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      鎢燈絲掃描電子顯微鏡EVO 15

      參考價(jià)面議
      具體成交價(jià)以合同協(xié)議為準(zhǔn)
      • 公司名稱(chēng)上海洛豐精密檢測(cè)儀器有限公司
      • 品       牌
      • 型       號(hào)EV015
      • 所  在  地上海市
      • 廠商性質(zhì)其他
      • 更新時(shí)間2022/10/27 12:18:37
      • 訪問(wèn)次數(shù)197
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      上海洛豐精密檢測(cè)儀器有限公司自2013年成立以來(lái),通過(guò)與世界各儀器(如德國(guó)ZEISS,美國(guó)ZYGO干涉儀,美國(guó)菲思圖硬度計(jì),三豐量具量?jī)x,英國(guó)泰勒檢測(cè)儀,德國(guó)菲希爾測(cè)厚儀等)公司的良好合作,以及自身良好的經(jīng)營(yíng)理念,服務(wù)質(zhì)量,已成為國(guó)內(nèi)優(yōu)質(zhì)的檢測(cè)儀器供應(yīng)商.我們秉承為客戶(hù)提供良好檢測(cè)儀器的宗旨,已經(jīng)為中船重工,航空航天,高校(東南大學(xué)、浙江工業(yè)大學(xué)、南京理工大學(xué)等),研究所(上海615研究所、上海811研究所、中航614所等)外企(德?tīng)柛?、輝門(mén)、西門(mén)子、博世等)及民營(yíng)企業(yè)(華為、瑞聲集團(tuán)、立訊集團(tuán)、水晶光電等)提供了大量高附加值的精密檢測(cè)儀器及*的檢測(cè)方案.公司擁有一支專(zhuān)業(yè)的銷(xiāo)售及服務(wù)團(tuán)隊(duì),可以為不同客戶(hù)提供各類(lèi)精密檢測(cè)產(chǎn)品的技術(shù)咨詢(xún),設(shè)備改造,維修維護(hù),培訓(xùn)校準(zhǔn)等技術(shù)服務(wù).洛豐始終以"客戶(hù)至上,誠(chéng)信為本"的企業(yè)精神,愿意與各行各業(yè)的用戶(hù)進(jìn)行廣泛的交流與合作,共同進(jìn)步,共同發(fā)展。
      蔡司鎢燈絲掃描電鏡EVO MA 15的問(wèn)世,將鎢燈絲掃描電鏡的發(fā)展帶入了全新的時(shí)代,超大樣品室為各類(lèi)繁雜的樣品以及繁重的工作提供了輕松的解決方案,自動(dòng)化的5軸樣品臺(tái)和大的X、Y、Z軸跟蹤掃描以及可變壓力的檢測(cè)模式使得EVO MA 15能夠廣泛適用于各類(lèi)樣品的檢測(cè)工作,EVO MA 15作為一款研究級(jí)掃描電鏡能夠?yàn)槟峁┝己玫囊曈X(jué)圖像和廣泛的應(yīng)用領(lǐng)域。
      鎢燈絲掃描電子顯微鏡EVO 15 產(chǎn)品信息

      主要特點(diǎn):

      能在可變壓力下操作 
      *X射線(xiàn)和EBSD分析 
      可移動(dòng)大平臺(tái) 
      快抽真空 
      可升級(jí)在高壓和水蒸氣下成像和分析 
      高亮度LaB6資源選擇 
      光線(xiàn)套選擇

      技術(shù)參數(shù):

      分辨率:  3.0nm@ 30KV(SE and W)   4.0nm@ 30KV(VP with BSD)
      加速電壓 0.2—30KV 
      放大倍數(shù) 5—1000000x
      探針電流 0.5PA-5μA
      X-射線(xiàn)分析工作距離 8.5mm    35度接收角 
      低真空壓力范圍 10—400Pa (LS15:環(huán)掃模式10-3000Pa)
      工作室 365mm(φ)×275mm(h)
      5軸優(yōu)中心自動(dòng)樣品臺(tái) X=125mm  Y=125mm  Z=50mm  T=-10°- 90°R=360°
      較大試樣高度 145mm
      大試樣直徑 250mm 
      系統(tǒng)控制 基于Windows 7 的SmartSEM操作系統(tǒng)
      存儲(chǔ)分辨率 32,000 x 24,000 pixels

      產(chǎn)品應(yīng)用

      掃描電鏡(SEM)廣泛地應(yīng)用于金屬材料(鋼鐵、冶金、有色、機(jī)械加工)和非金屬材料(化學(xué)、化工、石油、地質(zhì)礦物學(xué)、橡膠、紡織、水泥、玻璃纖維)等檢驗(yàn)和研究。在材料科學(xué)研究、金屬材料、陶瓷材料、半導(dǎo)體材料、化學(xué)材料等領(lǐng)域進(jìn)行材料的微觀形貌、組織、成分分析,各種材料的形貌組織觀察,材料斷口分析和失效分析,材料實(shí)時(shí)微區(qū)成分分析,元素定量、定性成分分析,快速的多元素面掃描和線(xiàn)掃描分布測(cè)量,晶體、晶粒的相鑒定,晶粒尺寸、形狀分析,晶體、晶粒取向測(cè)量。

       
      關(guān)鍵詞:操作系統(tǒng)
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