推拉力測試機(jī)是用于微電子封裝和PCBA電子組裝制造及其失效分析領(lǐng)域的專用動態(tài)測試儀器,具有測試動作迅速、準(zhǔn)確、適用面廣的特點(diǎn)。適用于半導(dǎo)體IC封裝測試、LED封裝測試、光電子器件封裝測試、TO封裝測試,IGBT功率模塊封裝測試,PCBA電子組裝測試、汽車電子、航天、JUN工等等。亦可用于各種電子分析及研究單位失效分析領(lǐng)域以及各類院校教學(xué)和研究。
測試參數(shù):
設(shè)備型號:LB-8600
外型尺寸:680*580*710(含左右搖桿)
設(shè)備重量:95KG
電源供應(yīng):110V/220V@4.0A 50/60HZ
壓縮空氣:4.5-6Bar
真空輸出:500mm Hg
控制電腦:聯(lián)想PC
軟件運(yùn)行:Windows7/Windows10
顯微鏡:標(biāo)配雙目連續(xù)變倍顯微鏡(選配三目顯微鏡)
傳感器更換方式:自動切換
平臺治具:360度旋轉(zhuǎn),平臺可共用各種測試治具
XY軸有效行程:100*100mm
Z軸有效行程:80mm
XY軸分辯率:±1um Z軸分辯率±1um
傳感器精度:傳感器精度±0.003%;綜合測試精度±0.25%