡的光學(xué)對(duì)比方法與同樣的掃描電鏡成像和分析方法相結(jié)合,獲得互補(bǔ)的數(shù)據(jù), 從而更清楚地去了解樣品的材料、質(zhì)量或失效機(jī)理。

          

        蔡司 SmartEDX

        用于常規(guī)SEM顯微分析應(yīng)用的一體化EDS解決方案

        如果單采用SEM成像技術(shù)無(wú)法全面了解部件或樣品,研究人員就會(huì)借助能譜儀(EDS)來(lái)采集元素化學(xué)成份的空間分布信息。

        針對(duì)常規(guī)顯微分析應(yīng)用進(jìn)行了優(yōu)化

         

        SEM和EDS的搭配使用必須經(jīng)過(guò)謹(jǐn)慎細(xì)致的考量。EVO上的SmartEDX非常適用于常規(guī)顯微分析應(yīng)用,尤其對(duì)于數(shù)據(jù)重復(fù)性要求高的客戶而言更是理想的選擇。它在129 eV能量分辨率和1-5 nA探頭電流(典型的EVO工作條件)下具有很高的通量。得益于氮化硅窗口的優(yōu)異透過(guò)率, SmartEDX更適合于探測(cè)到來(lái)自輕元素的低能X射線。

         

        工作流程引導(dǎo)的圖形用戶界面

         

        SmartEDX旨在提高多用戶環(huán)境中的易用性和工作流程重復(fù)性。與其他蔡司工作流程引導(dǎo)的軟件解決方案(如:SmartSEM Touch,ZEN core或EVO 的Shuttle&Find)一樣,SmartEDX軟件易于學(xué)習(xí),使用直觀,并有助于確保在SEM上執(zhí)行分析任務(wù)的重復(fù)性,尤其是在多個(gè)操作者使用該系統(tǒng)的環(huán)境中。

         

        的蔡司服務(wù)和系統(tǒng)支持

        SmartEDX由蔡司提供支持,因此該EDS解決方案非常適合那些希望精簡(jiǎn)分析設(shè)備供應(yīng)商數(shù)量的客戶。所有安裝、預(yù)防性維護(hù)、保修、診斷和維修、備件物流以及整個(gè)系統(tǒng)服務(wù)合同中的內(nèi)容均由蔡司全面負(fù)責(zé),為您的SEM分析解決方案提供一站式的的支持。

         

        EVO 系列真空室尺寸選擇


        蔡司EVO 10

        蔡司EVO 15

        蔡司EVO 25


         

        選擇 EVO 10(可選配BSD和EDS)是您想以一個(gè)非常實(shí)惠的價(jià)格購(gòu)買(mǎi)掃描電子顯微鏡的切入點(diǎn)。即使這個(gè)EVO真空室很小,它也不同于臺(tái)式電鏡。您現(xiàn)在在 EVO 的投資保證了您已經(jīng)為將來(lái)需要更多空間和端口的應(yīng)用做好了準(zhǔn)備。

         

        EVO 15 充分展示了 EVO 家族的靈活性概念,  并擅長(zhǎng)于分析應(yīng)用。選擇 EVO 15 更大的真空室, 并增加對(duì)不導(dǎo)電樣品或零件的成像和分析的可變壓力模式,  你將有一個(gè)多功能多用途的顯微鏡設(shè)備或者工業(yè)質(zhì)量保證實(shí)驗(yàn)室的解決方案。

        EVO25 是工業(yè)的主力解決方案, 它有足夠的空間以容納甚至更大的部件和組件??蛇x的 80 mm Z 軸行程載物臺(tái)可進(jìn)一步擴(kuò)展 EVO 25的功能, 它可以處理重量高達(dá)2公斤的樣品甚至傾斜。此外, 大的真空室將能夠容納多個(gè)分析檢測(cè)器以滿足苛刻的微量分析應(yīng)用需求。

        樣品高度

        100 mm

        145 mm

        210 mm

        樣品直徑

        230 mm

        250 mm

        300 mm

        電動(dòng)載物臺(tái)行程XYZ

         

        80 x 100 x 35 mm

         

        125 x 125 x 50 mm

        130 x 130 x 50 (或  80) mm

        高真空模式 (HV) 
         導(dǎo)電樣品質(zhì)量的成像與分析

        可變壓力模式 (VP) 

        不導(dǎo)電且不噴涂導(dǎo)電層樣品的高質(zhì)量成像和分析

        擴(kuò)展壓力模式 (EP) 
         含水或被污染的樣品在其自然狀態(tài)下成像

         

        蔡司 EVO 應(yīng)用案例

        應(yīng)用實(shí)例

        生產(chǎn)與裝配企業(yè)

        • 質(zhì)量分析/質(zhì)量控制

        • 失效分析/金相分析

        • 清潔度檢查

        • 顆粒的形態(tài)和化學(xué)分析, 以滿足 ISO 16232 和 VDA 19 中1和2的標(biāo)準(zhǔn)

        • 非金屬夾雜物的分析

        電子半導(dǎo)體

        • 目視檢查電子元件、集成電路、MEMS 器件和太陽(yáng)能電池

        • 銅絲表面及晶體結(jié)構(gòu)的研究

        • 金屬腐蝕研究     

        • 斷面失效分析

        • Wire bonding線腳檢查

        • 電容表面成像


        鋼鐵和其它金屬

        • 對(duì)金屬樣品和夾雜物的結(jié)構(gòu)、化學(xué)和結(jié)晶學(xué)進(jìn)行成像和分析

        • 相、顆粒、焊縫和失效分析


        原材料

        • 地質(zhì)樣品的形態(tài)、礦物學(xué)和成分分析

        • 對(duì)金屬、斷裂和非金屬夾雜物的結(jié)構(gòu)進(jìn)行成像和分析

        • 微粉化和造粒過(guò)程中原料化學(xué)成分和活性成份的形態(tài)和成分分析


        材料科學(xué)研究

        • 用于研究導(dǎo)電和不導(dǎo)電材料樣品的特征


        生命科學(xué)

        • 對(duì)植物、動(dòng)物和微生物的研究


        司法鑒定

        • 槍擊殘留物(GSR)

        • 油漆和玻璃分析

        • 和硬幣偽造

        • 頭發(fā)和纖維比較

        • 法醫(yī)毒理學(xué)

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