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      FEI “Q系列”掃描電子顯微鏡

      參考價(jià)面議
      具體成交價(jià)以合同協(xié)議為準(zhǔn)
      • 公司名稱蘇州佐藤精密儀器有限公司
      • 品       牌
      • 型       號(hào)
      • 所  在  地
      • 廠商性質(zhì)其他
      • 更新時(shí)間2022/10/13 10:02:39
      • 訪問(wèn)次數(shù)263
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      蘇州佐藤精密儀器有限公司SuzhouSatoPrecisionInstrumentCo.,Ltd.蘇州佐藤精密儀器有限公司成立于2008年,注冊(cè)資金2800萬(wàn),是一家專業(yè)為實(shí)驗(yàn)室提供整體解決方案的銷售與服務(wù)公司,主要致力于為客戶提供實(shí)驗(yàn)室各種基礎(chǔ)設(shè)備以及大型色譜、質(zhì)譜分析儀器等。產(chǎn)品廣泛應(yīng)用于石油化工、生物技術(shù)、環(huán)境、以及政府單位和高??蒲性核阮I(lǐng)。公司多年發(fā)展具有一批受過(guò)專業(yè)培訓(xùn)、富有經(jīng)驗(yàn)的工程技術(shù)人員,承擔(dān)項(xiàng)目的咨詢、設(shè)計(jì),有關(guān)儀器設(shè)備的安裝、調(diào)試以及工程集成工作。公司本著服務(wù)于客戶的理念,為客戶提供的維修、培訓(xùn)、安裝、3Q認(rèn)證等一站式服務(wù),得到客戶的和認(rèn)可。隨著用戶群的不斷壯大,我們將通過(guò)定期回訪客戶,發(fā)放儀器使用資料及說(shuō)明等方式提供更加完善的售后服務(wù)。我們時(shí)刻與廠家保持著密切的聯(lián)系,不僅擁有產(chǎn)品在商務(wù)和技術(shù)方面的強(qiáng)有力的支持,更可保證銷售與技術(shù)服務(wù)人員定期的全面產(chǎn)品和技術(shù)培訓(xùn)。同時(shí),為了保證這種專業(yè)服務(wù)的整體質(zhì)量與效率,我們努力建立多層次的客戶意見(jiàn)與售后服務(wù)情況反饋渠道,并定期召開(kāi)會(huì)議檢討工作。公司的宗旨:以我們專業(yè)的服務(wù),將國(guó)內(nèi)外的儀器介紹給你,為你打造輕松、便捷、快速的實(shí)驗(yàn)環(huán)境。我們以科技力量為依托,以市場(chǎng)為導(dǎo)向,不斷的引進(jìn)新產(chǎn)品,更好的為廣大客戶提供滿意的服務(wù)。
      FEI “Q系列”掃描電子顯微鏡
      FEI “Q系列”掃描電子顯微鏡 產(chǎn)品信息

      產(chǎn)品簡(jiǎn)介

      對(duì)于失效分析、質(zhì)量控制和材料表征而言、Q25是、的高分辨成像和分析應(yīng)用的解決方案。在設(shè)計(jì)上側(cè)重易用性、Q25可以讓用戶迅速得到他們所需的數(shù)據(jù)。 

      為應(yīng)對(duì)不導(dǎo)電樣品、Q25提供了低真空模式下的高性能、消除了對(duì)專用的樣品制備步驟或者附加的樣品鍍膜儀的需求。Q25樣品室的設(shè)計(jì)和真空系統(tǒng)能夠快速更換樣品、允許日常高效、快速檢測(cè)樣品。 

      為滿足客戶對(duì)大樣品或塊狀樣品的要求、Q45提供了更大的真空樣品室和100mm的樣品臺(tái)行程。另外、Q45加上了環(huán)境掃描(ESEM)模式、擴(kuò)展了SEM的成像和分析功能到加熱、含水或放氣的樣品。

      ? 簡(jiǎn)單易用,即使是新手利用直觀的軟件可實(shí)現(xiàn)高效操作。 
      ? 利用穩(wěn)定的高束流(上至2 μA)電子束可以迅速獲得精確的分析結(jié)果。 
      ?快速輕松表征導(dǎo)電和非導(dǎo)電樣品 
      ? 支持可選的分析功能。利用的多級(jí)穿過(guò)透鏡的真空系統(tǒng)在高真空和低真空下使導(dǎo)電樣品和不導(dǎo)電樣品的精確EDS分析成為可能。 
      ? Q45 SEM: 采用為ESEM選配的帕爾貼冷臺(tái)可在樣品的自然含水狀態(tài)下完成樣品的動(dòng)態(tài)原位分析。


      分辨率 加速
      電壓
      探針電流 樣品臺(tái) 放大率 試件室尺寸
      Q25 SEM

      High vacuum 

      • 3.0 nm at 30 kV (SE)

      • 4.0 nm at 30 kV (BSE)*

      • 8.0 nm at 3 kV (SE)

      Low vacuum

      • 3.0 nm at 30 kV (SE)

      • 4.0 nm at 30k V (BSE)*

      • 10 nm at 3 kV (SE)

      *optional

      200 V - 30 kV up to 2 μA, continuously adjusted 13 to 1000000x 284 mm size left to right
      Q45 SEM

      High vacuum 

      • 3.0 nm at 30 kV (SE)

      • 4.0 nm at 30 kV (BSE)*

      • 8.0 nm at 3 kV (SE)

      High vacuum with beam deceleration option 7.0 nm at 3 kV(BD mode* + vCD*) 

      Low vacuum

      • 3.0 nm at 30 kV (SE)

      • 4.0 nm at 30k V (BSE)*

      • 10 nm at 3 kV (SE)

      Extended vacuum mode (ESEM)
      3.0 nm at 30 kV (SE) 

      *optional

      200 V - 30 kV up to 2 μA, continuously adjusted 6 to 1000000x 284 mm size left to right
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