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      德國Fischer XAN220/222 X射線熒光測厚儀

      參考價面議
      具體成交價以合同協(xié)議為準(zhǔn)
      • 公司名稱篤摯儀器(上海)有限公司
      • 品       牌
      • 型       號XAN220/222
      • 所  在  地上海市
      • 廠商性質(zhì)其他
      • 更新時間2022/10/12 15:50:18
      • 訪問次數(shù)156
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      篤摯儀器(上海)有限公司以“優(yōu)質(zhì)成就價值——Focus On Better Quality”為宗旨,專注于計量檢測和材料分析設(shè)備的研究、引進(jìn)與推廣,公司以深厚的工程技術(shù)背景和高效率的資源整合幫助企業(yè)在原始設(shè)計、開發(fā)周期、產(chǎn)品質(zhì)量、在役檢測等各方面顯著提升效率和可靠性。篤摯儀器(上海)有限公司擁有源自美國、英國、德國等多地區(qū)的合作伙伴,憑借種類齊全的產(chǎn)品資源和服務(wù),涵蓋光學(xué)儀器、測量儀器、無損檢測、實驗儀器、分析儀器、量具量儀等各類檢測設(shè)備,努力為客戶解決日新月異的測量分析技術(shù)挑戰(zhàn),共同提供定制化精密測量和性能分析系統(tǒng)解決方案,有效推動企業(yè)實現(xiàn)既定目標(biāo)。篤摯儀器(上海)有限公司的產(chǎn)品和系統(tǒng)方案廣泛應(yīng)用于大中型國有企業(yè)、汽車制造業(yè)、精密機(jī)械、模具加工、電子電力、鑄造冶金、航空航天、工程建筑、大專院校等研究實驗室和生產(chǎn)線、質(zhì)量控制和教育事業(yè),用于評價材料、部件及結(jié)構(gòu)的幾何特征和理化性能,推動著*制造技術(shù)的精益求精。
      X射線熒光測量儀用于金銀合金快速無損分析及鍍層厚度測量,菲希爾FISCHERSCOPE X-RAY XAN 220是一種優(yōu)化的X射線熒光測量儀器,用于珠寶、硬幣和貴金屬的無損分析。它特別適合分析貴金屬及其合金的成分和涂層厚度
      德國Fischer XAN220/222 X射線熒光測厚儀 產(chǎn)品信息

      產(chǎn)品描述


      FISCHERSCOPE® X-RAY XAN® 220/222,X射線熒光測量儀,用于快速、無損分析黃金和銀合金

      X射線熒光測量儀用于金銀合金快速無損分析及鍍層厚度測量,菲希爾FISCHERSCOPE X-RAY XAN 220是一種優(yōu)化的X射線熒光測量儀器,用于珠寶、硬幣和貴金屬的無損分析。它特別適合分析貴金屬及其合金的成分和涂層厚度。在氯(17)到鈾(92)范圍內(nèi)可同時測定多達(dá)24種元素。FISCHERSCOPE X-RAY XAN 220和XAN 222符合DIN ISO 3497和ASTM B568。我公司還經(jīng)營世界的進(jìn)口全新設(shè)備如:英國泰勒霍普森 (Taylor Hobson)、捷克吉爾斯派克 (gearSpect Group)、德國菲希爾 (Helmut Fischer)、德國EPK、荷蘭InnovaTest、瑞士TRIMOS、美國奧林巴斯( Olympus)、美國雷泰( Raytek)等世界廠家生產(chǎn)的粗糙度儀、圓柱齒輪測量儀、涂鍍層測厚儀、各種硬度計、測高儀、超聲波探傷儀、DO-2 K PC錐齒輪單面嚙合測量儀等。歡迎在線留言或??!


      產(chǎn)品特點:

           ? 菲希爾XAN220型X射線金屬材料分析儀為無損分析珠寶、錢幣和貴金屬特別優(yōu)化設(shè)計;
           ? 配備固定的準(zhǔn)直器和基本慮片,特別適用于貴金屬分析
           ? 配備高分辨率硅漂移探測器 (SDD),適用于更復(fù)雜的多元素分析


           ? 由下至上的測量方向,可以*簡便地實現(xiàn)樣品定位


      典型應(yīng)用領(lǐng)域包括:

           ? 珠寶、貴金屬和牙科合金
           ? 黃白色黃金
           ? 鉑和銀
           ? 銠
           ? 合金和涂層分析
           ? 多層涂層分析



      所有菲希爾X射線系統(tǒng)的特點是具有出色的精度和長期穩(wěn)定性。重新校準(zhǔn)的必要性大大降低,節(jié)省了時間和精力?,F(xiàn)代硅漂移探測器實現(xiàn)了高精度和良好的檢測靈敏度。菲希爾的基本參數(shù)法允許在不進(jìn)行校準(zhǔn)的情況下分析固體和液體樣品以及涂層系統(tǒng)。Xan220是一款用戶友好的臺式儀器。樣品定位快速方便。X射線源和半導(dǎo)體探測器組件位于儀器的下部,因此測量方向從樣品下方開始,樣品由透明窗口支撐。

      預(yù)期用途 能量色散X射線測量儀(ED XRF)用于分析貴金屬及其合金的成分和涂層厚度。
      元素范圍 硫S(16)至鈾U(92)–同時多達(dá)24種元素
      重復(fù)性 對于金≤0.5‰,測量時間60秒
      設(shè) 臺式單元,帶有向上打開的罩
      量方向
      自下而上
      X射線管
      帶鈹窗的微焦點鎢管
      高電壓
      3 steps:30 kV,40 kV,50 kV;*大陽極電流:1 mA
      光圈(準(zhǔn)直儀
      ? 1 mm (39 mils), 可選? 2 mm (79 mils) or ? 0.6 mm (23.6 mils)
      測量點
      ? 1.2 mm (47 mils) with aperture ? 1 mm (39 mils)平放樣品(測量距離0毫米)



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