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赫爾納-供應(yīng)的瑞典直采Spectrogon光柵
赫爾納-供應(yīng)的瑞典直采Spectrogon光柵
赫爾納貿(mào)易優(yōu)勢供應(yīng),瑞典總部直接采購，近30年進口工業(yè)品經(jīng)驗,原裝產(chǎn)品,支持選型，為您提供一對一好的解決方案：貨期穩(wěn)定，快速報價，價格優(yōu)，在中國設(shè)有8大辦事處提供相關(guān)售后服務(wù).
Spectrogon濾光片主要產(chǎn)品：
1. 濾光片
2. 光學鍍膜
3. 全息光柵
4. 寬帶減反射窗
Spectrogon濾光片產(chǎn)品型號：
l ND-IR
l ND-UV-VIS
Spectrogon光柵產(chǎn)品特點：
長或范圍
平均 (TM+TE)/2 (-1) 是所需的偏振態(tài)和衍射級，應(yīng)針對光柵進行優(yōu)化。也可以 TM 和 TE
恒定偏差角 10° 是光柵應(yīng)該優(yōu)化的配置。也可以一個恒定的入射角 α°。
凹槽密度：Spectrogon 定期生產(chǎn) 600 凹槽/毫米至 3600 凹槽/毫米。
Spectrogon光柵產(chǎn)品應(yīng)用：
訂平面光柵時，請使用以下示例格式：
P 1200 W x H x Thk 700-900 nm (TM+TE)/2 (-1) 恒定偏差角 10°
P 表示 Plano，L 表示 Littrow 光柵（可選信息）
1200 為凹槽密度（凹槽頻率），單位為凹槽/mm
W 是與光柵槽平行的毛坯尺寸，單位為 mm
H 是垂直于光柵槽的毛坯尺寸，單位為 mm
Thk 是以 mm 為單位的坯料厚度
700-900 nm 是理想的優(yōu)化范圍。也可以具有峰值波長的特定波
Spectrogon光柵波長范圍從 UV 到大約 2000 nm
標準尺寸： 25 x 25 x 6 毫米、30 x 30 x 6 毫米、50 x 50 x 6 毫米、50 x 50 x 10 毫米、58 x 58 x 10 毫米、64 x 64 x 10 毫米、90 x 90 x 16 毫米、110 x 110 x 16 毫米、100 x 140 x 20 毫米、120 x 140 x 20 毫米
W、H、Dia 的標準公差：± 0.2 mm Thk ± 0.5 mm。CA > 每個維度的 90 %。
Spectrogon光柵平面型光柵是高分辨率光譜學和低雜散光水平非常重要的應(yīng)用的選擇。使用這些光柵，光譜線將更清晰，在波長上更準確，并且在吸收線的情況下，比市場上的其他光柵更深。
極低的雜散光
Spectrogon光柵采用兩束高度準直、干凈且均勻的光束進行全息記錄，產(chǎn)生筆直且等間距的凹槽。來自這些光柵的衍射光沒有鬼譜線。隨機散射的光與來自良好前表面鋁鏡的光一樣低。
優(yōu)化的效率 凹槽輪廓是對稱的正弦曲線，凹槽深度針對使用的光譜區(qū)域進行了優(yōu)化。為了獲得高效率，這些光柵優(yōu)選用于僅存在兩個衍射級（-1和0）的配置中，即優(yōu)選高凹槽頻率。在這種情況下，效率與刻劃閃耀光柵相當或更好。光柵表面上的凹槽深度變化非常小，對于非常高的凹槽頻率也是如此。這意味著您可以充分利用光柵表面，以獲得儀器的大通量。
Spectrogon光柵平坦的光柵表面、極直且等距的凹槽的組合提供了平坦的衍射波前，從而可以獲得大的波長分辨率。
Spectrogon光柵應(yīng)用
平面光柵旨在滿足尺寸、波長范圍、入射角和衍射角的規(guī)格，但不適用于光學系統(tǒng)的特定焦距。因此，只要前面提到的四個參數(shù)相同，就可以將相同的光柵用于不同的光學布置。
Spectrogon光柵光譜儀器
光譜儀器通常由入口狹縫、準直器、色散元件、聚焦光學器件和有時出口狹縫組成。進入入口狹縫的輻射由準直器收集，通常是凹面鏡。
色散元件，在這種情況下為光柵，使輻射偏向取決于波長的方向。分散的輻射聚焦在像平面上，在像平面上形成光譜（入口狹縫的一系列單色圖像）。
Spectrogon光柵單色
器 在單色器中有一個出口狹縫，它傳輸光譜的一個狹窄部分。入口和出口狹縫固定，通過旋轉(zhuǎn)光柵掃描光譜。因此，光柵以入射光和衍射光之間的恒定角度偏差工作。這適用于大多數(shù)類型的單色儀，例如 Czerny-Turner、Ebert 和 Littrow 類型。
Spectrogon光柵波長標尺
對于恒定偏差安裝和角度偏差，光柵方程可以寫成（假設(shè) -1 級衍射）：
sin(α + δ/2) = λ/(2dcos δ/2)
我們看到單色儀透射的波長與光柵旋轉(zhuǎn)角的正弦成正比。單色儀通常配備有利于波長讀取的正弦桿機構(gòu)。
Spectrogon光柵光通量
基于光柵的光譜儀器的通量取決于許多因素，例如光源的輻射率、光學系統(tǒng)的 F 數(shù)、入口狹縫的寬度和高度、儀器的光譜帶寬以及探測器的靈敏度。
