
Ø 用途:
采用線掃或者面陣檢測方案:印刷品、電子、元器件外觀檢測及測量,如完整性、缺陷、色差、尺寸偏差、破裂、劃痕等;零部件的正反判別、特征識別;手機蓋板、玻璃制品、光學鏡頭、陶瓷薄膜的瑕疵檢測,如裂痕、污點、刮傷等。
Ø 性能:
結(jié)合特征識別和深度學習算法采用大靶面面陣機或者線掃相機
速度小于200ms
檢測速度3600pcs/h
檢測精度小于20um/pixel
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