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      高分辨率雙晶X射線衍射儀

      參考價(jià)面議
      具體成交價(jià)以合同協(xié)議為準(zhǔn)
      • 公司名稱英國(guó)馬爾文儀器有限公司
      • 品       牌
      • 型       號(hào)
      • 所  在  地
      • 廠商性質(zhì)其他
      • 更新時(shí)間2022/10/9 9:44:49
      • 訪問(wèn)次數(shù)244
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      各個(gè)行業(yè)和組織的科學(xué)家和工程師將 Malvern Panalytical 的技術(shù)用來(lái)解決一系列難題,如地提高生產(chǎn)率、開(kāi)發(fā)更高質(zhì)量的產(chǎn)品及幫助產(chǎn)品更快速地上市。 我們的重中之重是通過(guò)對(duì)材料進(jìn)行化學(xué)、物理和結(jié)構(gòu)分析,打造出客戶導(dǎo)向型創(chuàng)新解決方案和服務(wù),從而提高效率和產(chǎn)生切實(shí)的經(jīng)濟(jì)影響。 憑借廣泛的行業(yè)知識(shí)和技術(shù)及應(yīng)用專業(yè)技術(shù),Malvern Panalytical 儀器旨在幫助用戶更好地了解各種各樣的材料,從蛋白質(zhì)和聚合物、顆粒和納米顆粒懸浮液和乳狀液,再到噴霧劑和氣霧劑、工業(yè)散裝粉末、礦物和高濃度漿類樣品及固體,例如金屬和建筑材料、塑料和聚合物。 使用我們的技術(shù)可以測(cè)量顆粒粒度、形狀和濃度、化學(xué)名稱、Zeta 電位、蛋白質(zhì)電荷、分子量、質(zhì)量和構(gòu)象、分子間相互作用和穩(wěn)定性、流變性、元素濃度、晶體結(jié)構(gòu)等參數(shù)。 這些特性的高可靠性和耐用性對(duì)于預(yù)測(cè)產(chǎn)品在使用過(guò)程中的表現(xiàn)、優(yōu)化其性能,從而實(shí)現(xiàn)制造至關(guān)重要。Malvern Instruments Limited 和 PANalytical B.V. 宣布合并,新公司名為 Malvern Panalytical,總部位于阿爾默洛(荷蘭)和馬爾文(英國(guó)),擁有 2,000 多名員工。 合并后的公司將成為材料表征市場(chǎng)上強(qiáng)有力的競(jìng)爭(zhēng)者和創(chuàng)新者,并且將充分利用兩家公司各自在建筑材料、制藥、金屬、礦業(yè)及納米材料等終端市場(chǎng)中的優(yōu)勢(shì)。 遍布的應(yīng)用實(shí)驗(yàn)室以及受強(qiáng)大分銷商網(wǎng)絡(luò)支持的銷售和服務(wù)網(wǎng)絡(luò)將確保提供的客戶支持水平。Malvern Panalytical 隸屬于制造提高生產(chǎn)率的儀器和控制設(shè)備的思百吉集團(tuán)。
      帕納科高分辨率x射線衍射儀:高級(jí)材料科學(xué)和納米技術(shù),半導(dǎo)體材料研究和生產(chǎn)質(zhì)量控制,可以適用各種應(yīng)用,尤其適合薄膜分析,例如: 搖擺曲線分析和倒易空間Mapping, 反射率和薄膜相分析,殘余應(yīng)力和織構(gòu)分析, X'Pert PRO MRD/ XL 滿足半導(dǎo)體、LED、薄膜和高級(jí)工業(yè)材料的所有高分辨XRD分析需要。
      高分辨率雙晶X射線衍射儀 產(chǎn)品信息
      品牌PANALYTICAL/帕納科

      帕納科高分辨率x射線衍射儀儀器簡(jiǎn)介:

      X'Pert PRO MRD/XL是高級(jí)半導(dǎo)體材料的標(biāo)準(zhǔn)裝備,用于: 高級(jí)材料科學(xué)和納米技術(shù),半導(dǎo)體材料研究和生產(chǎn)質(zhì)量控制,可以適用各種應(yīng)用,尤其適合薄膜分析,例如: 搖擺曲線分析和倒易空間Mapping, 反射率和薄膜相分析,殘余應(yīng)力和織構(gòu)分析, X'Pert PRO MRD/ XL 滿足半導(dǎo)體、LED、薄膜和高級(jí)工業(yè)材料的所有高分辨XRD分析需要。XL可以滿足直徑達(dá) 300 mm的晶片分析,并有精密的自動(dòng)晶片裝載選擇;XL成為薄膜生產(chǎn)發(fā)展的*的分析手段,LED的業(yè)界標(biāo)準(zhǔn)。

      帕納科高分辨率x射線衍射儀可以適用各種應(yīng)用,尤其適合薄膜分析,例如:

      · 振動(dòng)曲線分析和交互空間圖
      · 反射儀和薄膜相分析
      · 殘余應(yīng)力和織構(gòu)分析

      帕納科高分辨率x射線衍射儀同已經(jīng)證明的標(biāo)準(zhǔn)版本系統(tǒng)一樣,還有許多專門(mén)的版本:

      · X'Pert PRO MRD平面衍射系統(tǒng),可以測(cè)量與樣品表面垂直的晶格衍射
      · X'Pert PRO Extended MRD 允許裝備 X射線鏡像和在線高分辨單色器,增強(qiáng)入射光束的強(qiáng)度。
      · X'Pert PRO MRD XL 滿足半導(dǎo)體,薄膜和高級(jí)工業(yè)材料的所有高分辨XRD分析需要。

      帕納科高分辨率x射線衍射儀技術(shù)參數(shù):
      1,功率:3kW
      2,測(cè)角儀重現(xiàn)性:0.0001度
      3,測(cè)角儀類型:T-2T
      4,五維樣品臺(tái)

      關(guān)鍵詞:x射線衍射儀 衍射儀
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